[发明专利]一种镀膜方法和镀膜系统及稀土磁体的制备方法有效

专利信息
申请号: 201610608193.8 申请日: 2016-07-28
公开(公告)号: CN106282948B 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 李志学;李绍芳;冯志兵;李景宏 申请(专利权)人: 北京中科三环高技术股份有限公司;天津三环乐喜新材料有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/56;C23C14/16;H01F41/02;H01F41/18
代理公司: 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙)11446 代理人: 刘国伟,鲍晓芳
地址: 100190 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种镀膜方法和镀膜系统及稀土磁体的制备方法。本发明的方法和系统将磁体在水平方向多行排列在传送装置上;多行排列的磁体依次通过溅射镀膜设备的溅射区,完成镀膜;溅射镀膜设备与磁体上表面的垂直距离为10‑200mm。本发明的方法和系统采用连续通过式的磁控溅射设备溅射Dy、Tb等重稀土金属在磁体表面,有效控制溅射层的厚度,保证溅射层的均匀,从而保证对溅射后磁体进行晶界扩散处理后的磁片磁性能均匀,可实现晶界扩散技术制备磁体的快速连续生产。
搜索关键词: 一种 镀膜 方法 系统 稀土 磁体 制备
【主权项】:
一种镀膜方法,用于稀土磁体的镀膜,其特征在于,包括步骤:A、将磁体在水平方向多行排列在托盘上;B、将所述托盘送入镀膜区,所述托盘带动所述磁体往复多次通过溅射镀膜设备的溅射区,所述磁体往复通过所述溅射区的次数为2n+1次,所述n为整数,所述溅射镀膜设备与磁体上表面的垂直距离为10‑200mm;在溅射发生时,开启所述镀膜区的镀膜室传送辊上的负偏压发生器,所述托盘底部的中空区域分布不同电阻值的金属构件,使得所述中空区域的中间电阻值低,两侧电阻值高,所述托盘表面区域电阻值不同,对应施加到磁体的电压值不同,靶材两侧散射的离子流向中间区域聚焦;C、完成镀膜后,所述托盘带动所述磁体移出所述镀膜区。
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