“G01R19/08”专利分类搜索_专利查询_文献下载_出售_求购_买卖_交易

钻瓜专利网为您找到相关结果64个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种参比电芯检测电流密度分布的方法-CN202310662883.1在审
发明人：施佚涵;史晓泽;刘诗琦;廖少杰;邵琦;刘晓娴 -专利权人：深圳市比克动力电池有限公司
申请日： 2023-06-06 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种参比电芯检测电流密度分布的方法，通过对带有绝缘漆包线的铜丝进行处理，将处理之后的铜丝埋入正极片和负极片之间，并且进行绝缘分离处理，制备成电芯，再将铜丝从钢壳引出便于后续测试，通过对参比电芯进行充放电、并且检测对应参比电极的电压变化，从而了解参比电极的嵌锂以及电流大小，得到分布情况。本发明提供了一种参比电芯检测电流密度分布的方法，通过多根参比电极在不同的位置,根据正负极对应不同位置的极化电压可以表征电芯内部电解液分布,以及电流情况。
一种检测电流密度分布方法

[发明专利]高温超导带材电流密度反演方法、设备及介质-CN202310700307.1有效
发明人：高配峰;刘科;王省哲 -专利权人：兰州大学
申请日： 2023-06-14 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种高温超导带材电流密度反演方法，S1、获取待测高温超导带材的测量磁场数据；S2、基于测量磁场数据，划分出第一低频电流密度分布、第一高频电流密度分布；S3、基于第一低频电流密度分布，获取第二低频电流密度分布及第二低频磁场分布；基于第二低频磁场分布、测量磁场数据得到第二高频磁场分布；S4、基于第一高频电流密度分布，获取第一高频磁场分布；S5、基于第一高频磁场分布、第二高频磁场分布、第一高频电流密度分布，得到第二高频电流密度分布；S6、迭代S4‑S5直到满足迭代终止条件，输出待测高温超导带材的电流密度分布。该方法提高了反演精度。
高温超导电流密度反演方法设备介质

[发明专利]电子器件的后处理方法、装置、计算机设备及存储介质-CN202111234054.0在审
发明人：洪佳婷;敖资通;芦子哲;贺晓光 -专利权人： TCL科技集团股份有限公司
申请日： 2021-10-22 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种电子器件的后处理方法、装置、计算机设备及存储介质，通过获取目标电子器件在标准后处理参数下的标准电流密度数据，从而确定了后处理进行后处理的决策依据，然后，基于标准后处理参数对目标电子器件进行后处理，并监测目标电子器件的实际电流密度数据，实现了对目标电子器件后处理状态的实时监测，提高了对后处理的监测效率，最后，在实际电流密度数据与标准电流密度数据的相似度满足预设条件时，控制目标电子器件停止后处理，本申请通过实时对电子器件后处理的状态进行监测，保证了获取到具有相近的较佳性能的电子器件，减少在电子器件制备阶段以及后处理阶段带来的性能差异，提高了电子器件的良品率。
电子器件处理方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]电流密度测量方法-CN202110747457.9在审
发明人：洪佳婷;敖资通;芦子哲;贺晓光 -专利权人： TCL科技集团股份有限公司
申请日： 2021-07-02 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本申请公开了一种电流密度测量方法，其中，获取被测发光器件，确定该被测发光器件的理论发光区域，并确定该理论发光区域的导电面积，获取被测发光器件的工作电流，并根据理论发光区域的导电面积和被测发光器件的工作电流，计算得到被测发光器件的工作电流密度。以此，本申请通过探测出被测发光器件实际的导电面积，并利用该导电面积计算得到被测发光器件的工作电流密度，相较于相关技术直接将理论发光区域的面积作为导电面积计算得到工作电流密度，具有更高的准确度。
电流密度测量方法

[发明专利]一种导体面电流密度分布的测量系统及测量方法-CN202011496049.2有效
发明人：张正卿;吴钫;廖于翔;帅骁睿;张鹏程;吴浩伟;李锐;蔡凯;李鹏;汪文涛;蔡久青;孔祥伟;金翔;李小谦;邓磊;姜波;李可维;张炜龙;邢贺鹏;金惠峰;周樑;陈涛;罗伟;魏华 -专利权人：武汉第二船舶设计研究所（中国船舶重工集团公司第七一九研究所）
申请日： 2020-12-17 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本发明提出一种导体面电流密度分布的测量系统包括测量探针、电流测量传感器、放大电路和数字信号处理模块；测量探针中探针基材是多层柔性电路板；磁通环线圈阵列是沿面电流密度分布方向布置的多组磁通环线圈；磁通环线圈与信号端子的正负连接线分别布置于基材相邻的两层，且正负连接线最近距离平行布置；电流测量传感器用于测量通流导体总电流幅值；放大电路与输出信号端子连接；数字信号处理模块结合测量探针与电流测量传感器测量结果，可以得到导体面电流密度时空分布。本发明所述的一种导体面电流密度测量方法，基于磁场测量反演，方法有效，外部电路简捷，数字信号处理流程高效，适应于导体交变和瞬态面电流密度时空分布的测量需求。
一种导体电流密度分布测量系统测量方法

