[发明专利]一种晶体管及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201811473664.4 申请日: 2018-12-04
公开(公告)号: CN109728079A 公开(公告)日: 2019-05-07
发明(设计)人: 林信南;董宁钢 申请(专利权)人: 北京大学深圳研究生院
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/778;H01L21/28;H01L21/335
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 郭燕;彭家恩
地址: 518055 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请提供一种晶体管,其包括GaN外延片、源极、栅极、结栅、漏极、中间层,源极和结栅通过互联区域相互连接。本申请还提供一种晶体管制作方法,其包括如下过程:制备GaN外延片,沉积GaN延伸层和p‑GaN层;在GaN外延片上刻蚀出结栅结构;在GaN外延片上刻蚀出栅极窗口,沉积栅介质;在栅极区域沉积金属;制成源极金属电极区、栅极金属电极区、结栅金属电极区和漏极金属电极区;在第一TOES层上刻蚀出互联区域;沉积金属,使得源极金属电极区和结栅金属电极区通过互联区域相互连接。本申请的晶体管制作方法流程简单,可操作性强,所制得的晶体管可防止栅介质过早退化,延长使用寿命。
搜索关键词: 晶体管 互联区域 刻蚀 源极金属电极 沉积金属 电极区 栅介质 栅金属 源极 沉积 申请 制作 漏极金属电极 延长使用寿命 栅极金属电极 栅极区域 延伸层 栅结构 中间层 漏极 制备 退化
【主权项】:
1.一种晶体管,其特征在于,包括:GaN外延片;隔离分布于GaN外延片上表面的源极、栅极、结栅和漏极;形成于所述源极、栅极、结栅和漏极之间的中间层;所述中间层内包括互联区域,所述源极和所述结栅通过所述互联区域相互连接。
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