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- [实用新型]13折面立柱-CN201220322138.X有效
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林明孝
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世仓物流设备(上海)有限公司
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2012-07-04
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2013-01-23
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B65G1/02
- 本实用新型提供一种13折面立柱,其横截面整体上呈顶部外翻开口、底部向内凹进的凸字形,左右侧截面对称;其中,13折面立柱的一侧截面包括:第一柱面;第二柱面,其一边与第一柱面折弯连接;第三柱面,与第二柱面的另一边折弯连接,第一柱面与第二柱面之间的折弯角度比起第二柱面与第三柱面之间的折弯角度更大;第四柱面,其一边与第三柱面折弯连接,第四柱面与第二柱面平行;第五柱面,与第四柱面的另一边垂直折弯连接;第六柱面,其一边与第五柱面折弯连接;第七柱面,与第六柱面的另一边折弯连接,第七柱面与第五柱面平行。
- 13立柱
- [实用新型]一种激光十字线光源结构-CN201922267324.2有效
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杨鲁欢
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西安众为科技发展有限公司
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2019-12-17
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2020-06-16
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G01C15/00
- 本实用新型公开了一种激光十字线光源结构,包括外筒、垂直柱面镜装配孔、水平柱面镜装配孔、垂直柱面镜出光槽、第一端面、水平柱面镜出光槽和第二端面,其中外筒头部的端面设有第一端面和第二端面,所述第一端面设有垂直柱面镜出光槽,其中第二端面设有水平柱面镜出光槽,其中垂直柱面镜出光槽的中心轴与水平柱面镜出光槽的中心轴相互垂直,所述外筒靠近头部的径向设有垂直柱面镜装配孔和水平柱面镜装配孔,其中垂直柱面镜装配孔与垂直柱面镜出光槽贯通,其中水平柱面镜装配孔与水平柱面镜出光槽贯通,所述垂直柱面镜装配孔和水平柱面镜装配孔下侧分别与外筒的内腔贯通,其中垂直柱面镜装配孔和水平柱面镜装配孔内均设有柱面镜。
- 一种激光十字光源结构
- [发明专利]一种凹柱面及柱面发散镜的检测方法及装置-CN201610504619.5有效
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郭培基;陈曦;范建彬
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苏州大学
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2016-07-01
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2019-01-08
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G01B11/24
- 本发明公开了一种凹柱面及柱面发散镜的检测方法及装置,涉及光学仪器检测技术领域,特别是涉及一种非接触式干涉检测柱面面形的方法,本发明的技术方案分别使用柱面汇聚镜与柱面发散镜与待测凹柱面组合,通过干涉测量分别获得柱面发散镜和待测凹柱面的组合波面误差数据以及柱面汇聚镜和待测凹柱面的组合波面误差数据,然后通过干涉测量获得柱面发散镜与柱面汇聚镜组合波面误差数据,使用差分算法以及波面复原算法分别获得待测凹柱面、柱面发散镜以及柱面汇聚镜的面形误差数据,本技术方案具有检测光路简单,不需要使用高精度的实现测量好的检具即可实现对柱面较高精度的面形检测,特别适合光学加工领域中的柱面加工。
- 一种柱面发散检测方法装置
- [实用新型]一种凹柱面及柱面发散系统的检测装置-CN201620678164.4有效
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郭培基;陈曦;范建彬
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苏州大学
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2016-07-01
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2017-02-15
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G01B11/24
- 本实用新型公开了一种凹柱面及柱面发散系统的装置,涉及光学仪器检测技术领域,特别是涉及一种非接触式干涉检测柱面面形的装置,本实用新型的技术方案分别使用柱面汇聚系统与柱面发散系统与待测凹柱面组合,通过干涉测量分别获得柱面发散系统和待测凹柱面的组合波面误差数据以及柱面汇聚系统和待测凹柱面的组合波面误差数据,然后通过干涉测量获得柱面发散系统与柱面汇聚系统组合波面误差数据,使用差分算法以及波面复原算法分别获得待测凹柱面、柱面发散系统以及柱面汇聚系统的面形误差数据,本技术方案具有检测光路简单,不需要使用高精度的实现测量好的检具即可实现对柱面较高精度的面形检测,特别适合光学加工领域中的柱面加工。
- 一种柱面发散系统检测装置
- [发明专利]一种柱面镜缺陷检测方法及装置-CN202211089746.5在审
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张效栋;闫宁
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天津大学
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2022-09-07
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2023-01-31
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G06T7/00
- 本发明涉及柱面镜缺陷检测领域,尤其涉及一种柱面镜缺陷检测方法及装置,所述一种柱面镜缺陷检测方法包括:利用双向光源采集待测柱面镜初始图像;利用所述待测柱面镜初始图像基于预先设定的检测模板得到待测柱面镜缺陷检测结果;其中,待测柱面镜为一个或多个,当待测柱面镜为多个时,则为待测柱面镜组;通过设置双向光源,对待测柱面镜进行多次照射,单次采集多个待测柱面镜不同方向的光照图像,获取柱面镜检测结果,提升了检测效率,同时可根据实际情况对柱面镜检测数量进行实时调整,减小了柱面镜缺陷识别误差,提升了检测精度。
- 一种柱面缺陷检测方法装置
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