[发明专利]软错误检查方法、软错误检查装置以及软错误检查系统有效
| 申请号： | 201780091507.4 | 申请日： | 2017-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN110691979B | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 添田武志 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/30 | 分类号： | G01R31/30;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 金雪梅;王秀辉 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在半导体器件中的软错误检查方法中，通过具有如下特征的软错误检查方法来解决上述课题，具有：对上述半导体器件照射激光或者电子束并进行扫描的工序；以及对上述半导体器件的被照射上述激光或者上述电子束的每个区域测定位反转的时间并存储的工序。 | ||
| 搜索关键词： | 错误 检查 方法 装置 以及 系统 | ||
【主权项】：
1.一种软错误检查方法，是半导体器件中的软错误检查方法，其特征在于，具有：/n对上述半导体器件照射激光或者电子束来进行扫描的工序；/n对上述半导体器件的被照射上述激光或者上述电子束的每个区域测定并存储位反转的时间的工序。/n
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- 2012-01-19 - 2012-10-31 - G01R31/30
- 本实用新型涉及一种电子镇流器的管压保护点测试装置，其特征在于：包括连续可调直流稳压电源，输出端与电子镇流器的输入端相连；隔离高频整流及负载匹配电路，其输入端与电子镇流器的输出端相连，其输出端与电子镇流器的输入端相连。与现有技术相比，本实用新型的优点在于：通过设计连续可调直流稳压电源和隔离高频整流及负载匹配电路，当调节可调直流稳压电源的电压，等同于调节与电子整流器输出端相连的HID灯管的管压，这样HID灯管的管压就能连续地模拟出来，就能准确检测到管压保护的工作点。
- 一种场效应晶体管阈值电压提取方法-201210153935.4
- 何进;马晨月;陈文新;张立宁 - 深港产学研基地
- 2012-05-17 - 2012-10-03 - G01R31/30
- 本发明涉及一种尤其适用于纳米FinFET场效应晶体管的阈值电压提取方法，包括：选择三点不同漏-源电压Vds，将栅-源电压Vgs从-0.5伏扫描到+1.5伏，测试出场效应晶体管的转移电流特性曲线Ids-Vgs，确定器件正常工作；选择三点不同Vgs，将Vds从0伏扫描到+1.5伏，测试出场效应晶体管的输出电流特性曲线Ids-Vds；将漏-源输出电流Ids对Vds求导，得到输出电导特性曲线Gout-Vds，再在线性区内选二点获取对应直线的截距和斜率；提取场效应晶体管的阈值电压Vth，
这种方法实现简单，在低Vds下对偏置波动不敏感，能抑制小尺寸器件引起的短沟效应和超薄体效应。
- 电压极限测试系统及辅助测试治具-201110026461.2
- 赵泓;何瑞雄;黄正宗;江政鸿;吴忠勋 - 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
- 2011-01-25 - 2012-07-25 - G01R31/30
- 一种电压极限测试系统，用于连接一主板上的内存来对所述内存的极限电压进行测试，所述电压极限测试系统包括一电压极限测试治具及一第一辅助测试治具，所述电压极限测试治具包括一第一按钮，所述第一辅助测试治具包括一第一定时器、一第一继电器及一第二继电器，所述第一继电器用于接收主板的状态信号，并根据所述状态信号控制是否提供电压至所述第一定时器，所述第二继电器用于接收所述第一定时器输出的脉冲信号来以一参考时间间隔地触发所述第一按钮来调节所述内存的电源，当工作的主板停止工作时所述内存的电压为所述内存电压的第一极限电压值。本发明实现自动测试所述主板上的内存的电压的极限值，方便快捷。
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