[发明专利]化学机械研磨装置无效

专利信息
申请号: 201010616629.0 申请日: 2010-12-30
公开(公告)号: CN102554757A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 蒋莉;黎铭琦 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: B24B37/00 分类号: B24B37/00;B24B37/005;B24B37/20;B24B57/02;H01L21/304
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 化学 机械 研磨 装置
【权利要求书】:

1.一种化学机械研磨装置,其特征在于,所述化学机械研磨装置包括:

研磨盘,所述研磨盘用于承载所提供的晶圆;

研磨垫手臂,所述研磨垫手臂一端固定;

研磨垫,所述研磨垫固定于所述研磨垫手臂的非固定端,并且可以在研磨垫手臂的带动下,相对于所提供的晶圆运动,研磨垫手臂确定运动期间该研磨垫与所提供的晶圆接触;

研浆供应路线,所述研浆供应路线在研磨期间在研磨垫与被研磨晶圆之间供应研浆;

研磨检测装置,研磨期间,所述研磨检测装置同步检测整个晶圆的研磨状态。

2.依据权利要求1的化学机械研磨装置,其特征在于,所述研磨检测装置包括与所提供的晶圆相对设置的探测光源,所述探测光源对晶圆提供入射光,以及探测所述入射光在晶圆表面的反射光的光传感器。

3.依据权利要求1的化学机械研磨装置,其特征在于,所述探测光源的数目至少为1。

4.依据权利要求1的化学机械研磨装置,其特征在于,所述化学机械研磨装置还包括清洗部件,所述清洗部件在研磨期间向所提供晶圆喷洒去离子水,冲洗所提供的晶圆表面的研磨副产品。

5.依据权利要求4的化学机械研磨装置,其特征在于,所述研磨检测装置包括收集研磨副产品的副产品收集器,以及分析所述副产品的组分的成分分析装置。

6.依据权利要求5的化学机械研磨装置,其特征在于,所述研磨检测装置用于检测有研磨停止层的化学机械研磨过程。

7.依据权利要求5的化学机械研磨装置,其特征在于,所述收集装置是吸液器,所述吸液器有一个开口,所述开口连接一条管道,研磨产生的研磨副产品通过所述管道进入吸液器中。

8.依据权利要求5的化学机械研磨装置,其特征在于,所述成分分析装置是荧光分析器。

9.依据权利要求1的用于化学机械研磨设备的研磨单元,其特征在于,所述研磨垫手臂通过夹在非固定端的研磨头固定所述研磨垫。

10.依据权利要求1的化学机械研磨装置,其特征在于,研磨垫手臂向所述晶圆施加一压力,并通过调节研磨垫手臂的高度调节所述压力的大小。

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