[发明专利]一种去除工业硅中硼磷杂质的方法有效

专利信息
申请号: 201210078794.4 申请日: 2012-03-22
公开(公告)号: CN102616787A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 罗学涛;余德钦;林彦旭;方明;卢成浩;李锦堂 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: C01B33/037 分类号: C01B33/037
代理公司: 厦门南强之路专利事务所 35200 代理人: 马应森
地址: 361005 *** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 去除 工业 硅中硼磷 杂质 方法
【权利要求书】:

1.一种去除工业硅中硼磷杂质的方法,其特征在于包括以下步骤:

1)将渣料2预熔,所述渣料2为CaO-CaSi2,按质量百分比,CaO为40%~70%,CaSi2为30~50%;

2)将渣料1压成渣球,将部分渣料1和工业硅放进坩埚,抽真空,开启中频感应电源加热,使物料熔化,所述渣料1为SiO2-Na2CO3-CaF2,按质量百分比,SiO2为40%~80%,Na2CO3为20%~50%,CaF2为5%~20%;

3)升高中频感应电源的功率至80~100kW,当温度在1300~1500℃时,将部分渣料2加入到坩埚中,通气搅拌,继续升高中频感应电源的功率至100~120kW,当温度在1600~1800℃时,将部分渣料1加入到坩埚中,再通气搅拌,降低功率到80kw,维持一段时间,待温度降下来;

4)重复步骤3);

5)造渣后将硅液倒入承接坩埚,静置冷却后取出硅锭,物理破碎得到提纯的多晶硅锭。

2.如权利要求1所述的一种去除工业硅中硼磷杂质的方法,其特征在于在步骤1)中,所述预溶的温度为1650~1850℃;按质量百分比,CaO可为50%~60%,CaSi2为40~50%。

3.如权利要求1所述的一种去除工业硅中硼磷杂质的方法,其特征在于在步骤2)中,所述压成渣球采用球形磨具,所述渣球的直径可为5~20cm。

4.如权利要求1所述的一种去除工业硅中硼磷杂质的方法,其特征在于在步骤2)中,按质量百分比,SiO2为50%~70%;Na2CO3为30%~45%;CaF2为8%~15%。

5.如权利要求1所述的一种去除工业硅中硼磷杂质的方法,其特征在于在步骤2)中,所述部分渣料1与工业硅的质量比为1∶(10~0.5),优选1∶(5~0.5),最好为1∶(2.5~0.5)。

6.如权利要求1所述的一种去除工业硅中硼磷杂质的方法,其特征在于在步骤2)中,所述部分渣料1按质量比占全部渣料1的1/3~1/2;所述抽真空的真空度可为450Pa以下。

7.如权利要求1所述的一种去除工业硅中硼磷杂质的方法,其特征在于在步骤3)中,所述通气搅拌的气体为Ar气,所述通气搅拌的时间维持1~10min,最好维持2~5min。

8.如权利要求1所述的一种去除工业硅中硼磷杂质的方法,其特征在于在步骤3)中,所述再通气搅拌的气体为Cl2气,所述再通气搅拌的时间为2~15min,最好为3~10min。

9.如权利要求1所述的一种去除工业硅中硼磷杂质的方法,其特征在于在步骤4)中,所述重复的次数为3~10次,最好为4~6次。

10.如权利要求1所述的一种去除工业硅中硼磷杂质的方法,其特征在于在步骤5)中,所述造渣的时间为20~80min,最好为30~60min;所述静置的时间可为40~60min。

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