[发明专利]一种回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置在审
| 申请号： | 201910998075.6 | 申请日： | 2019-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN110686634A | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 杨川贵;米良;刘兴宝;唐强;陈衡;夏仰球;滕强;周怡帆;杜坤 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 |
| 主分类号： | G01B21/04 | 分类号： | G01B21/04;G01B21/02 |
| 代理公司： | 51210 中国工程物理研究院专利中心 | 代理人： | 翟长明;韩志英 |
| 地址： | 621999*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公布了回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置，该装置包括姿态微调单元、位置微调单元；所述姿态微调单元能进行传感器支架的姿态调节，以保证传感器支架与被测回转轴线平行；所述位置微调单元能分别进行位移传感器位置调整，以保证位移传感器始终对准标准棒上标准球的高点；所述位置微调单元通过螺钉与姿态微调单元固定连接。本发明的回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置能有效降低传感器支架安装倾斜与位移传感器未对准标准球高点引入的测量误差，从而提高了回转轴线几何精度检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 位移传感器 回转轴线 几何精度检测 传感器支架 微调单元 位置微调 微调装置 标准球 位置调整 姿态调节 螺钉 标准棒 未对准 平行 对准 测量 保证 引入 | ||
【主权项】：
1.一种回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置，所述回转轴线几何精度检测所用位移传感器微调装置包括姿态微调单元（1）、位置微调单元（2），其特征在于：所述位置微调单元（2）由传感器支架（25）、I号传感器位置调整机构（27）、II号传感器位置调整机构（29）、III号传感器位置调整机构（30）、IV号传感器位置调整机构（33）、V号传感器位置调整机构（34）构成，所述I号传感器位置调整机构（27）、II号传感器位置调整机构（29）通过螺钉安装于传感器支架（25）上平行于线性调整机构（10）运动方向的侧面，所述III号传感器位置调整机构（30）、IV号传感器位置调整机构（33）通过螺钉安装于传感器支架（25）的顶面，所述V号传感器位置调整机构（34）通过螺钉安装于传感器支架（25）上垂直于线性调整机构（10）运动方向的平面；所述位置微调单元（2）的传感器支架（25）通过螺钉固定于姿态微调单元（1）的水平滑台（14）上。/n
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- 2018-07-18 - 2019-11-29 - G01B21/04
- 本发明涉及一种深入式七探头多自由度三坐标测量仪，其包括：探头轴、旋转装置和三坐标机体；旋转装置包括第一电机、旋转盘、旋转轴和第二电机；三坐标机体的输出端带动旋转装置整体XYZ三轴运动；第一电机的输出轴驱动旋转盘转动；旋转轴与旋转盘沿旋转轴的轴线转动连接，旋转轴水平设置，第二电机用于驱动旋转轴转动；探头轴后端与旋转轴固定连接，探头轴与旋转轴垂直；探头轴前端设置有与探头轴同轴的探针，探头轴前端垂直面内还设置有放射状均布的六个探针，放射状以探头轴为轴线。本发明提供一种深入式七探头多自由度三坐标测量仪，结构简单，使用方便。适于测量形状中小、结构复杂或含有内部结构的零件，还可以测量曲面。
- 测量机的碰撞防止装置-201610391310.X
- 田中祥一 - 株式会社三丰
- 2016-06-03 - 2019-11-22 - G01B21/04
- 在使被测物体和非接触式探针相对移位的同时测量被测物体的尺寸等的测量机的碰撞防止装置。该碰撞防止装置包括：棒状的主轴，其与非接触式探针并排地延伸；支撑机构，其以使得主轴的前端比非接触式探针突出的方式支撑主轴；以及开关，其检测主轴与被测物体之间的碰撞。
- 轴承座三坐标检测装置-201920797397.X
- 金魁;贾铁钢;孙德英;朱宇 - 大连职业技术学院
- 2019-05-30 - 2019-11-19 - G01B21/04
- 本实用新型涉及工件检测技术领域，尤其涉及一种轴承座三坐标检测装置。本实用新型包括：T型块、底板、垫板及立板；垫板的上表面设置有深0.5mm的凹槽；垫板通过Φ6销轴定位于底板上；立板通过M10×110螺栓B装于底板的上部一侧；T型块通过M10×35螺栓A装于底板的底部；T型块装于三座标平台的T型槽内；工件通过销轴定位于垫板上。本实用新型的技术方案解决了现有技术中的由于各种检测方式不同的设备及检测人员的限制，会出现检测结果不稳定准确，重复性较差，导致检测结果不能够真实反映零件真实的同轴误差的问题。
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