[实用新型]减少交流电流密度测量误差的现场实验装置-CN202220743021.2有效
发明人：李冬;陈少松;牛文花 -专利权人：北京安科腐蚀技术有限公司
申请日： 2022-04-01 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及测量技术领域，公开了一种减少交流电流密度测量误差的现场实验装置。包括：底座，用于固定试片；试片，固定在所述的底座上，试片的金属面朝向底座的外侧；固定装置，用于将所述的试片固定在底座上；导线，用于将试片接入测量回路；集线器，所述的集线器设置在所述的导线上。本实用新型的装置具有误差小、测量准确的优点。
减少交流电流密度测量误差现场实验装置

[发明专利]一种复合电流密度的测试方法及装置-CN202011458625.4在审
发明人：万松博 -专利权人：嘉兴阿特斯技术研究院有限公司
申请日： 2020-12-11 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种复合电流密度测试方法及装置，该测试方法通过未设置金属结构的校准样品在校准光下的非平衡载流子的注入量、少子寿命以及发射光强，确定非平衡载流子的注入量与述发射光强之间的第一系数以及少子寿命与非平衡载流子的注入量和校准光强之间的第二系数，并在获取到测试样品在不同照射光下的发射光强后，能够结合第一系数，确定测试样品的非平衡载流子的注入量，然后结合第二系数，确定测试样品的少子寿命，最后根据测试样品的非平衡载流子的注入量和少子寿命经拟合计算确定测试样品的复合电流密度。本发明实施例能够简化具有金属结构的过程片的复合电流密度的测试过程，节省人力成本，提高测试效率。
一种复合电流密度测试方法装置

[发明专利]具有集成的霍尔测量特征的半导体探针测试卡-CN201810448564.X有效
发明人： J.博斯特延齐克;D.卡默兰德;C.奥斯特迈尔;G.普雷希特尔;G.拉青斯基 -专利权人：英飞凌科技奥地利有限公司
申请日： 2018-05-11 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：公开了具有集成的霍尔测量特征的半导体探针测试卡。一种用于测试半导体器件的探针测试卡包括：印刷电路板；一对导电探针，其朝向彼此延伸并且远离印刷电路板突出，具有部署在该对导电探针的各端部之间的间隙；以及线圈，其被附接到印刷电路板并且被电连接到印刷电路板，并且被直接部署在间隙的上方。探针测试卡被配置为当施加通过线圈的电流时在该对导电探针的各端部之间的间隙中生成磁通量。
具有集成霍尔测量特征半导体探针测试

[发明专利]一种电池极片面电流密度的测量装置及方法-CN202111413081.4在审
发明人：魏学哲;蔡吉祥;戴海峰;王学远 -专利权人：同济大学
申请日： 2021-11-25 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种电池极片面电流密度的测量装置及方法，该装置包括测量装置外壳、分别设置在测量装置外壳内部且与测量装置外壳刚性连接的两块电路板以及分别嵌插在每块电路板上的霍尔效应传感器组，两个霍尔效应传感器组均由多个按规律排布的霍尔效应传感器构成，且分别对应设置在测量装置外壳的正面和背面。与现有技术相比，本发明具有电磁屏蔽准确性高、结构简单、操作简便、维修成本低、测量效率高等优点。
一种电池片面电流密度测量装置方法

[发明专利]用于确定二维材料器件中的电流密度的空间分布的方法-CN202110716182.2在审
发明人： S·K·萨塔 -专利权人： IMEC非营利协会
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2022-01-11 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：根据本发明，确定电子器件中的电流密度分布，该电子器件包括第一和第二电极以及在该第一和第二电极之间延伸的二维导电材料层。当该器件在操作中时测量经过电极的总电流，并且然后将第一电流测量探针放置在尽可能接近该二维材料和第一电极之间的界面的多个位置。该探针被耦合到与第一电极相同的电压，由此局部地对电流进行分流。在该通道与该第二电极之间的界面处完成相同的操作。以此方式为电流确定边界条件，并且假定电流密度向量正交于所述界面，这产生所述电流密度向量的边界条件。最后，在将所述边界条件纳入考虑的情况下对连续性方程求解。
用于确定二维材料器件中的电流密度空间分布方法

[实用新型]一种导体面电流密度分布的测量系统-CN202023057166.7有效
发明人：张正卿;吴钫;廖于翔;帅骁睿;张鹏程;吴浩伟;李锐;蔡凯;李鹏;汪文涛;蔡久青;孔祥伟;金翔;李小谦;邓磊;姜波;李可维;张炜龙;邢贺鹏;金惠峰;周樑;陈涛;罗伟;魏华 -专利权人：武汉第二船舶设计研究所（中国船舶重工集团公司第七一九研究所）
申请日： 2020-12-17 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本实用新型提出一种导体面电流密度分布的测量系统，包括测量探针、电流测量传感器、放大电路和数字信号处理模块；测量探针用于获取磁场中感应的电压信号；输出信号端子设置在探针基材上，分别与磁通环线圈连接；电流测量传感器为罗氏线圈传感器，环绕设置在通流导体外侧；放大电路与输出信号端子连接，用于将测量探针采集到的信号进行比例放大；数字信号处理模块用于获取放大电路和电流测量传感器输出的信号，计算导体面电流密度时空分布。本实用新型的测量探针采用柔性电路板结构，结构轻便，成本低，适用于不同形状被测导体表面的贴装。同时，磁通环线圈阵列的线圈数量、层数、尺寸、布置方式等进行适应性调整。
一种导体电流密度分布测量系统

