[发明专利]化学机械研磨装置无效
申请号: | 201010616629.0 | 申请日: | 2010-12-30 |
公开(公告)号: | CN102554757A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 蒋莉;黎铭琦 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | B24B37/00 | 分类号: | B24B37/00;B24B37/005;B24B37/20;B24B57/02;H01L21/304 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 化学 机械 研磨 装置 | ||
1.一种化学机械研磨装置,其特征在于,所述化学机械研磨装置包括:
研磨盘,所述研磨盘用于承载所提供的晶圆;
研磨垫手臂,所述研磨垫手臂一端固定;
研磨垫,所述研磨垫固定于所述研磨垫手臂的非固定端,并且可以在研磨垫手臂的带动下,相对于所提供的晶圆运动,研磨垫手臂确定运动期间该研磨垫与所提供的晶圆接触;
研浆供应路线,所述研浆供应路线在研磨期间在研磨垫与被研磨晶圆之间供应研浆;
研磨检测装置,研磨期间,所述研磨检测装置同步检测整个晶圆的研磨状态。
2.依据权利要求1的化学机械研磨装置,其特征在于,所述研磨检测装置包括与所提供的晶圆相对设置的探测光源,所述探测光源对晶圆提供入射光,以及探测所述入射光在晶圆表面的反射光的光传感器。
3.依据权利要求1的化学机械研磨装置,其特征在于,所述探测光源的数目至少为1。
4.依据权利要求1的化学机械研磨装置,其特征在于,所述化学机械研磨装置还包括清洗部件,所述清洗部件在研磨期间向所提供晶圆喷洒去离子水,冲洗所提供的晶圆表面的研磨副产品。
5.依据权利要求4的化学机械研磨装置,其特征在于,所述研磨检测装置包括收集研磨副产品的副产品收集器,以及分析所述副产品的组分的成分分析装置。
6.依据权利要求5的化学机械研磨装置,其特征在于,所述研磨检测装置用于检测有研磨停止层的化学机械研磨过程。
7.依据权利要求5的化学机械研磨装置,其特征在于,所述收集装置是吸液器,所述吸液器有一个开口,所述开口连接一条管道,研磨产生的研磨副产品通过所述管道进入吸液器中。
8.依据权利要求5的化学机械研磨装置,其特征在于,所述成分分析装置是荧光分析器。
9.依据权利要求1的用于化学机械研磨设备的研磨单元,其特征在于,所述研磨垫手臂通过夹在非固定端的研磨头固定所述研磨垫。
10.依据权利要求1的化学机械研磨装置,其特征在于,研磨垫手臂向所述晶圆施加一压力,并通过调节研磨垫手臂的高度调节所述压力的大小。
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