[发明专利]SiC结势垒肖特基二极管及其制作方法有效
申请号: | 201110380662.2 | 申请日: | 2011-11-25 |
公开(公告)号: | CN102437201A | 公开(公告)日: | 2012-05-02 |
发明(设计)人: | 白云;申华军;汤益丹;李博;周静涛;杨成樾;刘焕明;刘新宇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/06;H01L21/329;H01L21/265 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供SiC结势垒肖特基二极管,包括肖特基金属下的P型区,所述肖特基金属下的P型区分别由P+-SiC和P--SiC两个区域构成;所述SiC结势垒肖特基二极管的结终端延伸区域由P--SiC区构成。本发明还提供SiC结势垒肖特基二极管的制作方法。本发明提供的SiC结势垒肖特基二极管的制作方法降低了工艺的复杂度,减小了两次或多次Al离子注入工艺引入不利影响因素的可能性。 | ||
搜索关键词: | sic 结势垒肖特基 二极管 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种SiC结势垒肖特基二极管,其特征在于,包括:肖特基金属下的P型区,所述肖特基金属下的P型区分别由P+‑SiC和P‑‑SiC两个区域构成;所述SiC结势垒肖特基二极管的结终端延伸区域由P‑‑SiC区构成。
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