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[发明专利]中心注液式光学抛光头-CN202210388316.7在审
发明人：侯瑞;邵建达;嵇文超;顿爱欢;吴伦哲;杨扬;刘斌;吴令奇;徐学科 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2022-04-11 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： B24B13/00 文献下载
摘要：一种中心注液式光学抛光头，包括装置支架、驱动轴、涨紧轴和抛光轴。装置支架由高强度铝合金板拼接。驱动轴包括：驱动电机、联轴器套、联轴器、第一轴承(1对)、轴套、转轴、第一锁紧环和第一同步带轮。涨紧轴包括锁紧螺母、涨紧杆、反力块和涨紧轮。所述的抛光轴包括接头固定架、回转接头、第二轴承(1对)、抛光轴套、轴承压紧板、第二锁紧环、第二同步带轮、抛光盘、抛光海绵、抛光杆、胀套、夹头螺帽、内部液管和内部喷头。本发明适用于先进的光学镜片全自动抛光和修形，具有抛光液内部中心注液、出液均匀、定量可控的特点，在保证抛光质量的前提下，有效控制成本，配合工业机器人可实现全自动高速稳定抛光和修形。
中心注液式光学抛光

[发明专利]一种蓝宝石曲面加工方法-CN202111021072.0在审
发明人：王哲;吴令奇;方媛媛;徐学科;朱小磊;顿爱欢 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2021-09-01 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： B24B13/00 文献下载
摘要：本发明涉及特种光学材料加工领域，具体是一种蓝宝石曲面加工方法，该方法包括：成型、研磨和抛光三步，突破了蓝宝石材料的高精度超光滑曲面加工技术瓶颈，工艺成熟稳定。
一种蓝宝石曲面加工方法

[实用新型]一种多通道串联沿程阻力实验装置-CN202221906781.7有效
发明人：徐位欣;周珍妮;吕玉炜;吴令奇 -专利权人：杭州育泽科技有限公司
申请日： 2022-07-20 - 公布日： 2023-02-14 - 主分类号： G09B25/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种多通道串联沿程阻力实验装置，属于沿程实验装置领域。装置的蓄水箱的出水通过增压泵增压后与稳压罐相连，增压泵的出口处还设有与蓄水箱连通的分流管；稳压罐依次与第一波纹管、第一实验管、第二波纹管、第二实验管、第三波纹管、第三实验管相连；第三实验管的另一端出设有流量控制阀，且出口处设有回水漏斗，回水漏斗通过回水管与蓄水箱相连。本实用新型实验装置设有三根管道，可以同时测量，节约时间且能更明显的比对管道之间的差异。本实用新型的三根管道由实验管连接波纹管连接，避免漏水的情况发生。本装置连接分析仪，可将数据直观而准确的显现，节约了人工测量的时间，还提高了数据的准确性。
一种通道串联阻力实验装置

[实用新型]一种升降式流体静力学实验装置-CN202221910905.9有效
发明人：章上千;吴令奇;孟欣苇;吕玉炜 -专利权人：杭州育泽科技有限公司
申请日： 2022-07-20 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G09B23/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种升降式流体静力学实验装置，属于流体静力学实验装置领域。该装置的水位升降筒顶部敞开，能实现竖直方向上的移动，底部与测量筒底部连通；封闭的测量筒顶部设有连接阀和排气阀；连接阀通过虹吸导管与探测杯连通，且虹吸导管的出口端位于探测杯液面以下；测量筒侧壁上部气体区域处设有第一测点，位于液面以下的侧壁处由上至下设有第二测点和第三测点，底部设有第四测点；测压计包括分别用于测量测量筒中第二测点、第三测点和第四测点处压力的第一测压管、第二测压管和第三测压管。本实用新型的加压减压方便快速且实验仪器简单直观，测量数据时不需要使用尺子，可直接根据刻度背板进行测量，符合现代教学要求。
一种升降流体静力学实验装置

