[发明专利]薄膜晶体管及其制造方法和具有该薄膜晶体管的显示装置有效

专利信息
申请号: 201310212002.2 申请日: 2013-05-31
公开(公告)号: CN104218090B 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 陈韦廷;黄俊杰 申请(专利权)人: 上海和辉光电有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/51;H01L21/336;H01L21/285
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司72003 代理人: 刘春生,于宝庆
地址: 201500 上海市金山区*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供一种薄膜晶体管,包括绝缘基板、栅极、栅极绝缘层、有源半导体层和源电极/漏电极层,其中栅极绝缘层包括:第一氮化硅膜、设于第一氮化硅膜上的第二氮化硅膜、设于第二氮化硅膜上的第三氮化硅膜,第一与第三氮化硅膜的厚度小于第二氮化硅膜的厚度,且第一与第三氮化硅膜中的N‑H键含量低于第二氮化硅膜中的N‑H键含量。还提供具有上述薄膜晶体管的显示装置。本发明通过改变栅极绝缘层的成膜结构和成膜膜质,改善了其耐击穿和防漏电性能,从而提高了薄膜晶体管的击穿耐压性和可靠性,进而提升了显示装置的良率和品质。
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制造 方法 具有 显示装置
【主权项】:
一种具有改进的栅极绝缘层的薄膜晶体管,包括:绝缘基板;栅极,形成于所述绝缘基板之上;栅极绝缘层,形成于所述栅极之上;有源半导体层,形成于所述栅极绝缘层之上;以及源电极/漏电极层,形成于所述有源半导体层之上,其中所述栅极绝缘层包括:第一氮化硅膜、设置于所述第一氮化硅膜之上的第二氮化硅膜、设置于所述第二氮化硅膜之上的第三氮化硅膜,所述第一氮化硅膜与所述第三氮化硅膜的厚度小于所述第二氮化硅膜的厚度,且所述第一氮化硅膜与所述第三氮化硅膜中的N‑H键含量低于所述第二氮化硅膜中的N‑H键含量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海和辉光电有限公司,未经上海和辉光电有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310212002.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top