[实用新型]外延片及肖特基二极管有效
申请号: | 201821004572.7 | 申请日: | 2018-06-27 |
公开(公告)号: | CN208690266U | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 邢东;冯志红;赵向阳;王元刚 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/872 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 王政 |
地址: | 050051 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本实用新型适用于半导体技术领域,提供了一种外延片及肖特基二极管,外延片包括:衬底;所述衬底上表面设有重掺杂外延层;所述重掺杂外延层上表面设有轻掺杂外延层;所述轻掺杂外延层中设有凹槽,所述凹槽的深度小于所述轻掺杂外延层的厚度;所述轻掺杂外延层上表面设有二次外延层,所述二次外延层填充所述轻掺杂外延层中的凹槽,且所述二次外延层的厚度大于所述凹槽的深度。使用本实用新型提供的外延片制备肖特基二极管时,能够提高肖特基二极管的反向击穿电压,且不会降低器件的高频性能。 | ||
搜索关键词: | 轻掺杂外延层 外延层 肖特基二极管 外延片 本实用新型 上表面 重掺杂 半导体技术领域 反向击穿电压 衬底上表面 高频性能 降低器件 衬底 制备 填充 | ||
【主权项】:
1.一种外延片,其特征在于,包括:衬底;所述衬底上表面设有重掺杂外延层;所述重掺杂外延层上表面设有轻掺杂外延层;所述轻掺杂外延层中设有凹槽,所述凹槽的深度小于所述轻掺杂外延层的厚度;所述轻掺杂外延层上表面设有二次外延层,所述二次外延层填充所述轻掺杂外延层中的凹槽,且所述二次外延层的厚度大于所述凹槽的深度。
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