[实用新型]一种用于半导体器件的快速测试系统有效
| 申请号： | 201922490459.5 | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN213122183U | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | 陈心满;钟智坚;蒋治国 | 申请（专利权）人： | 华南师范大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 | 代理人： | 张芬 |
| 地址： | 510631 广东省广州市天*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于半导体器件的快速测试系统，包括：放置平台，用于放置待测半导体器件；半导体器件测试仪，用于对待测半导体器件进行测试；控制电路，用于发出开关选通信号；模拟开关电路，与待测半导体器件、控制电路以及半导体器件测试仪连接，用于获取开关选通信号并闭合，以使待测半导体器件与半导体器件测试仪连通。本实用新型将多个待测半导体器件放置在放置平台上，待测的半导体器件与模拟开关电路连接，模拟开关电路与半导体器件测试仪连接，通过开关选通信号使待测半导体器件与半导体器件测试仪连接，选通信号能实现多个半导体器件之间的快速切换，实现了对多个半导体器件的测试，从而提高了半导体器件测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 半导体器件 快速 测试 系统 | ||
【主权项】：
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