[发明专利]一种半导体芯片生产工艺有效
申请号: | 201810532937.1 | 申请日: | 2018-05-29 |
公开(公告)号: | CN108766867B | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 兰凤;方明进 | 申请(专利权)人: | 深圳市动能世纪科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/027 |
代理公司: | 北京成实知识产权代理有限公司 11724 | 代理人: | 陈永虔 |
地址: | 518039 广东省深圳市福田区华强北街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明属于半导体制造技术领域,具体的说是一种半导体芯片生产工艺,该工艺包括如下步骤:将晶圆放到研磨机上研磨成镜面;将晶圆送入高温扩散炉内进行氧化处理;将晶圆送入匀胶装置上涂抹光刻胶;将晶圆送入光刻机中进行曝光、显影;将晶圆送入刻蚀机中进行等离子刻蚀;将晶圆送入高温炉中进行掺杂;本发明中的匀胶装置通过在工作台上方设置匀胶板,一号电机驱动匀胶板稳定的转动,电缸带动一号电机、匀胶板匀速向下移动,匀胶板均匀地把胶液平铺到晶圆表面,实现了均匀、稳定的匀胶;通过一号滑块和吹气管的相互配合,实现了把工作台表面的灰尘吹向四周,进而被吹气槽喷射出向上的气流带出。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 芯片 生产工艺 | ||
【主权项】:
1.一种半导体芯片生产工艺,其特征在于:该工艺包括如下步骤:步骤一:将晶圆放到研磨机上研磨成镜面;步骤二:将步骤一中的晶圆送入高温扩散炉内进行氧化处理;步骤三:将步骤二中的晶圆送入匀胶装置上涂抹光刻胶;步骤四:将步骤三中的晶圆送入光刻机中进行曝光、显影;步骤五:将步骤四中的晶圆送入刻蚀机中进行等离子刻蚀;步骤六:将步骤五中的晶圆送入高温炉中进行掺杂;步骤三中的匀胶装置,包括支撑板(1)、挡尘模块(2)、电缸(3)、一号电机(4)、旋转杆(5)、匀胶板(6)、工作台(7)、真空发生器(8),所述支撑板(1)顶板下方固定连接电缸(3)底座;所述电缸(3)缸杆端头固定连接一号电机(4)非输出端;所述一号电机(4)的转轴端头固定连接旋转杆(5)一端;所述旋转杆(5)铰接匀胶板(6)一端,铰接处设有扭簧;所述匀胶板(6)另一端设置圆弧面;所述匀胶板(6)下方设有工作台(7);所述工作台(7)左侧面固定连接在支撑板(1)立板上;所述工作台(7)为长方体,工作台(7)内部设置空腔,工作台(7)顶板设置一组出气孔;所述工作台(7)底板中部下方设有真空发生器(8),工作台(7)底板右侧下方设有单向阀;所述工作台(7)与支撑板(1)顶板之间设有挡尘模块(2);所述挡尘模块(2)用于防止周围的灰尘进人工作台(7)与支撑板(1)顶板之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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