[发明专利]半导体结构及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201711190676.1 申请日: 2017-11-24
公开(公告)号: CN109841628B 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 廖廷丰 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11551;H01L27/1157;H01L27/11578;H01L23/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李春伟
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种半导体结构包括多个次阵列结构,通过多个隔离结构彼此分离。此种半导体结构还包括多个存储单元构成的一三维阵列。该些存储单元包括多个存储单元群,分别设置在次阵列结构中。此种半导体结构还包括多个导电结构。导电结构的每一个包括沿着隔离结构的一延伸方向对应设置在隔离结构的每一个中的多个导电柱。导电柱穿过隔离结构的每一个。导电柱的每一个具有圆形剖面。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种半导体结构,包括:多个次阵列结构,通过多个隔离结构彼此分离;多个存储单元构成的一三维阵列,其中该些存储单元包括多个存储单元群,分别设置在该些次阵列结构中;以及多个导电结构,其中该些导电结构的每一个包括沿着该些隔离结构的一延伸方向对应设置在该些隔离结构的每一个中的多个导电柱,该些导电柱穿过该些隔离结构的该每一个,且该些导电柱的每一个具有圆形剖面。
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