专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种激光直写样品的固定装置及工作方法-CN202310797264.3有效
  • 孙秋媛;匡翠方;孙琦;马程鹏;张杨燕 - 之江实验室;浙江大学
  • 2023-07-03 - 2023-10-24 - G03F7/20
  • 本发明涉及一种激光直写样品的固定装置及工作方法,固定装置包括样品台框架,还包括能够可拆卸地设于所述样品台框架上的适配常规刻写模式的第一固定组件,或适配大尺寸浸入式刻写模式的第二固定组件,或适配光纤端面刻写模式的第三固定组件;第一固定组件为边沿限位式定位槽结构;第二固定组件为三层叠套筒式定位槽结构,以此实现晶圆的定位及光刻胶装载;第三固定组件为双板夹角式定位槽结构,以此实现光纤夹持定位。与现有技术相比,本发明提供了一种结构简单,普适性高,易于操作的一种激光直写样品的固定装置及其工作方法,以实现不同形状、尺寸激光直写样品的固定和定位,适配多种加工场景,可广泛应用于激光直写光刻领域。
  • 一种激光样品固定装置工作方法
  • [发明专利]基于多频条纹的X射线光学相衬成像系统及方法-CN202311146883.2在审
  • 徐月暑;陶思玮;匡翠方;田宗翰;柏凌;曹雯;刘旭 - 浙江大学杭州国际科创中心
  • 2023-09-07 - 2023-10-13 - G01N23/041
  • 本发明公开一种基于多频条纹的X射线光学相衬成像系统及方法,系统包括:光源聚焦模块,X射线产生装置产生X射线被聚焦装置收集并聚焦;相位光栅模块包括第一光栅、第二光栅及第三光栅,相互平行,并且结构相同、厚度相同及光栅周期相同;探测器模块包括闪烁体、成像模块及图像采集模块,闪烁体接收不同频率的摩尔条纹,通过闪烁体表面成像以形成不同频率的摩尔条纹分布图像,图像采集模块采集摩尔条纹图像;处理模块进行分解,得到吸收衬度图像、暗场衬度图像及微分相位衬度图像。通过本方法解决了传统泰伯劳三光栅X射线光学相衬成像系统的光子利用率低、光源相干性差导致成像灵敏度低等问题;同时能够在成像速度快的同时得到质量更高的图像。
  • 基于条纹射线光学成像系统方法
  • [发明专利]一种基于边缘光抑制阵列的并行直写装置和方法-CN202011638382.2有效
  • 匡翠方;杨顺华;刘旭;李海峰;丁晨良;魏震;徐良 - 之江实验室;浙江大学
  • 2020-12-31 - 2023-09-26 - G03F7/20
  • 本发明公开一种基于边缘光抑制阵列的并行直写装置和方法,该装置可产生N×N强度独立可控的高质量PPI阵列,每个PPI刻写点由干涉点阵暗斑和激发光重合而成,具有高通量超分辨刻写的能力。装置主要包括两路光:一路光通过四光束干涉产生等强度等间距的光斑点阵,点阵暗斑用作涡旋抑制光;另一路光通过MLA产生N×N激发光点阵,同时通过SLM和DMD分别调控各激发光的位置和强度,实现涡旋光阵列与激发光点阵精密重合且刻写点大小独立可控。该装置与方法通过产生相同刻写点大小的PPI阵列,可进行高均匀度三维结构的高通量超分辨直写加工,控制刻写点大小使其具有特定分布,还可并行加工任意曲面结构,可应用于超分辨光刻等领域。
  • 一种基于边缘抑制阵列并行装置方法
  • [发明专利]一种综合性单分子显微成像方法及装置-CN202310733625.8在审
  • 刘文杰;王瑾;张祖鑫;王权;杨思恒;陈勰宇;周楠;董建杰;匡翠方 - 之江实验室
  • 2023-06-20 - 2023-09-19 - G01N21/01
  • 一种综合性单分子显微成像方法及装置,包括激光器、透镜组、分束器、四分之一波片、反射镜、三维位移台、待测样品、长焦管透镜、推拉式滤光板、成像物镜和工业相机。在光路中首先改变反射镜的角度使得入射光以相应材料所对应的超临界角或表面等离子体共振角等多种角度入射;其次使用一个推拉式滤光板调节样品面反射光的收集与否,实现在一套系统中对同一样品的全内反射‑干涉散射显微成像、表面等离子体共振‑干涉散射成像、传统干涉散射成像以及暗场成像四种模式。本发明提供一种多模态可相互验证的无标记成像技术,可大幅提升装置利用率和在实际体系中的复用能力。
  • 一种综合性分子显微成像方法装置
  • [发明专利]分光检测系统和光束指向检测与稳定系统-CN202310425344.6在审
  • 马程鹏;匡翠方;徐良;丁晨良;魏震 - 之江实验室;浙江大学
  • 2023-04-18 - 2023-09-15 - G01J1/42
  • 本申请提供一种分光检测系统和光束指向检测与稳定系统。分光检测系统用于检测光束指向控制组件出射的光束的性质,包括分光检测组件和控制器。分光检测组件包括分光组件和检测组件,分光组件用于反射和透射光束,检测组件用于接收光束反射形成的反射光束,检测反射光束的性质。控制器连接于检测组件和光束指向控制组件之间,控制器用于根据反射光束的性质,确定光束调整量,控制光束指向控制组件根据光束调整量调制光源发出的光束。本申请提供的分光检测系统通过设置控制器根据检测组件检测得到的光束性质,控制光束指向控制组件调制光源发出的光束,降低光束在长距离传播的过程中的偏移和光学器件引入的指向误差,提高光束的稳定性。
  • 分光检测系统光束指向稳定

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