[实用新型]中心注液式光学抛光头-CN202220854095.3有效
发明人：侯瑞;邵建达;嵇文超;顿爱欢;吴伦哲;杨扬;刘斌;吴令奇;徐学科 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2022-04-11 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： B24B13/00 文献下载
摘要：一种中心注液式光学抛光头，包括装置支架、驱动轴、涨紧轴和抛光轴。装置支架由高强度铝合金板拼接。驱动轴包括：驱动电机、联轴器套、联轴器、第一轴承(1对)、轴套、转轴、第一锁紧环和第一同步带轮。涨紧轴包括锁紧螺母、涨紧杆、反力块和涨紧轮。所述的抛光轴包括接头固定架、回转接头、第二轴承(1对)、抛光轴套、轴承压紧板、第二锁紧环、第二同步带轮、抛光盘、抛光海绵、抛光杆、胀套、夹头螺帽、内部液管和内部喷头。本实用新型适用于先进的光学镜片全自动抛光和修形，具有抛光液内部中心注液、出液均匀、定量可控的特点，在保证抛光质量的前提下，有效控制成本，配合工业机器人可实现全自动高速稳定抛光和修形。
中心注液式光学抛光

[发明专利]基于三轴联动小磨头抛光机类平面加工非球面的方法-CN202111019961.3在审
发明人：王哲;吴令奇;方媛媛;徐学科;朱小磊;顿爱欢;顾晨 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2021-09-01 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本发明涉及光学数控加工领域，具体为一种小磨头抛光机类光学平面加工非球面的方法，解决了三轴联动小磨头无法实现高精度加工非球面的问题，提升了这类小磨头抛光机的利用率。本发明主要利用被加工元件矢高较小，抛光头可贴合元件表面，再利用坐标变换将测量高点位置精确转换到类平面去除位置，实现收敛加工。经多次迭代抛光，可最终实现非球面元件的加工。
基于联动小磨头抛光机平面加工球面方法

[发明专利]高精度曝光透镜的加工方法-CN201910856844.9有效
发明人：胡晨;邵建达;魏朝阳;吴令奇;顾昊金 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2019-09-09 - 公布日： 2021-09-07 - 主分类号： B24B13/00 文献下载
摘要：一种用于脉冲压缩光栅制作的高精度曝光透镜加工方法，该方法包括搭建自准直干涉检测装置、曝光透镜非球面的铣磨加工、研抛、精密抛光和平滑处理，并在研抛、精密抛光和平滑处理过程采用所述的自准直干涉检测装置对待加工曝光透镜的透过波前进行干涉仪测量，保障每一步都达到各自的要求。该方法避免补偿镜引入的自身误差以及装调误差，采用高效高精度数控加工工艺，解决了曝光透镜数控加工全频段误差问题，最终提高了曝光波长下的全频段波面质量，为高精度脉冲压缩光栅的制作奠定了基础。
高精度曝光透镜加工方法

[发明专利]小磨头抛光机专用抛光液精准自动滴加装置-CN201811521460.3有效
发明人：王哲;徐学科;朱小磊;吴令奇;方媛媛;顿爱欢;邵建达 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2018-12-13 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： B24B57/02 文献下载
摘要：一种小磨头抛光机专用抛光液精准自动滴加装置，包括计算机、蠕动泵、放置在磁力搅拌器上的容器，该容器盛装有抛光液；蠕动泵的软管一端置于容器内，另一端固定在所述的小磨头抛光机的抛光头上，所述的计算机与蠕动泵相连，以控制蠕动泵的转子旋转速度n，该转子旋转速度n满足如下条件：n＝k*h*V/(L+V)。本发明可精准、自动地控制抛光液滴加到被抛光表面，抛光液滴加均匀，节省人力，加工后面形收敛快，去除均匀，具有控制简单，滴加精准的优点。
小磨头抛光机专用抛光精准自动装置

[发明专利]离轴抛物面反射镜干涉测量面形投影畸变的修正方法-CN202010031881.9有效
发明人：胡晨;邵建达;魏朝阳;吴令奇;顾昊金 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2020-01-13 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：一种修正离轴抛物面反射镜干涉测量面形投影畸变的方法。本发明根据已知离轴抛物面母镜、离轴子镜与干涉仪三者之间的位置关系，通过坐标投影变换计算并结合相应的标定方法，可以简便快速的实现对离轴抛物面反射镜干涉测量投影畸变的修正，为高精度离轴抛物面的加工奠定了基础。
抛物面反射干涉测量投影畸变修正方法

