[发明专利]通孔优先铜互连制作方法无效
申请号: | 201310565714.2 | 申请日: | 2013-11-13 |
公开(公告)号: | CN103646912A | 公开(公告)日: | 2014-03-19 |
发明(设计)人: | 毛智彪 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 陆花 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种通孔优先铜互连制作方法,包括:提供硅基衬底,并依次沉积低k值介质层、硬掩模薄膜、第一无定形碳薄膜,且在第一无定形碳薄膜上涂布第一光刻胶;曝光和显影在第一光刻胶中,并形成第一通孔;在硬掩模薄膜中形成第二通孔;在硬掩模薄膜上沉积第二无定形碳薄膜,并涂布第二光刻胶;曝光和显影在第二光刻胶中,并形成第一金属槽;在低k值介质层中形成通孔和金属槽;实现导线金属和通孔金属填充。本发明通过使用第一无定形碳薄膜和第二无定形碳薄膜,并结合可形成硬膜之第一光刻胶和第二光刻胶,不仅减少了工艺材料和工艺步骤,提高了光刻工艺能力,并可以满足刻蚀后图形结构均匀度的要求,而且有效的提高产能和减少制作成本。 | ||
搜索关键词: | 优先 互连 制作方法 | ||
【主权项】:
一种通孔优先铜互连制作方法,其特征在于,所述通孔优先铜互连制作方法包括:执行步骤S1:提供硅基衬底,并在所述硅基衬底上依次沉积所述低k值介质层、硬掩模薄膜、第一无定形碳薄膜,且在所述第一无定形碳薄膜上涂布可形成硬膜之第一光刻胶;执行步骤S2:曝光和显影在所述第一光刻胶中,并形成所述第一通孔;执行步骤S3:依次以所述第一光刻胶和所述第一无定形碳薄膜为刻蚀掩模,在所述硬掩模薄膜中形成所述第二通孔,并去除多余的所述第一无定形碳薄膜;执行步骤S4:在所述硬掩模薄膜上沉积第二无定形碳薄膜,并在所述第二无定形碳薄膜上涂布可形成硬膜之第二光刻胶;执行步骤S5:曝光和显影在所述第二光刻胶中,并形成所述第一金属槽;执行步骤S6:依次以所述第二光刻胶、第二无定形碳薄膜和所述硬掩模薄膜为刻蚀掩模,并在所述低k值介质层中形成所述通孔和所述金属槽;执行步骤S7:进行所述金属沉积和所述化学机械研磨工艺,实现所述导线金属和所述通孔金属填充。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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