[发明专利]一种芯片调试系统及芯片调试方法有效
| 申请号： | 202011381376.3 | 申请日： | 2020-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN112463509B | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 张攀勇 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人： | 赵永刚 |
| 地址： | 300384 天津市南开区华苑产*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片调试系统及芯片调试方法。其中，芯片调试系统用于实现目标芯片端和调试用户端通信连接；芯片调试系统包括：云端调试服务模块和调试代理模块；调试代理模块通过调试协议与目标芯片通信连接，云端调试服务模块与调试用户端云连接，云端调试服务模块通过云端协议与调试代理模块通信连接；调试代理模块被配置为用于实现云端调试服务模块在目标芯片端的云端协议接口，获得调试结果，并将调试结果发送至云端调试服务模块；云端调试服务模块被配置为用于向调试用户端提供调试目标芯片的调试服务，并向调试代理模块发送第一调试请求，将调试结果发送至调试用户端。本发明能够解除传统芯片调试对物理位置限制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 调试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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