[发明专利]太阳电池无死层发射极的制作方法无效
申请号: | 201210083896.5 | 申请日: | 2012-03-27 |
公开(公告)号: | CN102637771A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 程亮;张黎明;刘鹏;姜言森;贾河顺;任现坤;姚增辉;张春艳 | 申请(专利权)人: | 山东力诺太阳能电力股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 宋玉霞 |
地址: | 250103 山东省济南*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳电池 无死层 发射极 制作方法 | ||
技术领域
本发明属于晶体硅太阳电池的制作技术领域,具体涉及一种太阳电池无死层发射极的制作方法。
背景技术
随着化石能源的枯竭,太阳电池作为一种绿色能源,得到快速的发展。晶体硅太阳电池成为目前太阳电池领域的主流,如何降低太阳电池的成本,提高太阳电池的效率成为国内外晶体硅太阳电池研究的重点。
发射极作为太阳电池的关键组成部分,其表面掺杂浓度,直接影响太阳电池的效率。因为当表面发射极的掺杂浓度大于1020/cm3时,将成为死层区,因此,通过降低发射极表面的掺杂浓度,提高电池片对短波段的响应,以及降低暗电流,提高开路电压,成为目前提高电池效率的主要方法。然而传统的发射极的制备,硅片表面的掺杂浓度都高于1020/cm3,因此表面会形成几十纳米的死层区,影响电池的效率。
发明内容
本发明的目的就是针对上述存在的缺陷,提供一种太阳电池无死层发射极的制作方法,该发明先采用传统扩散,然后在硅片表面印刷腐蚀性浆料,将掺杂浓度较高的死层发射极区腐蚀掉的方法,制备具有优良性能的无死层发射极,本发明可以有效地去除电池片表面的死层发射极区,提高太阳电池的短波响应,减小暗电流,有效提高电池片的开路电压,并且易于工业化生产。
本发明的技术方案为一种太阳电池无死层发射极的制作方法,其特征在于包括以下步骤:
(1)将制绒后的硅片,放入扩散炉,进行扩散制备结深为150—500nm发射极,方阻为20—80ohm/sq;
(2)将已完成扩散的硅片,印刷腐蚀性浆料,其中腐蚀性浆料为Merck的浆料,单片印重为0.02—1.5g。 。
(3)将印刷有腐蚀性浆料的硅片放入烧结炉中烘干并腐蚀硅片,烧结炉温度为150—500℃,时间为1—30min。
(4)将硅片放入浓度为5%—10%的HF酸溶液中,超声波清洗1—60min,得到方阻为50—150ohm/sq的无死层发射极。
该发明的无死层发射极表面的掺杂浓度低于1020/cm3。
本发明所述的硅片为P型多晶、类单晶或单晶硅,也可为N型的多晶、类单晶或单晶硅。
本发明的有益效果为:本发明的一种太阳电池无死层发射极的制作方法,先采用传统扩散,然后在硅片表面印刷腐蚀性浆料,将掺杂浓度较高的死层发射极区腐蚀掉的方法,制备具有优良性能的无死层发射极,其工序包括,传统扩散发射极的制备,腐蚀性浆料印刷,烧结刻蚀含掺杂源硅玻璃及高掺杂死层发射极区,清洗。本发明可以广泛应用于各种多晶、类单晶或单晶硅,能够有效地去除电池片表面的死层发射极区,提高太阳电池的短波响应,减小暗电流,有效提高电池片的开路电压,并且易于工业化生产。
附图说明:
图1所示为晶体硅传统扩散结构示意图;
图2所示为本发明的无死层发射极结构示意图;
图中,1.扩散源原子,2.含掺杂源的硅玻璃,3.死层发射极,4.无死层发射极,5.硅片。
具体实施方式:
为了更好地理解本发明,下面结合附图来详细说明本发明的技术方案,但是本发明并不局限于此。
本发明是一种晶体硅太阳电池无死层发射极的制作方法,技术方案为,包含以下工艺步骤:传统扩散发射极的制备,腐蚀性浆料印刷,烧结刻蚀含掺杂源硅玻璃2及高掺杂死层发射极3区,清洗。
(1)将制绒后的硅片5,放入扩散炉,进行扩散制备结深为150—500nm的发射极,方阻为20—80ohm/sq;
(2)将已完成扩散的硅片5,印刷腐蚀性浆料,其中腐蚀性浆料为Merck浆料,单片印重为0.02—1.5g。 。
(3)将印刷有腐蚀性浆料的硅片5放入烧结炉中烘干并腐蚀硅片5,烧结炉温度为150—500℃,时间为1—30min。
(4)将硅片5放入浓度为5%—10%的HF酸溶液中,超声波清洗1—60min,得到方阻为50—150ohm/sq的无死层发射极4。
该发明的发射极表面的掺杂浓度低于1020/cm3。
本发明所述的硅片为P型多晶、类单晶或单晶,也可为N型的多晶、类单晶或单晶。
实施例1
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的