[发明专利]在源极接触沟槽中具有集成的伪肖特基二极管的功率MOSFET在审
申请号: | 201910538144.5 | 申请日: | 2019-06-20 |
公开(公告)号: | CN110718546A | 公开(公告)日: | 2020-01-21 |
发明(设计)人: | 邓盛凌 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子美国有限公司 |
主分类号: | H01L27/088 | 分类号: | H01L27/088;H01L29/06;H01L29/423;H01L29/78 |
代理公司: | 11256 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 李辉;董典红 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及在源极接触沟槽中具有集成的伪肖特基二极管的功率MOSFET。本实施例提供了一种半导体器件的区域,其包括在半导体衬底中被配置为沟槽MOSFET的多个功率晶体管单元。至少一个有源功率晶体管单元还包括沟槽源极区域,其中沟槽源极接触的沟槽底表面被覆盖有绝缘层和在绝缘层顶部上的导电材料层,以用作有源功率晶体管单元中的集成的伪肖特基势垒二极管。 | ||
搜索关键词: | 绝缘层 晶体管单元 源极接触 源功率 肖特基势垒二极管 功率晶体管单元 肖特基二极管 半导体器件 导电材料层 功率MOSFET 沟槽MOSFET 沟槽底表面 源极区域 衬底 半导体 覆盖 配置 申请 | ||
【主权项】:
1.一种绝缘栅极半导体器件,包括:/n半导体材料区域,包括:/n半导体衬底;/n在所述衬底上的第一导电类型的第一半导体层;/n在所述衬底上生长的所述第一导电类型的外延层;/n形成在所述外延层中的第二导电类型的体区域;/n具有主表面的在所述外延层上的所述第一导电类型的第二半导体层;和/n安置在所述第二半导体层上或所述外延层上的多个TMOS单元和多个伪肖特基(P-Sch)单元,彼此相邻并邻接,使得所述多个P-Sch单元中的每个P-Sch单元被夹在所述多个TMOS单元中的任意两个TMOS单元之间,/n其中,所述多个TMOS单元中的每个TMOS单元被配置为在所述体区域中形成欧姆接触,以及/n其中,所述多个P-Sch单元中的每个P-Sch单元被配置为与所述体区域形成伪肖特基势垒二极管。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的