[发明专利]等离子体处理装置以及等离子体处理方法有效

专利信息
申请号: 201210517334.7 申请日: 2012-12-05
公开(公告)号: CN103151234A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 奥村智洋 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 刘晓迪
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了等离子体处理装置及等离子体处理方法,该等离子体处理装置包括:(1)腔室,其被电介质部件包围,且具备作为等离子体喷出口的开口部;(2)气体供给配管,其向腔室内部导入气体;(3)螺线管线圈,其配置在腔室附近;(4)高频电源,其连接于螺线管线圈,且具备脉冲调制功能;以及(5)基材载置台,其配置在等离子体喷出口侧。根据该等离子体处理装置,能够稳定地生成等离子体。
搜索关键词: 等离子体 处理 装置 以及 方法
【主权项】:
等离子体处理装置,包括:腔室,其被电介质部件包围,且具备作为等离子体喷出口的开口部;气体供给配管,其向所述腔室内部导入气体;螺线管线圈,其配置在所述腔室附近;高频电源,其连接于所述螺线管线圈,且具备脉冲调制功能;以及基材载置台,其配置在所述等离子体喷出口侧。
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