[发明专利]非易失性半导体存储器设备有效

专利信息
申请号: 201110292340.2 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN102446548A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 川端优;山崎信夫;石原数也;大西润哉;粟屋信义;玉井幸夫 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G11C13/00 分类号: G11C13/00;H01L27/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 曲宝壮;王忠忠
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 非易失性半导体存储器设备。非易失性半导体存储器设备包括用于存储用户数据的存储器单元阵列,其通过布置存储器单元提供,每个存储器单元具有可变电阻元件,该可变电阻元件具有第一电极2、第二电极3以及夹置在第一电极和第二电极之间由金属氧化物制成的可变电阻器4。第一和第二电极分别由与该可变电阻器4形成欧姆结的导电材料和与该可变电阻器4形成非欧姆结的导电材料形成。可变电阻器通过在电极之间施加电压在两个或更多不同电阻状态之间变化。变化之后的电阻状态以非易失性方式维持。在存储器单元阵列用于存储用户数据之前的未使用状态,存储器单元阵列中的所有存储器单元的可变电阻元件被设置为两个或更多不同电阻状态的最高电阻状态。
搜索关键词: 非易失性 半导体 存储器 设备
【主权项】:
一种非易失性半导体存储器设备,包括:用于存储用户数据的存储器单元阵列,通过布置多个存储器单元提供,每个存储器单元设置有可变电阻元件,该可变电阻元件包括第一电极、第二电极以及由金属氧化物制成且夹置在第一电极和第二电极之间的可变电阻器,其中该金属氧化物在初始状态是绝缘体,该可变电阻元件的电阻通过成形工艺减小,在成形工艺之后通过在第一和第二电极之间施加电压,该可变电阻元件的电阻状态在两个或更多不同电阻状态之间变化,变化之后的电阻状态以非易失性方式维持,并且在存储器单元阵列用于存储用户数据之前的未使用状态,存储器单元阵列中的所有存储器单元的可变电阻元件被设置为两个或更多不同电阻状态的最高电阻状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110292340.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top