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[发明专利]一种定子线棒绝缘老化程度预测方法-CN202010364432.6有效
发明人：汪建基;张跃;胡波;王冰丰;梁智明 -专利权人：西安交通大学;东方电气集团东方电机有限公司
申请日： 2020-04-30 - 公布日： 2022-04-22 - 主分类号： G06Q10/04 文献下载
摘要：本发明属于发电机绝缘老化程度分析领域，公开了一种定子线棒绝缘老化程度预测方法，对定子线棒绝缘样品进行热氧老化，并获取老化样品的2D‑WAXD谱图与SEM谱图；使用vgg16深度学习模型对2D‑WAXD谱图进行特征提取，利用2D‑WAXD谱图对应的老化时间和vgg16提取的特征对SVM算法进行训练，获得第一预测模型；使用灰度共生矩阵对SEM谱图计算纹理特征，利用SEM谱图对应的老化时间和计算的纹理特征对SVM算法进行训练
一种定子绝缘老化程度预测方法

[发明专利]一种基于SEM图像的煤储层孔隙结构参数定量分析方法-CN202110760729.9有效
发明人：久博;黄文辉;郝睿林;于春兰 -专利权人：中国地质大学（北京）
申请日： 2021-07-06 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G01N15/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于SEM图像的煤储层孔隙结构参数定量分析方法，包括以下步骤：获取每种煤储层样品在电镜扫描下的SEM图像，且对每种煤储层样品的SEM图像进行二值化处理以获取二值图像；建立关于二值图像的二维坐标系
一种基于 sem 图像煤储层孔隙结构参数定量分析方法

[发明专利]一种基于空间误差的城市土地利用模拟元胞自动机方法-CN201911135113.1有效
发明人：冯永玖;童小华;刘颂;谢欢;柳思聪 -专利权人：同济大学
申请日： 2019-11-19 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G06Q10/0639 文献下载
摘要：本发明涉及基于空间误差的城市土地利用模拟元胞自动机方法，包括：1)对遥感图像进行分类，获取城市土地利用图和驱动因子；2)对城市土地利用图和驱动因子进行系统抽样，获取样本数据；3)利用SEM对采样数据进行训练，建立CA转换规则；4)采用对数似然值、AIC评估转换规则的拟合性能，检验效果；5)建立CASEM新模型，并计算产生城市土地转换概率图；6)基于遥感分类的历史土地利用数据，预测未来每个时间点城市元胞数量；7)使用CASEM模拟预测城市空间格局和扩张过程；8)利用多类指标对模拟结果进行综合评价并输出并保存。
一种基于空间误差城市土地利用模拟自动机方法

[发明专利]基于SEM图像的碳酸盐岩储层孔隙半径分布定量方法-CN202110760736.9有效
发明人：久博;黄文辉;郝睿林;于春兰 -专利权人：中国地质大学（北京）
申请日： 2021-07-06 - 公布日： 2023-02-07 - 主分类号： G06T7/60 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于SEM图像的碳酸盐岩储层孔隙半径分布定量方法，包括以下步骤：获取每种碳酸盐岩储层在电镜扫描下的SEM图像，SEM图像内按照自适应阈值方式对每种碳酸盐岩储层二值化处理并转化为二值图像；
基于 sem 图像碳酸盐岩储层孔隙半径分布定量方法

[发明专利]基于AI算法的SEM图形量测方法-CN201910910073.7有效
发明人：林义征 -专利权人：上海众壹云计算科技有限公司
申请日： 2019-09-25 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G06V10/82 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于AI算法的SEM图形量测方法，包括如下方法：使用AI技术实现SEM图形的量测，提出的AI量测方案由三大模块构成：一、图像上的标尺刻度识别：采用深度学习技术为最终的量测提供像素单位长度；二、模板匹配：采用FLANN模板匹配技术对所要量测的部位进行精准定位，并获得局部图像；三、具体SEM图像的量测：采用二值化、边缘识别等技术对元器件的尺寸进行量测。
基于 ai 算法 sem 图形方法

