[发明专利]一种氧化锌紫外探测器的封装方法及封装结构有效
申请号: | 201711442516.1 | 申请日: | 2017-12-27 |
公开(公告)号: | CN108155108B | 公开(公告)日: | 2020-01-14 |
发明(设计)人: | 陈星;刘可为;李炳辉;张振中;申德振 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/12;H01L23/29;H01L23/31;H01L31/09 |
代理公司: | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李婷婷;王宝筠 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 氧化锌 紫外探测器 封装结构 封装 芯片 针脚 金属丝 紫外探测器件 实验室测试 叉指电极 即插即用 芯片固定 性能参数 封装胶 可透过 未封装 紫外线 底座 制备 裸露 暴露 申请 | ||
本申请提供一种氧化锌紫外探测器的封装方法及封装结构,通过将氧化锌紫外探测器芯片固定在底座上,再由金属丝将叉指电极引出作为氧化锌紫外探测器封装结构的针脚,然后通过可透过紫外线的封装胶对氧化锌紫外探测器芯片、裸露的金属丝以及二者连接部分进行封装,从而形成完整的氧化锌紫外探测器封装结构,以便于在实验室之外的区域进行使用,扩展了氧化锌紫外探测器芯片的使用范围,使得氧化锌紫外探测器芯片更加实用化。本发明工艺简单,可以方便快捷的制备封装好的氧化锌紫外探测器件,当器件暴露在大气中使用时,性能参数稳定。同时引出的针脚使得器件可以即插即用,克服了未封装的芯片只能在实验室测试的弱点,为器件走向实用化奠定了基础。
技术领域
本发明属于半导体光电探测器制作技术领域,尤其涉及一种氧化锌紫外探测器的封装方法及封装结构。
背景技术
紫外探测技术可用于军事通信、导弹尾焰探测、火灾预警、环境监测、生物效应等方面,无论在军事上还是在民用上都有广泛的应用。
目前,己投入商用的紫外探测器主要有硅探测器、光电倍增管和半导体探测器。硅基紫外光电管需要附带滤光片,光电倍增管则需要在高电压下工作,而且体积笨重、效率低、易损坏且成本较高,对于实际应用有一定的局限性。相对硅探测器和光电倍增管来说,由于半导体材料具有携带方便、造价低、响应度高等优点而备受关注。
目前研究较多的半导体材料主要有III-V族的GaN基材料(包括GaN和AlGaN)和II-VI族的ZnO基材料(包括ZnO和ZnMgO)。ZnO基材料具有强的抗辐射能力、高的电子饱和漂移速度、匹配的单晶衬底,易合成、无毒无害、资源丰富环境友好等优点,是制备宽禁带紫外探测器的候选材料之一。
现有技术中已经实现了多个高性能紫外探测器的制备,但是目前ZnO紫外探测器基板上都还只是芯片,仅能用于实验室中进行参数测试,没有经过封装,无法实现广泛应用。因此,封装技术是制约氧化锌紫外探测器走向实用化的一道障碍。
发明内容
有鉴于此,本发明提供一种氧化锌紫外探测器的封装方法及封装结构,以解决现有技术中氧化锌紫外探测器芯片无法实用化的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种氧化锌紫外探测器的封装方法,包括:
提供底座、氧化锌紫外探测器芯片、两根金属丝和封装胶,所述底座包括相对设置的第一表面和第二表面,以及连接所述第一表面和所述第二表面的侧面;所述氧化锌紫外探测器芯片包括衬底、氧化锌层、叉指电极结构和两个铟粒;所述封装胶为可透过紫外线的封装胶;
将所述氧化锌紫外探测器芯片固定在所述底座的第一表面;
在所述底座上制作贯穿所述侧面和所述第一表面的通孔;
将两根所述金属丝穿过所述通孔,所述金属丝的第一端凸出于所述第一表面,所述金属丝的第二端凸出于所述侧面;
将两根所述金属丝的第一端分别连接至一个所述铟粒,所述金属丝的第二端作为所述氧化锌紫外探测器的针脚;
采用所述封装胶至少覆盖所述氧化锌紫外探测器芯片、位于所述第一表面背离所述第二表面一侧的金属丝、以及所述第一表面上的通孔口。
优选地,所述在所述底座上制作贯穿所述侧面和所述第一表面的通孔,具体包括:
使用钻头在所述底座上的第一表面打出两个第一孔,所述第一孔的轴线垂直于所述第一表面;
使用钻头在所述底座的侧面打出两个第二孔,所述第二孔的轴线垂直于所述侧面;
且所述两个第二孔与所述两个第一孔一一对应连通,形成两个通孔。
优选地,所述将两根所述金属丝穿过所述通孔,具体包括:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711442516.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体封装件及半导体封装件的制法
- 下一篇:一种芯片的管脚焊接方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造