[发明专利]功率半导体模块有效
申请号: | 201380081727.0 | 申请日: | 2013-12-17 |
公开(公告)号: | CN105830204B | 公开(公告)日: | 2018-09-18 |
发明(设计)人: | 川口安人 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/48 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明缓和功率半导体芯片表面的电场强度,实现制造工序内缺陷的减少、以及可靠性的提高。本发明具有配置在绝缘基板(2)之上的功率半导体芯片(4),本发明还具有:配线(5),其与功率半导体芯片的元件区域(4A)处的表面导体图案连接;低介电常数膜(8),其配置在配线与周边区域(4B)之间;以及封装材料(6),其是覆盖绝缘基板、功率半导体芯片、配线以及低介电常数膜而形成的,低介电常数膜具有比封装材料低的介电常数。 | ||
搜索关键词: | 功率 半导体 模块 | ||
【主权项】:
1.一种功率半导体模块,其具有:绝缘基板;以及功率半导体芯片,其配置在所述绝缘基板之上,在所述绝缘基板的表面之上,形成上表面电极,在所述功率半导体芯片的表面之上,形成表面导体图案,在所述功率半导体芯片的背面之上,形成背面导体图案,在所述功率半导体芯片的表面规定元件区域和周边区域,该周边区域在俯视观察时包围所述元件区域,所述绝缘基板的所述上表面电极和所述功率半导体芯片的所述背面导体图案经由焊料而连接,该功率半导体模块还具有:配线,其与所述功率半导体芯片的所述元件区域处的所述表面导体图案连接;低介电常数膜,其配置在所述配线与所述周边区域之间;以及封装材料,其是覆盖所述绝缘基板、所述功率半导体芯片、所述配线以及所述低介电常数膜而形成的,所述低介电常数膜具有比所述封装材料低的介电常数,所述低介电常数膜位于所述功率半导体芯片的表面之上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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