[发明专利]一种芯片追踪调试装置及方法

摘要

本发明提供了一种芯片追踪调试装置及方法，该芯片追踪调试装置包括：级联构建模块、级联模式运行模块、存储空间判断模块及数据写入模块，其中，级联构建模块，用于选取芯片中M个追踪模块构成环形级联结构；级联模式运行模块用于触发环形级联结构中的一追踪模块进入工作状态，使其余M‑1个追踪模块处于级联模式，将进入工作状态的追踪模块作为第1级追踪模块，将调试数据写入第1级追踪模块对应的第1级FIFO中；存储空间判断模块用于判断下一级FIFO的存储情况；数据写入模块用于在下一级FIFO有存储空间时通过追踪模块的级联接口将调试数据写入下一级FIFO中。通过实施本发明，扩大了对单个模块进行调试的存储空间，提高了FIFO的利用率。

主权项

1.一种芯片追踪调试装置，其特征在于，包括：级联构建模块(1)、级联模式运行模块(2)、存储空间判断模块(3)及数据写入模块(4)，其中，

所述级联构建模块(1)，用于选取芯片中M个追踪模块(5)构成环形级联结构，其中，M为大于1的正整数；

所述级联模式运行模块(2)用于触发所述环形级联结构中的一所述追踪模块(5)进入工作状态，使其余M‑1个所述追踪模块(5)处于级联模式，将进入工作状态的所述追踪模块(5)作为第1级追踪模块(5)，将调试数据写入所述第1级追踪模块(5)对应的第1级FIFO中；

所述存储空间判断模块(3)用于判断第1+i级追踪模块(5)对应的第1+i级FIFO是否有存储空间，i的初始值为1，且i≤M‑1；

当所述第1+i级FIFO没有存储空间时，所述数据写入模块(4)用于将所述调试数据存储于所述第i级FIFO中；

当所述第1+i级FIFO有存储空间时，所述数据写入模块(4)通过所述追踪模块(5)的级联接口将所述调试数据写入所述第1+i级FIFO中，并使i＝i+1，并触发所述存储空间判断模块(3)。

2.根据权利要求1所述的芯片追踪调试装置，其特征在于，当所述追踪模块(5)未处于级联模式时，所述追踪模块(5)停止接收其他所述追踪模块(5)的写入操作。

3.根据权利要求1所述的芯片追踪调试装置，其特征在于，所述芯片追踪调试装置还包括：调试数据处理模块(5)，用于为所述调试数据加入时间戳。

4.一种芯片追踪调试装置的芯片追踪调试方法，其特征在于，所述芯片追踪调试方法包括：

步骤a：选取芯片中M个所述追踪模块(5)构成环形级联结构，M为大于1的正整数；

步骤b：触发所述环形级联结构中的一所述追踪模块(5)进入工作状态，使其余M‑1个所述追踪模块(5)处于级联模式，将进入工作状态的所述追踪模块(5)作为第1级追踪模块(5)，将调试数据写入所述第1级追踪模块(5)对应的第1级FIFO中；

步骤c：判断第1+i级追踪模块(5)对应的第1+i级FIFO是否有存储空间，i初始值为1，且i≤M‑1；

步骤d：当所述第1+i级FIFO没有存储空间时，(4)将所述调试数据存储于所述第i级FIFO中；

步骤e：当所述第1+i级FIFO有存储空间时，(4)通过所述追踪模块(5)的级联接口将所述调试数据写入所述第1+i级FIFO中，并使i＝i+1，并返回所述步骤c，直至遍历所述M个追踪模块(5)。

5.根据权利要求4所述的芯片追踪调试方法，其特征在于，当所述追踪模块(5)未处于级联模式时，所述追踪模块(5)停止接收其他追踪模块(5)的写入操作。

6.根据权利要求4所述的芯片追踪调试方法，其特征在于，所述芯片追踪调试方法还包括：在将调试数据写入所述第1级追踪模块(5)对应的第1级FIFO中时，为所述调试数据加入时间戳。

7.一种非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令被处理器执行时实现如权利要求4‑6任一项所述的芯片追踪调试方法。

8.一种电子设备，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如权利要求4‑6中任一项所述的芯片追踪调试方法。