专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]激光干涉仪非线性误差修正方法、装置及应用其的干涉仪-CN201010135331.8无效
  • 高思田;施玉书;卢明臻;杜华 - 中国计量科学研究院
  • 2010-03-26 - 2010-09-22 - G01B9/02
  • 本发明公开了一种单频激光干涉仪非线性误差修正方法、装置及应用其的干涉仪,本发明的方法是利用谐波分离修正法对所述干涉仪非线性误差进行修正,包括:步骤一,建立修正方程,以依据该修正方程,从干涉仪的两路干涉信号中获取干涉信号的相位角;步骤二,对干涉信号中的基波成分进行修正,获取初始相位角;步骤三,对所述干涉信号中的谐波成分进行修正,获取相位角的修正值;步骤四,依据所述初始相位角及所述相位角的修正值获取补偿修改后的精确相位角,并据此获取所述干涉仪测量镜位移以实现对干涉仪的非线性误差修正本发明可消除干涉信号中引起非线性误差的各种谐波成分,使单频激光干涉仪的非线性误差修正达到最优化。
  • 激光干涉仪非线性误差修正方法装置应用
  • [发明专利]一种适用于非线性系统的模型在线修正方法-CN201710958824.3在审
  • 孙洪飞;韩可盛;李家豪;胡乔峰;梅映雪 - 厦门大学
  • 2017-10-16 - 2017-12-15 - G05B13/04
  • 一种适用于非线性系统的模型在线修正方法,涉及飞行器模型在线修正。确定非线性系统的简单模型;计算简单模型与真实模型之间的模型误差;对简单模型进行修正得到更接近真实模型的修正后模型。可以简单看成是利用系统的实际输入和输出来在线观测非线性系统简单模型和真实模型之间的模型误差,然后利用这个模型误差修正系统的简单模型,得到更接近真实模型的使用模型,进而用到飞行器计算机仿真、飞行器控制系统设计等中去由非线性系统的实际输入输出和高阶非线性干扰观测器得到系统的模型误差,然后利用模型误差修正简单模型,修正后的模型相比于简单模型更接近系统的真实模型,可以用于飞行器计算机仿真、飞行器控制系统设计等。
  • 一种适用于非线性系统模型在线修正方法
  • [发明专利]磁强计误差校正方法及装置、磁强测量装置-CN201810085319.7有效
  • 陈曦;巩永稳;张金龙;靳瑾;匡麟玲 - 深圳清华大学研究院
  • 2018-01-29 - 2020-06-30 - G01R35/00
  • 本发明提供一种磁强计误差校正方法,测量并计算磁强计每个测量轴的非线性修正系数;调整探头温度,并根据所述非线性修正系数计算所述磁强计测量轴的探头温度修正系数;调整电路温度,并根据所述非线性修正系数计算所述磁强计测量轴的电路温度修正系数;利用所述非线性修正系数、所述探头温度修正系数以及所述电路温度修正系数校正所述磁强计每个测量轴的直接测量值;将校正后的每个测量轴的直接测量值进行正交度矫正,得到所述磁强计每个测量轴的磁场分量。本发明实施例还提供一种磁强计误差校正装置及磁强测量装置。利用本发明实施例,可优化磁强计输出与真实磁场之间的非线性,提高磁强计的线性度。
  • 磁强计误差校正方法装置测量
  • [发明专利]非线性最小二乘修正的荧光染色薄膜厚度测量标定方法-CN202110431128.3在审
  • 梁鹤;陈虹百;王文中;赵自强 - 北京理工大学
  • 2021-04-21 - 2021-06-29 - G01B11/06
  • 本发明提供了一种非线性最小二乘修正的荧光染色薄膜厚度测量标定方法,能够实现对非线性误差和随机误差修正,显著减小由荧光强度和薄膜厚度之间的非线性关系以及荧光强度的随机性所带来的测量误差,有效提高荧光染色薄膜厚度的测量精度以及量程本发明考虑荧光染色薄膜厚度测量标定过程中荧光强度与薄膜厚度之间的非线性以及由荧光强度随机性所导致的测量误差,基于多项式和最小二乘法得到标定系数,实现对非线性误差和随机误差修正。本发明提供的标定方法可显著减小由荧光强度与薄膜厚度之间的非线性以及标定过程中荧光强度的随机误差导致的测量误差,能有效提高荧光染色薄膜厚度的测量精度以及量程。
  • 非线性最小修正荧光染色薄膜厚度测量标定方法
  • [发明专利]影像测量仪及其非线性误差修正方法和校正板-CN201110305004.7有效
  • 张松涛;黄志良 - 珠海市怡信测量科技有限公司
  • 2011-10-10 - 2012-05-09 - G01B11/00
  • 本发明公开了一种影像测量仪及其非线性误差修正方法和校正板,所述校正板上设有呈矩阵布置的多个标准圆和多个同心圆,所述多个同心圆分为两组,第一组同心圆以最左下角的标准圆为基准,第二组同心圆以最右上角的标准圆为基准本发明提供的校正板,取点的方式通过测量选取圆心坐标,而不是采用靠齐线的边缘的方法,从而减少了因为线的宽度因素造成取点的误差。本发明提供的影像测量仪的非线性误差修正方法,对工作台作两次非线性误差修正,将两次非线性误差修正值平均,提高测量了测量精度;另外,对工作台的测量范围内纵横向每间隔10mm进行了非线性误差修正,有效地消除或减少了机械误差
  • 影像测量仪及其非线性误差修正方法校正

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