[发明专利]一种嵌入式闪存及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201410217820.6 申请日: 2014-05-21
公开(公告)号: CN105097708A 公开(公告)日: 2015-11-25
发明(设计)人: 王新鹏 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L21/8247 分类号: H01L21/8247;H01L27/115
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 董巍;高伟
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种嵌入式闪存及其制作方法。该方法包括:提供半导体衬底,该半导体衬底上形成有多个浮动栅极,在相邻的浮动栅极之间形成有隔离材料层;对隔离材料层进行第一回刻蚀,以形成凹槽;在浮动栅极上和第一回刻蚀后的隔离材料层上形成补偿层;对补偿层进行刻蚀至露出浮动栅极的上表面,并对第一回刻蚀后的隔离材料层进行第二回刻蚀,以形成隔离结构,其中隔离结构的上表面呈碗形;在隔离结构上和浮动栅极上依次形成介电层和控制栅极。本发明提供的方法能够在保证耦合率和数据保存性能的前提下,提高控制栅极和有源区之间的击穿电压。进一步地,由于击穿电压得到提高,因此可以考虑适当减小距离,以在一定程度上改善耦合率和数据保存性能。
搜索关键词: 一种 嵌入式 闪存 及其 制作方法
【主权项】:
一种嵌入式闪存的制作方法,其特征在于,所述方法包括:a)提供半导体衬底,所述半导体衬底上形成有多个浮动栅极,在相邻的所述浮动栅极之间形成有隔离材料层;b)对所述隔离材料层进行第一回刻蚀,以形成凹槽;c)在所述浮动栅极上和所述第一回刻蚀后的隔离材料层上形成补偿层;d)对所述补偿层进行刻蚀至露出所述浮动栅极的上表面,并对所述第一回刻蚀后的隔离材料层进行第二回刻蚀,以形成隔离结构,其中所述隔离结构的上表面呈碗形;以及e)在所述隔离结构上和所述浮动栅极上依次形成介电层和控制栅极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410217820.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top