[发明专利]一种单晶硅柱面元件的加工方法-CN201910671460.X有效
发明人：王哲;徐学科;吴令奇;方媛媛;宋力 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2019-07-24 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本发明涉及光学超光滑加工领域，具体是一种单晶硅柱面元件的加工方法，利用古典抛光方法加工超光滑平面元件，经超声清洗后，使用大气等离子体抛光设备进行柱面成型，精修面形，多次迭代抛光，最终完成柱面元件的加工，解决了传统柱面镜加工中无法兼顾高精度与超光滑加工的问题。
一种单晶硅柱面元件加工方法

[发明专利]一种小F数凸双曲面反射镜检测光路的搭建方法-CN202010013788.5有效
发明人：王哲;徐学科;朱小磊;吴令奇;方媛媛;宋力 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2020-01-07 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明涉及光学检测领域，具体是小F数凸双曲面反射镜检测光路的搭建方法。解决了传统小F数凸双曲面反射镜检测光路难以搭建的问题。本发明利用会聚光斑快速使干涉仪与待测双曲面镜的光轴共线，并确定球面镜的准确位置，最终高效完成检测光路的搭建。
一种双曲面反射检测搭建方法

[发明专利]等厚离轴抛物面反射镜特征参量的高精度测量方法-CN201910842648.6有效
发明人：胡晨;邵建达;魏朝阳;吴令奇;顾昊金 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2019-09-06 - 公布日： 2021-05-04 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种等厚离轴抛物面反射镜特征参量的高精度测量方法，本发明采用的检测系统包括激光干涉仪，离轴抛物面反射镜，标准平面反射镜，基准十字分划板，小平面基准反射镜，经纬仪以及带光栅尺的导轨。采用光学非接触式的高精度测量方法，能同时实现等厚离轴抛物面反射镜离轴量、离轴角、等厚角以及焦距的关键特征参量高精度测量，为离轴反射曝光系统的高精度加工及装调奠定了基础。
厚离轴抛物面反射特征参量高精度测量方法

[发明专利]轴锥镜的加工方法-CN201811523911.7有效
发明人：张彦超;顿爱欢;邵建达;吴令奇;吴福林;徐学科 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2018-12-13 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：一种轴锥镜的加工方法，包括以下步骤：1)锥面成型：采用光学加工中心进行锥面成型；2)粗抛：采用聚氨酯抛光盘快速抛光，去除刀纹并提高粗糙度，直至抛亮；3)精密抛光：采用大气等离子体抛光设备进行精抛，进一步提高粗糙度及面形精度；4)保形精修：采用柔性小工具进行精修，使轴锥镜面形最终达到要求；5)检测：对加工完成后的轴锥镜进行检测。本发明解决了轴锥镜抛光过程中加工效率低、表面疵病以及锥角边缘区域面形精度难以控制的问题。
轴锥镜加工方法

[实用新型]一种用于大口径光学元件下盘的装置-CN201921351314.0有效
发明人：王哲;徐学科;朱小磊;吴令奇;方媛媛;宋力 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请日： 2019-08-20 - 公布日： 2020-06-09 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：一种用于大口径光学元件下盘的装置，包括：基板、支撑台、调节螺钉和升降螺钉，所述的基板呈圆形，其中央设有供支撑台连接的螺纹孔，所述的基板周缘均匀分布有多个螺纹孔，供所的调节螺钉和升降螺钉穿过；所述的支撑台的内径比工装的中心开孔小，所述的支撑台与基板螺纹连接，可通过旋转上下运动，用于单独支撑光学元件；所述的升降螺钉与基板螺纹连接，可通过旋转上下运动，用于支撑工装并调节工装高度；所述的调节螺钉与基板螺纹连接，可通过旋转上下运动，用于支撑整个装置并调整装置的水平。本实用新型解决了传统下盘方式需要多人默契配合、风险较大的问题，利用螺纹结构将工装缓慢平稳的下降，使大口径元件下盘的工作变得简单安全。
一种用于口径光学元件下盘装置

[发明专利]等厚离轴非球面反射镜的加工方法-CN201711086570.7有效
发明人：胡晨;吴令奇;顾昊金;魏朝阳;邵建达 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2017-11-07 - 公布日： 2019-05-17 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：一种高精度等厚离轴非球面反射镜的高效加工方法，本发明通过同轴母镜工装的设计，实现了子镜精确定位及等厚加工，能多块等厚离轴非球面反射镜同时加工，具有加工成本低、加工精度高和加工效率高的特点。
厚离轴非球面反射加工方法

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