[发明专利]沟槽刻蚀方法以及半导体器件

说明书

技术领域

本发明涉及半导体制造领域，更具体地说，本发明涉及一种沟槽刻蚀方法 以及半导体器件。

背景技术

在半导体器件制造过程中，在很多情况下需要刻蚀出沟槽结构。

图1示意性地示出了根据现有技术的沟槽刻蚀方法的流程图。在现有的一 种沟槽刻蚀方法中，刻蚀的具体步骤依次包括：沟槽刻蚀(步骤1)、去除刻蚀 沟槽所用的硬掩膜(步骤2)、氧化以形成牺牲氧化层(步骤3)、以及去除牺牲 氧化层(步骤4)。

其中，牺牲氧化层是在栅极氧化物形成之前移除晶圆表面的损伤和缺陷， 有助于产生一个零缺陷的晶圆表面以生成高品质的栅极氧化物。

图2示意性地示出了通过根据现有技术的沟槽刻蚀方法得到的沟槽形状。 如图2所示，沟槽的顶部角部并不足够地形成为圆形，由此可能在某些应用中 达不到器件设计要求。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术中存在上述缺陷，提供一种能 够使得沟槽的顶部角部变得圆化的沟槽刻蚀方法以及采用了该沟槽刻蚀方法来 刻蚀其沟槽的半导体器件。

根据本发明的第一方面，提供了一种沟槽刻蚀方法，其依次包括步骤：沟 槽刻蚀；氧化以形成牺牲氧化层；以及去除刻蚀沟槽所用的硬掩膜以及牺牲氧 化层。

优选的，在上述沟槽刻蚀方法中，在氧化以形成牺牲氧化层的步骤中，通 过高温炉管，干法生长牺牲氧化层。

优选的，所述的沟槽刻蚀方法还包括：在去除刻蚀沟槽所用的硬掩膜以及 牺牲氧化层的步骤之后进行栅极氧化以形成栅极氧化层。

根据本发明第一方面的沟槽刻蚀方法能够使得沟槽的顶部角部变得圆化。 进一步的，由于沟槽的顶部和底部形状优劣会决定氧化物生长的厚度，所以本 发明实施例能够改善栅极氧化厚的质量，即使得栅极氧化层厚度均匀。此外， 根据本发明实施例的沟槽刻蚀方法还能够有助于多晶硅填充。

根据本发明的第二方面，提供了一种半导体器件(例如MOS晶体管)，所述 半导体器件具有沟槽，所述沟槽是采用根据本发明第一方面所述的沟槽刻蚀方 法制成的。

由于采用了根据本发明第一方面所述的沟槽刻蚀方法，因此，本领域技术 人员可以理解的是，根据本发明第二方面的半导体器件同样能够实现根据本发 明的第一方面的沟槽刻蚀方法所能实现的有益技术效果。

附图说明

结合附图，并通过参考下面的详细描述，将会更容易地对本发明有更完整 的理解并且更容易地理解其伴随的优点和特征，其中：

图1示意性地示出了根据现有技术的沟槽刻蚀方法的流程图。

图2示意性地示出了通过根据现有技术的沟槽刻蚀方法得到的沟槽形状。

图3示意性地示出了根据本发明实施例的沟槽刻蚀方法的流程图。

图4示意性地示出了通过根据本发明实施例的沟槽刻蚀方法得到的沟槽形 状。

需要说明的是，附图用于说明本发明，而非限制本发明。注意，表示结构 的附图可能并非按比例绘制。并且，附图中，相同或者类似的元件标有相同或 者类似的标号。

具体实施方式

为了使本发明的内容更加清楚和易懂，下面结合具体实施例和附图对本发 明的内容进行详细描述。

图3示意性地示出了根据本发明实施例的沟槽刻蚀方法的流程图。

如图3所示，根据本发明实施例的沟槽刻蚀方法依次包括：

步骤11：利用硬掩膜刻蚀沟槽刻蚀，并去除光致刻蚀剂。

步骤22：氧化以形成牺牲氧化层；具体地说，例如可通过高温炉管，干法 生长牺牲氧化层。优选的，在氧化以形成牺牲氧化层之前可进行一次预清洗， 以提高氧化层的质量。

步骤33：去除刻蚀沟槽所用的硬掩膜以及牺牲氧化层。

可以看出，本发明并没有在利用硬掩膜刻蚀沟槽刻蚀之后即去除硬掩膜， 而是在去除牺牲氧化层的同时去除刻蚀沟槽所用的硬掩膜。

图4示意性地示出了通过根据本发明实施例的沟槽刻蚀方法得到的沟槽形 状。

如图4所示，与图2所示的通过根据现有技术的沟槽刻蚀方法得到的沟槽 形状相比，根据本发明实施例的沟槽刻蚀方法能够使得沟槽的顶部角部变得圆 化。

此后，根据本发明实施例的沟槽刻蚀方法还可包括：在去除刻蚀沟槽所用 的硬掩膜以及牺牲氧化层的步骤之后进行栅极氧化以形成栅极氧化层。