[发明专利]一种半导体发光器件及电流扩散层的制备方法有效

专利信息
申请号: 201110163904.2 申请日: 2011-06-17
公开(公告)号: CN102832297A 公开(公告)日: 2012-12-19
发明(设计)人: 陈万世;张旺 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;C23C14/08;C23C14/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518118 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种半导体发光器件中电流扩散层的制备方法,所述方法包括以下步骤:S11、提供一承载所述电流扩散层的外延片,在所述外延片上通过直流电子枪加热蒸发ITO源沉积一ITO薄膜层;S12、在沉积完85-90%厚度的ITO薄膜层的同时,通过脉冲电流电子枪加热蒸发掺杂的ZnO源,控制脉冲电流的占空比,在所述ITO薄膜层上沉积一层间断排列的掺杂的ZnO薄膜,所述掺杂的ZnO薄膜的沉积速率大于ITO薄膜层的沉积速率;S13、在沉积完掺杂的ZnO薄膜层的同时,继续通过直流电子枪加热蒸发ITO源沉积ITO薄膜层,使掺杂的ZnO薄膜层掩埋在ITO薄膜层中。本发明还提供一种半导体发光器件的制备方法。本发明实现了原位的粗化方法,节约了生产成本;同时,不需要使用腐蚀液,提供了安全保障。
搜索关键词: 一种 半导体 发光 器件 电流 扩散 制备 方法
【主权项】:
一种半导体发光器件中电流扩散层的制备方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:S11、提供一承载所述电流扩散层的外延片,在所述外延片上通过直流电子枪加热蒸发ITO源沉积一ITO薄膜层;S12、在沉积完85‑90%厚度的ITO薄膜层的同时,通过脉冲电流电子枪加热蒸发掺杂的ZnO源,控制脉冲电流的占空比,在所述ITO薄膜层上沉积一层间断排列的掺杂的ZnO薄膜,所述掺杂的ZnO薄膜的沉积速率大于ITO薄膜层的沉积速率;S13、在沉积完掺杂的ZnO薄膜层的同时,继续通过直流电子枪加热蒸发ITO源沉积ITO薄膜层,使掺杂的ZnO薄膜层掩埋在ITO薄膜层中。
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