[发明专利]一种晶体管及其制作方法在审
申请号: | 201811473664.4 | 申请日: | 2018-12-04 |
公开(公告)号: | CN109728079A | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 林信南;董宁钢 | 申请(专利权)人: | 北京大学深圳研究生院 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/778;H01L21/28;H01L21/335 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 郭燕;彭家恩 |
地址: | 518055 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供一种晶体管,其包括GaN外延片、源极、栅极、结栅、漏极、中间层,源极和结栅通过互联区域相互连接。本申请还提供一种晶体管制作方法,其包括如下过程:制备GaN外延片,沉积GaN延伸层和p‑GaN层;在GaN外延片上刻蚀出结栅结构;在GaN外延片上刻蚀出栅极窗口,沉积栅介质;在栅极区域沉积金属;制成源极金属电极区、栅极金属电极区、结栅金属电极区和漏极金属电极区;在第一TOES层上刻蚀出互联区域;沉积金属,使得源极金属电极区和结栅金属电极区通过互联区域相互连接。本申请的晶体管制作方法流程简单,可操作性强,所制得的晶体管可防止栅介质过早退化,延长使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 晶体管 互联区域 刻蚀 源极金属电极 沉积金属 电极区 栅介质 栅金属 源极 沉积 申请 制作 漏极金属电极 延长使用寿命 栅极金属电极 栅极区域 延伸层 栅结构 中间层 漏极 制备 退化 | ||
【主权项】:
1.一种晶体管,其特征在于,包括:GaN外延片;隔离分布于GaN外延片上表面的源极、栅极、结栅和漏极;形成于所述源极、栅极、结栅和漏极之间的中间层;所述中间层内包括互联区域,所述源极和所述结栅通过所述互联区域相互连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学深圳研究生院,未经北京大学深圳研究生院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811473664.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种半导体器件及其制造方法
- 下一篇:隧道场效应晶体管及其制作方法
- 同类专利
- 专利分类