[发明专利]电源电压检测电路有效

专利信息
申请号: 201611154570.1 申请日: 2016-12-14
公开(公告)号: CN106771519B 公开(公告)日: 2019-05-14
发明(设计)人: 李淼 申请(专利权)人: 上海贝岭股份有限公司
主分类号: G01R19/165 分类号: G01R19/165;G01R31/40
代理公司: 上海弼兴律师事务所 31283 代理人: 薛琦;邓忠红
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种电源电压检测电路,包括检测支路、偏置模块、比较模块和反馈模块;所述检测支路的两端分别连接电源电压和所述偏置模块的第一输入端;所述偏置模块包括第四晶体管和第二晶体管,所述第二晶体管的栅极为所述偏置模块的第一输入端,所述第二晶体管的源极为所述偏置模块的第一输出端,所述第四晶体管的漏极为所述偏置模块的第二输出端;所述比较模块包括第八晶体管和第九晶体管,所述第八晶体管的漏极、所述第九晶体管的漏极与所述比较模块的输出端相连;所述反馈模块包括第十二晶体管和第十三晶体管,所述第十二晶体管的漏极与所述比较模块的输出端相连。本发明在电源电压低于预设的标准电压值时消耗极低的电流。
搜索关键词: 电源 电压 检测 电路
【主权项】:
1.一种电源电压检测电路,包括检测支路,所述检测支路包括稳压元件,其特征在于,所述电源电压检测电路还包括偏置模块、比较模块和反馈模块;所述检测支路的两端分别连接电源电压和所述偏置模块的第一输入端;所述偏置模块包括第四晶体管和第二晶体管,所述第二晶体管的栅极为所述偏置模块的第一输入端,所述第二晶体管的源极为所述偏置模块的第一输出端,所述第四晶体管的漏极为所述偏置模块的第二输出端;所述第四晶体管的源极与所述电源电压相连,所述第四晶体管的栅极和漏极与所述第二晶体管的漏极相连;所述比较模块包括第八晶体管和第九晶体管,所述第八晶体管的漏极、所述第九晶体管的漏极与所述比较模块的输出端相连;所述第八晶体管的源极与所述电源电压相连,所述第八晶体管的栅极与所述偏置模块的第二输出端相连,所述第九晶体管的栅极与所述偏置模块的第一输出端相连,所述第九晶体管的源极接地;所述反馈模块包括第十二晶体管和第十三晶体管,所述第十二晶体管的漏极和栅极、所述第十三晶体管的栅极与所述比较模块的输出端相连,所述第十二晶体管的源极和所述第十三晶体管的源极均接地,所述第十三晶体管的漏极与所述第二晶体管的栅极相连;所述反馈模块还包括第十晶体管和第十一晶体管,所述第十晶体管串接于所述比较模块的输出端和所述第十二晶体管的漏极之间,所述第十晶体管的漏极和栅极、所述第十一晶体管的栅极与所述比较模块的输出端相连,所述第十晶体管的源极与所述第十二晶体管的漏极相连,所述第十一晶体管的源极接地,所述第十一晶体管的漏极用于指示所述电源电压是否达到预设的标准电压值;所述电源电压检测电路还包括滞回模块,所述滞回模块包括电压调节电路、第五晶体管和第六晶体管;所述第五晶体管的源极与所述电源电压相连,所述第五晶体管的栅极与所述第四晶体管的漏极相连,所述第五晶体管的漏极与所述第六晶体管的源极相连,所述第六晶体管的漏极与所述第二晶体管的栅极相连;所述电压调节电路的输出端接至所述第六晶体管的栅极,在所述电源电压达到预设的标准电压值后所述电压调节电路使得所述第六晶体管导通;所述电压调节电路包括第十九晶体管、第三电阻和镜像电流源,所述第十九晶体管的源极与所述电源电压相连,所述第十九晶体管的栅极和漏极与所述第三电阻的一端连接,所述第三电阻的另一端与所述镜像电流源相连,所述镜像电流源镜像所述第四晶体管上的电流;所述镜像电流源包括第十八晶体管,所述第十八晶体管的漏极与所述第三电阻的另一端相连,所述第十八晶体管的源极接地;所述电源电压检测电路还包括输出模块,所述输出模块包括第十四晶体管、第十五晶体管、第十六晶体管、第十七晶体管和第三稳压元件,所述第三稳压元件串接于所述第十五晶体管的漏极和地之间,所述第十四晶体管的源极与所述电源电压相连,所述第十四晶体管的栅极与所述偏置模块的第二输出端相连,所述第十四晶体管的漏极、所述第十五晶体管的源极、所述第十六晶体管的源极与所述第十一晶体管的漏极相连,所述第十五晶体管的漏极和栅极与所述第十六晶体管的栅极相连,所述第十七晶体管的漏极和栅极、所述第十八晶体管的栅极和所述第十六晶体管的漏极相连,所述第十七晶体管的源极接地。
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