[发明专利]芯片接合机及其接合头装置、以及夹头位置调整方法有效
申请号: | 201310411222.8 | 申请日: | 2013-09-11 |
公开(公告)号: | CN104051294A | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | 小桥英晴;滩本启佑;中岛宜久 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术仪器 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强;严星铁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供能利用简单的结构也包括高度、倾斜而自动地对更换夹头时的误差进行修正(调整)的芯片接合机、接合头装置以及夹头位置调整方法。为了进行更换具备向内部引导真空的支架(41h)、以及能装卸地安装在支架的前端的柄(41s)与夹头(41c)的接合头装置中的夹头后的夹头的位置调整,在更换夹头前,将该夹头的背面配置在接合头装置的下方,利用由非远心透镜构成光学系统的背面摄像机(42)进行摄像,在更换夹头后,利用背面摄像机构对更换后的夹头的背面进行摄像,以更换前后的夹头图像一致的方式修正夹头的位置。 | ||
搜索关键词: | 芯片 接合 及其 装置 以及 夹头 位置 调整 方法 | ||
【主权项】:
一种夹头位置调整方法,其进行更换接合头装置中的上述夹头后的夹头位置调整,该接合头至少具备向内部引导用于吸附的真空的支架、以及能装卸地安装在该支架的前端的夹头,该夹头位置调整方法的特征在于,在更换上述夹头前,将该夹头的背面配置在上述接合头装置的下方,利用由非远心透镜构成光学系统的背面摄像机构进行摄像,在更换上述夹头后,利用上述背面摄像机构对更换后的夹头的背面进行摄像,以利用由上述非远心透镜构成光学系统的背面摄像机构所摄的更换前后的夹头图像一致的方式修正上述夹头的位置。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造