[实用新型]应用于有机薄膜场效应晶体管测试的装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及光电测试设备，具体涉及一种应用于有机薄膜场效应晶体管测试的多功能装置。

背景技术

目前对于有机薄膜场效应晶体管的研究多数侧重于电压-电流特性，电压-电容特性等等，而对于有机薄膜场效应晶体管的研究的幅频特性的领域的研究较少。现有技术中，对于有机薄膜场效应晶体管的电压-电流，电压-电容特性等通常直接通过半导体测试仪与探针台的结合进行测试，目前较为先进的测试仪器为吉时利公司的4200scs半导体测试仪。

由于4200scs半导体测试仪较为昂贵，不适用于广泛的基础研究工作中。另外，目前4200scs等半导体测试仪器目前并不能直接对有机薄膜场效应晶体管的幅频特性进行测试。

实用新型内容

针对有技术存在的上述不足，本实用新型的目的在于提供一种结构简单、成本较低的用于有机薄膜场效应晶体管的幅频特性测试的装置。

实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：一种应用于有机薄膜场效应晶体管测试的装置，其特征在于，包括印刷电路和用于支撑所测器件的支撑台；

其中，印刷电路板包含三个子电路，分别是共源极测试电路、共漏极测试电路以及共栅极测试电路；每个子电路均包含一个输入端，一个输出端；三个子电路共用一个VCC以及GND， VCC为12V；印刷电路中栅极的接线为一个，而源极和漏极为多个，通过跳线来决定选择那组相邻的电极管脚；

所述印刷电路板的内侧面焊接至少一组探针组件；每组探针组件包括6个探针，6个探针采取“1+5”排列方式，即一边为1个探针，用于扎在被测器件的栅极；另一边为5个探针，用于扎在拥有多个源极和漏极的测试器件上；6个探针的针尖保持在同一水平面。探针的尾部与电路板焊接在一起，通过电路板正面等电位的插针实现跳线，分别与电路中的栅极接入点、源极接入点、漏极接入点相连接。

所述支撑台为矩形铝板制成，铝板的四角为均设有螺孔，铝板通过螺丝/栓与印刷电路板相连，并且通过螺丝/栓调节印刷电路板与支撑台的间距，实现探针组件与支撑台上的待测试器件紧密接触。

进一步，所述探针采用钨为材料制作而成，钨针的硬度够大，顶端容易制成尖头状，钨材料的电阻率低，对测试的影响小等。

相比现有技术，本实用新型具有如下优点：

1、实用新型具有结构简单、成本低廉、易于制作的特点。

2、实用新型在配合数字扫频仪使用，用于测试有机薄膜场效应晶体管的幅频特性，精度相对较高，应用性强。

附图说明

图1是本实用新型用于有机薄膜场效应晶体管的幅频特性测试装置的结构示意图；

　　图2是图1中印刷电路板及探针组件的结构示意图；

图3是本实用新型中印刷电路板的共源极测试电路原理图；

图4是本实用新型中印刷电路板的共漏极测试电路原理图；

图5是本实用新型中印刷电路板的共栅极测试电路原理图。

具体实施方式

如图1所示，一种应用于有机薄膜场效应晶体管测试的多功能装置，包括印刷电路1，用于支撑所测试的有机薄膜场效应晶体管的支撑台2，印刷电路1上设有至少一组探针组件3，用于扎在薄膜器件的相应的电极上，作为连接薄膜器件电极和测试电路的媒介。

其中，印刷电路板1包含三个子电路，分别是“共源极测试电路”、“共漏极测试电路”以及“共栅极测试电路”。每个子电路均包含一个输入端，一个输出端。三个子电路共用一个VCC以及GND。通常VCC的设置为12V。电路中栅极的接线只有一个，而源极和漏极的选择则通过跳线来决定选择那组相邻的电极管脚。该三个子电路可以同时并行工作，相互并不产生影响。原理图中的电阻、电容的值可根据实际需要调整，电阻、电容均采用高精度元件（最大误差为千分之一）。

参见图2，印刷电路板1上焊接探针组件3，每组包括6个探针，6个探针采取“1+5”排列方式，即一边为1个探针，另一边为5个探针；单独的1个探针的一端用于对应（扎在）被测器件的栅极；另一边的5个探针的一端用于对应（扎在）拥有多个源极和漏极的测试器件上。6个探针的针尖保持在同一水平面。探针的尾部与电路板焊接在一起，通过电路板正面等电位的插针实现跳线，分别与电路中的栅极接入点、源极接入点、漏极接入点相连接。

探针之间的间距满足目前大部分有机薄膜场效应晶体管的管脚的典型尺寸。

（备注：探针头指的是与器件接触的一端，即扎在器件上的一端）