[发明专利]等离子体处理装置以及等离子体处理方法有效
申请号: | 201210517334.7 | 申请日: | 2012-12-05 |
公开(公告)号: | CN103151234A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 奥村智洋 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 刘晓迪 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明公开了等离子体处理装置及等离子体处理方法,该等离子体处理装置包括:(1)腔室,其被电介质部件包围,且具备作为等离子体喷出口的开口部;(2)气体供给配管,其向腔室内部导入气体;(3)螺线管线圈,其配置在腔室附近;(4)高频电源,其连接于螺线管线圈,且具备脉冲调制功能;以及(5)基材载置台,其配置在等离子体喷出口侧。根据该等离子体处理装置,能够稳定地生成等离子体。 | ||
搜索关键词: | 等离子体 处理 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
等离子体处理装置,包括:腔室,其被电介质部件包围,且具备作为等离子体喷出口的开口部;气体供给配管,其向所述腔室内部导入气体;螺线管线圈,其配置在所述腔室附近;高频电源,其连接于所述螺线管线圈,且具备脉冲调制功能;以及基材载置台,其配置在所述等离子体喷出口侧。
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