[发明专利]基于垂直沟道的异质结场效应管器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201710086528.9 申请日: 2017-02-17
公开(公告)号: CN106684143A 公开(公告)日: 2017-05-17
发明(设计)人: 董志华;蔡勇;程知群;刘国华;柯华杰;周涛 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L21/335
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)32256 代理人: 王锋
地址: 310018 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于垂直沟道的异质结场效应管器件(VC‑HFET)及其制备方法。所述异质结场效应管器件包括源极、漏极、栅极以及至少一异质结沟道,所述异质结沟道的轴线基本垂直于一选定平面,所述异质结沟道位于异质结构内,所述异质结构包括第二半导体和环绕第二半导体设置的第一半导体,第一半导体的禁带宽度大于第二半导体,且所述异质结沟道内形成有二维电子气或二维空穴气,所述源极与漏极经所述二维电子气或二维空穴气电连接,所述栅极分布于源极和漏极之间。本发明的异质结场效应管器件具有栅控能力好、工作频率高,工艺难度低,易于制作,成品率高等优点。
搜索关键词: 基于 垂直 沟道 异质结 场效应 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
一种基于垂直沟道的异质结场效应管器件,包括源极、漏极、栅极以及至少一异质结沟道,其特征在于:所述异质结沟道的轴线基本垂直于一选定平面,所述异质结沟道位于异质结构内,所述异质结构包括第二半导体和环绕第二半导体设置的第一半导体,第一半导体的禁带宽度大于第二半导体,且所述异质结沟道内形成有二维电子气或二维空穴气,所述源极与漏极经所述二维电子气或二维空穴气电连接,所述栅极分布于源极和漏极之间。
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