[实用新型]半导体器件的测试机及其漏电检测装置有效
| 申请号： | 201720777634.7 | 申请日： | 2017-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN206990742U | 公开（公告）日： | 2018-02-09 |
| 发明（设计）人： | 覃勇华;谭碧云;都俊兴;王丽岩;郑小玉 | 申请（专利权）人： | 深圳赛意法微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R19/165 |
| 代理公司： | 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司44232 | 代理人： | 刘抗美,阙龙燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型揭示了一种半导体器件的测试机及其漏电检测装置，该漏电检测装置包括高压接入端口，与测试机的高压输出电路电连接；分压稳压电路，其输入端与高压接入端口电连接；漏电控制电路，其输入端与分压稳压电路的输出端电连接，漏电控制电路的第一继电器的触点与用于切断高压输入的控制继电器的线圈形成一控制回路，控制继电器的触点设置在测试机的高压输入电路中，分压稳压电路输出一电平信号时，第一继电器工作并控制控制继电器断开。半导体器件的测试机包括上述漏电检测装置。本实用新型的半导体器件的测试机及其漏电检测装置能够检测到测试机的高压输出电路是否漏电，并在检测出漏电的情况下，切断高压电源的供应，保护测试人员的安全。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 测试 及其 漏电 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种半导体器件的测试机的漏电检测装置，其特征在于，包括：高压接入端口，与测试机的高压输出电路电连接；分压稳压电路，其输入端与所述高压接入端口电连接，并将所述高压接入端口输入的高压电压进行分压和稳压；漏电控制电路，其输入端与所述分压稳压电路的输出端电连接，所述漏电控制电路的第一继电器的触点与用于切断高压输入的控制继电器的线圈形成一控制回路，所述控制继电器的触点设置在所述测试机的高压输入电路中，所述分压稳压电路输出一电平信号时，所述第一继电器工作并控制所述控制继电器断开。
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