[发明专利]用于形成抗蚀剂下层膜的组合物有效
申请号: | 201380023663.9 | 申请日: | 2013-04-26 |
公开(公告)号: | CN104303107A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 远藤贵文;坂本力丸;藤谷德昌 | 申请(专利权)人: | 日产化学工业株式会社 |
主分类号: | G03F7/11 | 分类号: | G03F7/11;H01L21/027 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 段承恩;田欣 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: |
本发明的课题是提供一种用于形成抗蚀剂下层膜的组合物,所述抗蚀剂下层膜能够提高与抗蚀剂图案之间的附着性。解决手段是一种用于形成光刻用抗蚀剂下层膜的组合物,其含有聚合物和有机溶剂,所述聚合物在末端具有下述式(1a)、式(1b)或式(2)所表示的结构。式中,R1表示氢原子或甲基,R2和R3分别独立地表示氢原子或烃基等有机基团,所述烃基可以具有至少1个羟基或甲基硫基作为取代基,R4表示氢原子或羟基,Q1表示亚芳基,v表示0或1,y表示1~4的整数,w表示1~4的整数,x1表示0或1,x2表示1~5的整数。 |
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搜索关键词: | 用于 形成 抗蚀剂 下层 组合 | ||
【主权项】:
一种用于形成光刻用抗蚀剂下层膜的组合物,其含有聚合物和有机溶剂,所述聚合物在末端具有下述式(1a)、式(1b)或式(2)所表示的结构,
式中,R1表示氢原子或甲基,R2和R3分别独立地表示氢原子、碳原子数1~6的直链状或支链状的烃基、脂环式烃基、苯基、苯甲基、苯甲基氧基、苯甲基硫基、咪唑基或吲哚基,所述烃基、所述脂环式烃基、所述苯基、所述苯甲基、所述苯甲基氧基、所述苯甲基硫基、所述咪唑基、所述吲哚基可以具有至少1个羟基或甲基硫基作为取代基,R4表示氢原子或羟基,Q1表示亚芳基,v表示0或1,y表示1~4的整数,w表示1~4的整数,x1表示0或1,x2表示1~5的整数。
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