[发明专利]一种提高陶瓷QFP228封装芯片抗随机振动性能的板级加固方法在审
申请号: | 201710262283.0 | 申请日: | 2017-04-20 |
公开(公告)号: | CN107393838A | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
发明(设计)人: | 祝长民;陈雷;聂伟丽;兰利东;简贵胄;王建永;韩逸飞;刘立全;陆振林;任永正;郑宏超;祝天瑞;王枭鸿;王猛;刘薇 | 申请(专利权)人: | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/31 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心11009 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 100076 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种提高陶瓷QFP228封装芯片抗随机振动性能的电路板级加固方法,首先在陶瓷QFP228封装芯片正下方电路板上预留灌注孔;将芯片焊接在电路板上后通过灌注孔处进行环氧树脂胶灌注,环氧树脂胶采用E‑51环氧树脂和聚酰胺树脂650按照设定质量比进行配比;随后对芯片的四角进行环氧树脂胶的粘固;最后在20℃‑25℃的条件下,静置电路板48小时使环氧树脂胶完全固化。本发明采用对陶瓷QFP228封装芯片进行四角和底部开孔处进行五点环氧树脂胶粘固的电路板级加固方法有效提高了芯片的板级抗随机振动性能,避免了在大量级随机振动试验过程中陶瓷QFP228封装芯片引脚断裂情况的出现。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 陶瓷 qfp228 封装 芯片 随机 振动 性能 加固 方法 | ||
【主权项】:
一种提高陶瓷QFP228封装芯片抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于,包括步骤如下:步骤一、在陶瓷QFP228封装芯片(1)正下方的电路板(2)上预留灌注孔(3),将陶瓷QFP228封装芯片(1)焊接在电路板(2)上,并在陶瓷QFP228封装芯片(1)底部与电路板(2)之间留出用于环氧树脂胶(5)灌注的缝隙;步骤二、采用E‑51环氧树脂和聚酰胺树脂650,按照设定的质量比进行环氧树脂胶(5)的配制;步骤三、通过灌注孔(3)进行环氧树脂胶(5)的灌注;步骤四、对陶瓷QFP228封装芯片四角(12)进行环氧树脂胶(5)的粘固;步骤五、在20℃~25℃的条件下,静置电路板(2)使环氧树脂胶(5)完全固化。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所,未经北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710262283.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:芯片封装方法及封装结构
- 下一篇:大面积的搭载有半导体元件的基材的封装方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造