专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种对FPGA内部嵌入式多位存储器故障的测试方法-CN201110119650.4有效
  • 高成;刘孝章;黄姣英 - 北京航空航天大学
  • 2011-05-10 - 2011-08-17 - G11C29/12
  • 一种对FPGA内部嵌入式多位存储器故障的测试方法,它有六大步骤:一、基于March C-算法,首先增加测试图样数2×(1+log2n);二、将2×(1+log2n)种测试图样代入March C-算法的6个March单元,得到位宽为n bit的以存储单元为基准的存储器March C-测试算法;三、利用Verilog硬件描述语言在FPGA内部构建BIST结构;四、在BIST平台下,由控制单元控制不同状态下输入被测存储器的测试图形、状态控制器所在状态以及内部响应分析器的启动与停止,由测试图形生成器生成针对存储器不同故障模型所需的March元素测试图形序列;五、根据以上生成的测试图形对存储器进行测试;六、观察测试波形,确定存储器故障类型
  • 一种fpga内部嵌入式存储器故障测试方法

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