[发明专利]嵌入式设备烧机测试方法无效
申请号: | 201010300308.X | 申请日: | 2010-01-14 |
公开(公告)号: | CN102129403A | 公开(公告)日: | 2011-07-20 |
发明(设计)人: | 田志海;曹朝杰;董华 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种嵌入式设备烧机测试方法,该方法包括:于计算机中设置测试时间并启动外置存储设备中的嵌入式设备烧机测试程序,使该嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中运行;断开计算机与嵌入式设备间的连接,并将外置存储设备与嵌入式设备断开;在上述设置的测试时间内对该嵌入式设备进行测试;标识测试结果并将嵌入式设备断电,使得嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中被清除。利用本发明可嵌入式设备内存中的嵌入式设备烧机测试程序自动清除,提高了烧机测试效率。 | ||
搜索关键词: | 嵌入式 设备 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种嵌入式设备烧机测试方法,其特征在于,该嵌入式设备烧机测试方法包括:于计算机中设置测试时间并启动外置存储设备中的嵌入式设备烧机测试程序,使该嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中运行;断开计算机与嵌入式设备间的连接,并将外置存储设备与嵌入式设备断开;在上述设置的测试时间内对该嵌入式设备进行测试;及标识测试结果并将嵌入式设备断电,使得嵌入式设备烧机测试程序在嵌入式设备的内存中被清除。
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