[实用新型]一种具有温度监测和过温保护功能的SEM-D模块-CN201921951824.1有效
发明人：蔡叠;徐金平;卿宰波;周飞 -专利权人：重庆秦嵩科技有限公司
申请日： 2019-11-13 - 公布日： 2020-05-05 - 主分类号： G01K13/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及模块技术领域，且公开了一种具有温度监测和过温保护功能的SEM‑D模块，包括模块本体以及安装在模块本体内部的温度传感器，所述温度传感器的数量为若干个，所述模块本体的内部包括副控制器、主控制器和下电单元，所述模块本体的一侧通过总线电性连接有报警结构，所述报警结构用于提醒工作人员；该一种具有温度监测和过温保护功能的SEM‑D模块，通过模块本体、温度传感器、副控制器、主控制器、下电单元和报警结构的设置，使SEM‑D模块，具备可以对模块内部各节点的温度进行实时监测、并对模块采取过温保护的优点，解决了现有的模块无法对其内部各节点的温度进行实时监测、且无法对模块采取过温保护的问题。
一种具有温度监测保护功能 sem 模块

[实用新型]一种芯片失效分析用测试装置-CN202122336617.9有效
发明人：俞佩佩;王丽雅;胡明辉 -专利权人：合肥晶合集成电路股份有限公司
申请日： 2021-09-26 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本实用新型提供一种芯片表面放电的失效分析用测试装置，包括基座、夹持件和导电件，夹持件可移动的连接在基座上，导电件可旋转的连接在基座上，基座、夹持件和导电件的材料均为导电金属材料；当置于SEM机台的操作台上时，夹持件夹持芯片，芯片通过夹持件分别与基座和导电件电连接，基座和导电件均与操作台上的接地端连接，以通过基座在SEM机台的操作台上的接地端连接，降低芯片在测试时出现的芯片表面放电的问题，导电件可以增加芯片接触接地端(碳胶)的面积，从而解决了芯片在SEM机台上测试时出现的芯片表面放电的问题，该装置没有在芯片的四周点碳胶，没有去除碳胶以及点碳胶的过程，从而减少了在芯片周围反复点碳胶所耗费的时间。
一种芯片失效分析测试装置

[实用新型]一种SEM样品台-CN202222823468.3有效
发明人：凌明华;徐帅;李闯;张红伟;黄海东;胡天齐;王毅明;方新军;戚玉霞 -专利权人：江苏和达电子科技有限公司;四川和晟达电子科技有限公司
申请日： 2022-10-25 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01N23/2204 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种SEM样品台，属于SEM显微镜零部件技术领域，该一种SEM样品台，包括底台部；凸出部，一体成型于所述底台部的工作面，并以所述凸出部的上表面以及两侧面作为样品的附着面；固定件，由导电材料制成
一种 sem 样品

[实用新型]一种SEM夹具-CN201821041744.8有效
发明人：盛司光;安邦;常佳丽;谢添;孙常尚 -专利权人：天臣新能源研究南京有限公司
申请日： 2018-06-29 - 公布日： 2019-02-05 - 主分类号： G01N23/2204 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种SEM夹具，包括夹具底板、立板、线性导向轴、定位销和圆线螺旋弹簧，所述立板的数量为3～5个，且并列插接在夹具底板上，相邻的两个所述横板的上端面之间夹设电极膜片，多个并列设置的横板前端面均穿设
容置槽线性导向轴电极膜片夹具底板螺旋弹簧凸块圆线夹具定位销横板立板形貌本实用新型并列设置工作效率实用结构安装孔串接的前端面上端面准确率侧端插接穿设串接夹持夹设内壁并列贯通观察试验

[发明专利]一种聚丙烯腈预氧化纤维皮芯结构的检测方法-CN201611114005.2在审
发明人：吕春祥;孙同庆;李永红;邵伟 -专利权人：中国科学院山西煤炭化学研究所
申请日： 2016-12-07 - 公布日： 2017-04-26 - 主分类号： G01N23/225 文献下载
摘要：一种聚丙烯腈预氧化纤维皮芯结构的检测方法是将预氧化纤维短丝，浸渍在硫酸溶液中加热至沸腾，回流处理0.1‑2h，洗涤至中性，将样品烘干后冷却至室温；取处理后预氧化纤维短丝用SEM扫描预氧化纤维截面并存图，将图片用SEM的测量软件进行纤维及芯部直径的测量，取平均值，确定芯部所占比例。
一种聚丙烯氧化纤维结构检测方法

