[发明专利]半导体装置制造方法有效
申请号: | 200610107560.2 | 申请日: | 2006-07-27 |
公开(公告)号: | CN1905136A | 公开(公告)日: | 2007-01-31 |
发明(设计)人: | 藤井严 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L21/3205 | 分类号: | H01L21/3205;H01L21/336;H01L33/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 刘红;梁永 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 半导体装置制造方法,包括步骤:在具有透光性能的衬底上形成栅电极层;在该栅电极层上形成栅绝缘层;在该栅绝缘层上形成光催化剂材料;将该光催化剂材料浸没在包含电镀催化剂材料的溶液中,以栅电极层为掩模在包含该电镀催化剂材料的溶液中将该光催化剂材料曝光于透射穿过衬底的光线,从而将该电镀催化剂材料吸附或沉积到被曝光的光催化剂材料上;将该电镀催化剂材料浸没在包含金属材料的电镀溶液中,从而在吸附或沉积该电镀催化剂材料的光催化剂材料表面上形成源电极层和漏电极层;以及在该源电极层和漏电极层上形成半导体层。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.半导体装置制造方法,包括步骤:在具有透光性能的衬底上形成第一导电层;在该第一导电层上形成绝缘层;在该绝缘层上形成光催化剂材料;将该光催化剂材料浸没在包含电镀催化剂材料的溶液中,以第一导电层为掩模在包含该电镀催化剂材料的溶液中将该光催化剂材料的第一部分和第二部分曝光于透射穿过衬底的光线,从而将该电镀催化剂材料沉积到该光催化剂材料的部分上;将该电镀催化剂材料浸没在包含金属材料的电镀溶液中,从而分别在该光催化剂材料的第一部分和第二部分上形成第二导电层和第三导电层;以及在该第二导电层和第三导电层上形成半导体层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造