[发明专利]一种燃料电池内部电流走线式分布在线检测装置-CN202110324966.0在审
发明人：殷聪;蒙奎;汤浩;宋亚婷;鲁卫霞;唐棋霖 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2021-03-26 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本发明提供的一种燃料电池内部电流走线式分布在线检测装置，包括双面分区采集板和上位机，双面分区采集板设置于任意相邻两片燃料电池单元之间，由多个采集单元组成，采集单元包括顶层敷铜镀金分区、顶层信号走线层、中间电阻走线层、底层信号走线层和底层敷铜镀金分区，相邻两层之间为绝缘材料，中间电阻走线层采用埋阻的方式设有走线式采样电阻，通过导线分别与顶层敷铜镀金分区、底层敷铜镀金分区的金属化过孔连接；信号处理模块对通过顶层走线层、底层走线层采集的采样电阻两端的电势差进行信号处理，再分析和实时显示。本发明通过采用电阻材料作为走线式采样电阻，利于控制走线式采样电阻的一致性，减小对电堆电流分布的影响。
一种燃料电池内部电流走线式分布在线检测装置

[实用新型]一种绕组导线邻近效应影响测试装置-CN202020580035.8有效
发明人：陈梁远;赵坚;余长厅;张玉波;张磊 -专利权人：广西电网有限责任公司电力科学研究院
申请日： 2020-04-17 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种绕组导线邻近效应影响测试装置，包括第一导线、第二导体、第一液体电流密度计、第二液体电流密度计、绝缘垫片和变频电源；所述第一导线和第二导体相同，均由金属电极、塑料外壳和电解液组成，金属电极与塑料外壳形成装满电解液的密封罐体，第一液体电流密度计和第二液体电流密度计的探头分别置于所述第一导线和第二导体内部的电解液中，第一液体电流密度计和第二液体电流密度计分别与第一导线和第二导体密封连接，绝缘垫片由第一导线和第二导体夹住，第一导线和第二导体与变频电源并联。本实用新型能够定性和定量测量不同深度的电流密度，帮助研究人员深入研究绕组导线中邻近效应的影响。
一种绕组导线邻近效应影响测试装置

[发明专利]一种集肤效应测量装置及方法-CN202010794038.6在审
发明人：吕富勇;陆升阳;何浩;柳加旺;康俊鹏;巫江涛;江鸿;周家豪;尹伊然 -专利权人：南京信息工程大学
申请日： 2020-08-10 - 公布日： 2020-12-01 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种集肤效应测量装置及方法，装置包括：待测导体，其具有相对平行设置的两个端面；信号发生电路用于发射交流驱动信号，交流驱动信号经所述功率放大电路放大后作为激励信号输入到所述待测导体的一个端面；探孔，开设于所述待测导体的另一端面上；第一探针，插接设置在所述探孔内，并且探头与所述探孔的孔底相接触，第一探针的尾部通过导线与一个第一负载一端连接，第一负载的另一端与所述采样保持电路连接；第二探针，其探头抵触连接在待测导体上与所述探孔相同端面处，第二探针的尾部通过导线与一个第二负载一端连接，第二负载的另一端与所述采样保持电路连接；采样保持电路采集的信号通过串口通信电路传送至上位机。
一种效应测量装置方法

[发明专利]一种金属半导体界面复合电流密度的测试方法-CN201711460517.9有效
发明人：万松博;邓伟伟;蒋方丹;邢国强 -专利权人：苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯阳光电力集团有限公司
申请日： 2017-12-28 - 公布日： 2020-06-05 - 主分类号： G01R19/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种金属半导体界面复合电流密度的测试方法，该金属半导体界面复合电流密度的测试方法包括：提供测试样品组，所述测试样品为具有第一表面和第二表面的第一态样品；检测第一态样品中第一表面的第一电流密度；在第一表面上形成第一金属层，以形成第二态样品；第一金属层包括N个相似的金属图案，不同所述金属图案对应的第一面积比不同；利用Suns‑Voc测试仪检测第二态样品中各金属图案对应的第二电流密度；基于第一电流密度、各金属图案的第一面积比以及对应的第二电流密度，得到第一金属层与半导体界面的复合电流密度。本发明提供的方案实现了简单快速地进行金属半导体界面复合电流密度测试，且测试结果真实准确的效果。
一种金属半导体界面复合电流密度测试方法

1
2
3
4
5
下一页»
尾页
共 64 条