[发明专利]适用于易氧化陶瓷材料的SEM样品制备方法-CN202010469597.X在审
发明人：赵婷婷;张昱;顾辉;邢娟娟;姜颖 -专利权人：上海大学
申请日： 2020-05-28 - 公布日： 2020-07-31 - 主分类号： G01N1/32 文献下载
摘要：本申请公开了一种适用于易氧化陶瓷材料的SEM样品制备方法，包括如下步骤：采用酒精作为介质，采用至少两张不同粗糙度的砂纸，依照所述砂纸的粗糙度由大到小的顺序，对所述易氧化陶瓷材料进行表面机械抛光；将抛光完毕的样品至于酒精中保存，以供SEM使用。
适用于氧化陶瓷材料 sem 样品制备方法

[发明专利]用于半导体应用的高纯度堇青石材料-CN202180007657.9在审
发明人： L·沃克;S·比斯塔;M·J·多隆;S·R·肯尼迪 -专利权人：贺利氏科纳米北美有限责任公司
申请日： 2021-01-26 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： C04B35/195 文献下载
摘要：本发明公开了一种堇青石烧结体，该堇青石烧结体包含：90体积％至98体积％的堇青石晶相，如使用x射线衍射、SEM和图像处理方法所测量的，其中该堇青石烧结体具有至少一个表面，该至少一个表面包含直径为0.1um至5um的孔，如使用SEM和图像处理方法所测量的。
用于半导体应用纯度青石材料

[发明专利]基于扫描电子显微镜对粉末颗粒内部孔洞进行分析的方法-CN202310706357.0在审
发明人：钱铸;闫祖鹏;王高红;王师会 -专利权人：天津铸金科技开发股份有限公司
申请日： 2023-06-15 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于扫描电子显微镜对粉末颗粒内部孔洞进行分析的方法，属于粉末颗粒图像处理技术领域，包括：制备粉末颗粒的测试样品；获取大视域高分辨率的SEM图像；对大视域高分辨率的SEM图像进行图像处理；
基于扫描电子显微镜粉末颗粒内部孔洞进行分析方法

[发明专利]一种膨胀性泥岩崩解特性测试方法-CN202310068505.0在审
发明人：郭东杰;都海龙;金爱兵;王俊红;赵怡晴;朱德智;王建彬;张晋斌;陶广美;马赛;王萌 -专利权人：北京科技大学;晋城蓝焰煤业股份有限公司成庄矿;山西晋煤集团技术研究院有限责任公司
申请日： 2023-02-06 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N3/12 文献下载
摘要：本发明提供一种膨胀性泥岩崩解特性测试方法，该方法包括：泥岩取样、岩样分组、岩样浸水、试样筛分、循环崩解、XRD矿物成分分析、SEM微观结构分析和微观结构定量分析，本发明的泥岩崩解性测试方法包括泥岩崩解性试验、XRD矿物成分分析、SEM微观结构分析以及微观结构定量分析四部分，能够全面有效的获取泥岩的崩解特性和表征崩解物形状，同时能够阐明泥岩的崩解原因、破坏形式，能够为相关岩石崩解性测试提供有益参考。
一种膨胀泥岩崩解特性测试方法

[发明专利]芯片失效分析方法及芯片失效分析标记-CN201310365572.5有效
发明人：杨梅;殷原梓;文智慧;高保林;赵利利 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2013-08-20 - 公布日： 2017-10-27 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明揭示了一种芯片失效分析方法及芯片失效分析标记，包括提供待测芯片，在SEM下将所述芯片的缺陷位置做第一标记；将所述待测芯片放置于FIB中，利用电子束照射所述第一标记以形成一氧化膜，从而形成在离子束下可识别的芯片失效分析标记这避免了利用FIB离子束挖洞之前可能出现的寻找不到特征点的情况，节省了操作时间，可靠性高，并且在SEM中能够达到30nm的精度，能够满足实际需求。
芯片失效分析方法标记