[发明专利]一种多晶硅硅片两次扩散的制造方法有效

专利信息
申请号: 201210056535.1 申请日: 2012-03-06
公开(公告)号: CN102586884A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 范志东;王静;张东升;赵学玲;吝占胜 申请(专利权)人: 英利能源(中国)有限公司
主分类号: C30B31/00 分类号: C30B31/00;C30B33/02;C30B29/06;H01L31/18
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 逯长明
地址: 071051 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种多晶硅硅片制PN结两次扩散的制造方法,该方法包括:步骤S1恒定源扩散、步骤S2升温限定源扩散、步骤S3恒定源扩散。在本发明中,由于步骤S3恒定源扩散,增加了对多晶硅硅片表面杂质磷的沉积。因此,在步骤S1中,可以相应地减少一次沉积的杂质磷,从而避免了杂质磷的过量沉积。并且,步骤S3是在高温下,此时多晶硅对磷原子的固溶度增加,沉积的杂质磷不需要再进行推进,通过控制杂质磷的沉积量来控制杂质磷在多晶硅中的溶解量,避免了由于过量沉积并再次进行推进而产生的“死区”存在。本发明所提供的多晶硅硅片制PN结两次扩散的制造方法能够实现解决多晶硅硅片制PN结后所存在的表面“死层”问题的目的。
搜索关键词: 一种 多晶 硅片 两次 扩散 制造 方法
【主权项】:
一种多晶硅硅片两次扩散的制造方法,其特征在于,包括步骤:1)在730℃至820℃的温度下对多晶硅硅片进行第一次恒定源扩散;2)在830℃至870℃的温度下对多晶硅硅片进行限定源扩散:3)在830℃至870℃的温度下对多晶硅硅片进行第二次恒定源扩散。
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