[发明专利]一种半导体发光器件及电流扩散层的制备方法有效
申请号: | 201110163904.2 | 申请日: | 2011-06-17 |
公开(公告)号: | CN102832297A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 陈万世;张旺 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;C23C14/08;C23C14/30 |
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地址: | 518118 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体发光器件中电流扩散层的制备方法,所述方法包括以下步骤:S11、提供一承载所述电流扩散层的外延片,在所述外延片上通过直流电子枪加热蒸发ITO源沉积一ITO薄膜层;S12、在沉积完85-90%厚度的ITO薄膜层的同时,通过脉冲电流电子枪加热蒸发掺杂的ZnO源,控制脉冲电流的占空比,在所述ITO薄膜层上沉积一层间断排列的掺杂的ZnO薄膜,所述掺杂的ZnO薄膜的沉积速率大于ITO薄膜层的沉积速率;S13、在沉积完掺杂的ZnO薄膜层的同时,继续通过直流电子枪加热蒸发ITO源沉积ITO薄膜层,使掺杂的ZnO薄膜层掩埋在ITO薄膜层中。本发明还提供一种半导体发光器件的制备方法。本发明实现了原位的粗化方法,节约了生产成本;同时,不需要使用腐蚀液,提供了安全保障。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 发光 器件 电流 扩散 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体发光器件中电流扩散层的制备方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:S11、提供一承载所述电流扩散层的外延片,在所述外延片上通过直流电子枪加热蒸发ITO源沉积一ITO薄膜层;S12、在沉积完85‑90%厚度的ITO薄膜层的同时,通过脉冲电流电子枪加热蒸发掺杂的ZnO源,控制脉冲电流的占空比,在所述ITO薄膜层上沉积一层间断排列的掺杂的ZnO薄膜,所述掺杂的ZnO薄膜的沉积速率大于ITO薄膜层的沉积速率;S13、在沉积完掺杂的ZnO薄膜层的同时,继续通过直流电子枪加热蒸发ITO源沉积ITO薄膜层,使掺杂的ZnO薄膜层掩埋在ITO薄膜层中。
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