[发明专利]双位3T高密度MTPROM阵列及其操作方法有效
申请号: | 201611113722.3 | 申请日: | 2016-12-07 |
公开(公告)号: | CN107025939B | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | R·拉加万;B·贾亚拉曼;J·维拉拉格哈万;T·肯庞纳;R·R·图姆穆鲁;T·基里哈塔 | 申请(专利权)人: | 马维尔亚洲私人有限公司 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10;G11C16/14;G11C16/26 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及双位3T高密度MTPROM阵列,其提供一种多次可编程存储器(MTPM)存储器单元及其操作方法。各MTPM位单元包括:第一FET晶体管与第二FET晶体管具有第一共同连接,且第二FET晶体管与第三FET晶体管具有第二共同连接,第一与第二相连的FET晶体管可编程以储存第一位值,且第二FET与第三相连的FET晶体管可编程以储存第二位值,其中,第一FET晶体管呈现低阈值电压值(LVT),第二FET晶体管呈现高阈值电压值(HVT)以及第三FET晶体管呈现低于HVT的阈值LVT。MTPM单元使两位信息能够被储存为类似电熔丝的默认位值。为储存相反的位值,编程LVT晶体管以使其阈值电压值高于HVT的阈值电压值。 | ||
搜索关键词: | 高密度 mtprom 阵列 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
一种多次可编程(multi‑time programmable;MTP)位单元,包括:第一FET晶体管与第二FET晶体管具有第一共同连接,且该第二FET晶体管与第三FET晶体管具有第二共同连接,该第一与第二相连的FET晶体管可编程以储存第一位值,且该第二FET与该第三相连的FET晶体管可编程以储存第二位值,其中,该第一FET晶体管呈现低阈值电压值(LVT),该第二FET晶体管呈现高阈值电压值HVT以及该第三FET晶体管呈现低于HVT的阈值LVT。
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