[发明专利]一种芯片追踪调试装置及方法

权利要求书

1.一种芯片追踪调试装置，其特征在于，包括：级联构建模块(1)、级联模式运行模块(2)、存储空间判断模块(3)及数据写入模块(4)，其中，

所述级联构建模块(1)，用于选取芯片中M个追踪模块(5)构成环形级联结构，其中，M为大于1的正整数；

所述级联模式运行模块(2)用于触发所述环形级联结构中的一所述追踪模块(5)进入工作状态，使其余M-1个所述追踪模块(5)处于级联模式，将进入工作状态的所述追踪模块(5)作为第1级追踪模块(5)，将调试数据写入所述第1级追踪模块(5)对应的第1级FIFO中；

所述存储空间判断模块(3)用于判断第1+i级追踪模块(5)对应的第1+i级FIFO是否有存储空间，i的初始值为1，且i≤M-1；

当所述第1+i级FIFO没有存储空间时，所述数据写入模块(4)用于将所述调试数据存储于第i级FIFO中；

当所述第1+i级FIFO有存储空间时，所述数据写入模块(4)通过所述追踪模块(5)的级联接口将所述调试数据写入所述第1+i级FIFO中，并使i＝i+1，并触发所述存储空间判断模块(3)。

2.根据权利要求1所述的芯片追踪调试装置，其特征在于，当所述追踪模块(5)未处于级联模式时，所述追踪模块(5)停止接收其他所述追踪模块(5)的写入操作。

3.根据权利要求1所述的芯片追踪调试装置，其特征在于，所述芯片追踪调试装置还包括：调试数据处理模块(5)，用于为所述调试数据加入时间戳。

4.一种芯片追踪调试装置的芯片追踪调试方法，其特征在于，所述芯片追踪调试方法包括：

步骤a：选取芯片中M个追踪模块(5)构成环形级联结构，M为大于1的正整数；

步骤b：触发所述环形级联结构中的一所述追踪模块(5)进入工作状态，使其余M-1个所述追踪模块(5)处于级联模式，将进入工作状态的所述追踪模块(5)作为第1级追踪模块(5)，将调试数据写入所述第1级追踪模块(5)对应的第1级FIFO中；

步骤c：判断第1+i级追踪模块(5)对应的第1+i级FIFO是否有存储空间，i初始值为1，且i≤M-1；

步骤d：当所述第1+i级FIFO没有存储空间时，将所述调试数据存储于第i级FIFO中；

步骤e：当所述第1+i级FIFO有存储空间时，通过所述追踪模块(5)的级联接口将所述调试数据写入所述第1+i级FIFO中，并使i＝i+1，并返回所述步骤c，直至遍历所述M个追踪模块(5)。

5.根据权利要求4所述的芯片追踪调试方法，其特征在于，当所述追踪模块(5)未处于级联模式时，所述追踪模块(5)停止接收其他追踪模块(5)的写入操作。

6.根据权利要求4所述的芯片追踪调试方法，其特征在于，所述芯片追踪调试方法还包括：在将调试数据写入所述第1级追踪模块(5)对应的第1级FIFO中时，为所述调试数据加入时间戳。

7.一种非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令被处理器执行时实现如权利要求4-6任一项所述的芯片追踪调试方法。

8.一种电子设备，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如权利要求4-6中任一项所述的芯片追踪调试方法。