[发明专利]一种槽栅IGBT芯片及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201810792044.0 申请日: 2018-07-18
公开(公告)号: CN108878290A 公开(公告)日: 2018-11-23
发明(设计)人: 陈利;陈译;陈剑;姜帆;张军亮 申请(专利权)人: 厦门芯一代集成电路有限公司
主分类号: H01L21/331 分类号: H01L21/331;H01L29/739;H01L23/373
代理公司: 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 代理人: 陈娟
地址: 361000 福建省厦门市中国(福建)*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种槽栅IGBT芯片及其制造方法,具体制造方法步骤如下:步骤一:在硅片的一侧刻蚀出绝缘沟槽,在绝缘沟槽内填充第一绝缘层,在第一绝缘层的外侧填充与P型基片接触的导电层;步骤二:在步骤一的基础上在硅片表面大面积离子注入对应于器件沟槽区的P型层和源区的N型层;步骤三:在步骤二的基础上采用快速热退火的方式将Ti和金属连接孔中的硅反应形成TiSi2金属硅化物,使用NH4OH和H2O2混合碱性化学药液将未反应的金属Ti刻蚀掉,采用物理气相淀积的方式淀积一层铝或铝合金;步骤四:在步骤三的基础上在N型层的窗口处淀积二氧化硅随后进行湿法刻蚀。本发明槽栅IGBT芯片及其制造方法具有很高的实用性,整体装置应用前景广泛,适合广泛推广。
搜索关键词: 绝缘层 绝缘沟槽 制造 刻蚀 种槽 填充 物理气相淀积 金属硅化物 金属连接孔 快速热退火 二氧化硅 方式淀积 硅片表面 化学药液 混合碱性 器件沟槽 湿法刻蚀 整体装置 窗口处 导电层 铝合金 硅片 槽栅 淀积 源区 离子 金属 应用
【主权项】:
1.一种槽栅IGBT芯片及其制造方法,其特征在于,具体制造方法步骤如下:步骤一:在硅片的一侧刻蚀出绝缘沟槽,在绝缘沟槽内填充第一绝缘层,在第一绝缘层的外侧填充与P型基片接触的导电层;步骤二:在步骤一的基础上在硅片表面大面积离子注入对应于器件沟槽区的P型层和源区的N型层;步骤三:在步骤二的基础上采用快速热退火的方式将Ti和金属连接孔中的硅反应形成TiSi2金属硅化物,使用NH4OH和H2O2混合碱性化学药液将未反应的金属Ti刻蚀掉,采用物理气相淀积的方式淀积一层铝或铝合金;步骤四:在步骤三的基础上在N型层的窗口处淀积二氧化硅随后进行湿法刻蚀,再对整个N型层衬底正面离子注入硼,作退火、推结处理后形成位于中间的P型层,同时多晶硅层中注入P型杂质硼;步骤五:在步骤四的基础上在硅片的表面喷涂有散热涂层,放入到干燥机中快速干燥后,再在其表层喷涂一层耐腐蚀涂层;步骤六:在步骤五的基础上N型衬底背面金属化制作集电极。
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