[发明专利]通孔优先铜互连制作方法无效

专利信息
申请号: 201310565714.2 申请日: 2013-11-13
公开(公告)号: CN103646912A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: 毛智彪 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 陆花
地址: 201203 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种通孔优先铜互连制作方法,包括:提供硅基衬底,并依次沉积低k值介质层、硬掩模薄膜、第一无定形碳薄膜,且在第一无定形碳薄膜上涂布第一光刻胶;曝光和显影在第一光刻胶中,并形成第一通孔;在硬掩模薄膜中形成第二通孔;在硬掩模薄膜上沉积第二无定形碳薄膜,并涂布第二光刻胶;曝光和显影在第二光刻胶中,并形成第一金属槽;在低k值介质层中形成通孔和金属槽;实现导线金属和通孔金属填充。本发明通过使用第一无定形碳薄膜和第二无定形碳薄膜,并结合可形成硬膜之第一光刻胶和第二光刻胶,不仅减少了工艺材料和工艺步骤,提高了光刻工艺能力,并可以满足刻蚀后图形结构均匀度的要求,而且有效的提高产能和减少制作成本。
搜索关键词: 优先 互连 制作方法
【主权项】:
一种通孔优先铜互连制作方法,其特征在于,所述通孔优先铜互连制作方法包括:执行步骤S1:提供硅基衬底,并在所述硅基衬底上依次沉积所述低k值介质层、硬掩模薄膜、第一无定形碳薄膜,且在所述第一无定形碳薄膜上涂布可形成硬膜之第一光刻胶;执行步骤S2:曝光和显影在所述第一光刻胶中,并形成所述第一通孔;执行步骤S3:依次以所述第一光刻胶和所述第一无定形碳薄膜为刻蚀掩模,在所述硬掩模薄膜中形成所述第二通孔,并去除多余的所述第一无定形碳薄膜;执行步骤S4:在所述硬掩模薄膜上沉积第二无定形碳薄膜,并在所述第二无定形碳薄膜上涂布可形成硬膜之第二光刻胶;执行步骤S5:曝光和显影在所述第二光刻胶中,并形成所述第一金属槽;执行步骤S6:依次以所述第二光刻胶、第二无定形碳薄膜和所述硬掩模薄膜为刻蚀掩模,并在所述低k值介质层中形成所述通孔和所述金属槽;执行步骤S7:进行所述金属沉积和所述化学机械研磨工艺,实现所述导线金属和所述通孔金属填充。
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