[发明专利]一种通过重定向提高3D FG NAND闪存可靠性的方法有效

专利信息
申请号: 201710578506.4 申请日: 2017-07-17
公开(公告)号: CN107403643B 公开(公告)日: 2019-12-24
发明(设计)人: 吴非;谢长生;朱玥;熊钦 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G11C16/10 分类号: G11C16/10;G11C16/26
代理公司: 42233 武汉臻诚专利代理事务所(普通合伙) 代理人: 宋业斌
地址: 430074 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种通过重定向提高3D FG NAND闪存可靠性的方法,包括:设置读干扰上限,获取闪存中原子操作的信息,包括原子操作类型以及原子操作的目标地址,获取闪存芯片中各空闲页的信息,包括页在闪存块中的位置以及页的类型。通过获取的信息对读热点页进行识别,并将读热点页中的数据迁移至产生读干扰较小的页位置,从而减小读干扰,提高闪存的可靠性。
搜索关键词: 一种 通过 定向 提高 dfgnand 闪存 可靠性 方法
【主权项】:
1.一种通过重定向提高3D FG NAND闪存可靠性的方法,其特征在于,包括以下步骤:/n(1)在FTL表中创建存储空间,其包括各闪存块中全部SLC页处以及闪存块按顺序编程时的前两层中的低页处的空闲页;/n(2)从闪存控制器中获取请求,并判断该请求是读操作请求,还是擦除操作请求,还是写操作请求,如果是读操作请求,则转入步骤(3),如果是擦除操作请求,则转入步骤(7),如果是写操作请求,则转入步骤(8);/n(3)执行读操作请求,向上层文件系统返回该读操作请求对应的目标页的数据,计算该读操作请求对应的目标页对其所在闪存块中其余目标页产生的读干扰的总和RDP
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710578506.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top