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[发明专利]船舶中压电力系统计量方法-CN202310828470.6在审
发明人：栾静;徐孙庆;赵军;刘琦;陈乐;张雨;孙立彪 -专利权人：中国人民解放军92493部队计量测试研究所
申请日： 2023-07-06 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01R22/10 文献下载
摘要：本发明公开了船舶中压电力系统计量方法，包括S1、数据采集：对电力系统中各电表的计量数据进行读取，从数据库中获取相关电表的目标计量数据；S2、数据对比。本发明通过读取的计量数据依次与目标计量数据和计量数据模型进行对比，对读取的计量数据进行双重对比，提高读取的计量数据获取的准确性，防止获取错误的电能计量数据被储存，在检测出读取的计量数据属于错误数据时，可向电力系统终端发送错误报告，同时可调取电力系统终端储存的以往错误数据检测原因，与当前错误报告内的错误数据进行比对查找原因，若有相同错误数据检测原因，则同时向工作人员发送检测报告，减少工作人员前往电能计量装置处检测的工作量。
船舶压电力系统计方法

[发明专利]存储器、修复系统与其测试方法-CN201310062173.1无效
发明人：廖惇雨;陈宗申 -专利权人：旺宏电子股份有限公司
申请日： 2007-09-04 - 公布日： 2013-06-26 - 主分类号： G11C29/42 文献下载
摘要：一种存储器，包括一存储器阵列、一错误校正码（Error correct code，ECC）单元与一比较器。存储器阵列包括至少一存储单元。存储单元被写入并存储至少一原始数据。错误校正码单元用以由存储单元读取出至少一测试数据。若测试数据中出现一错误，错误校正码单元即校正测试数据。错误校正码单元并据以输出至少一错误校正数据。比较器用以决定原始数据是否与错误校正数据相同，并输出一输出信号来指示存储单元为测试成功或测试失败。
存储器修复系统与其测试方法

[发明专利]存储器、修复系统与其测试方法-CN200710149008.4无效
发明人：廖惇雨;陈宗申 -专利权人：旺宏电子股份有限公司
申请日： 2007-09-04 - 公布日： 2008-11-12 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：一种存储器，包括一存储器阵列、一错误校正码(Error correct code，ECC)单元与一比较器。存储器阵列包括至少一存储单元。存储单元被写入并存储至少一原始数据。错误校正码单元用以由存储单元读取出至少一测试数据。若测试数据中出现一错误，错误校正码单元即校正测试数据。错误校正码单元并据以输出至少一错误校正数据。比较器用以决定原始数据是否与错误校正数据相同，并输出一输出信号来指示存储单元为测试成功或测试失败。
存储器修复系统与其测试方法

[发明专利]误码率测量装置及错误计数方法-CN202110135736.X在审
发明人：大沼弘季 -专利权人：安立股份有限公司
申请日： 2021-02-01 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： H04L1/00 文献下载
摘要：根据被测物的通信标准，对用户所设定的区域的错误进行计数。误码率测量装置(1)具备：操作部(4)，根据被测物W的通信标准，设定FEC的1个Codeword长度、1个FEC Symbol长度；存储部(5)，存储接收来自被测物(W)的信号并进行转换的符号串数据；数据分段机构(3da)，将所存储的符号串数据分段为MSB数据和LSB数据；数据比较部(3d)，将所分段的MSB数据和LSB数据分别与错误数据进行比较而分别检测每1个Codeword长度的MSB错误和LSB错误，并且以1个FEC Symbol间隔检测MSB数据和LSB数据各自的FEC Symbol Error；及错误计数机构(7a)，对所检测到的MSB错误、LSB错误、FEC Symbol Error进行计数。
误码率测量装置错误计数方法

[发明专利]数据处理方法、存储器控制器及存储器储存装置-CN201110203498.8有效
发明人：梁立群 -专利权人：群联电子股份有限公司
申请日： 2011-07-20 - 公布日： 2013-01-23 - 主分类号： G11C29/40 文献下载
摘要：一种数据处理方法、存储器控制器及存储器储存装置，数据处理方法包括如下步骤。压缩一数据并取得一压缩数据。取得对应压缩数据的压缩信息。分别为压缩信息及压缩数据产生错误校正码。分别将压缩信息、压缩数据及错误校正码写入至可复写式非易失性存储器模组中。分别读取可复写式非易失性存储器模组中的压缩信息、压缩数据及错误校正码。根据对应压缩信息的错误校正码，对压缩信息执行错误校正程序，以取得所读取的压缩信息在写入时所对应的储存状态。根据压缩信息的储存状态以及压缩数据的错误校正码，对压缩数据执行错误校正程序，以取得所读取的压缩数据在写入时所对应的储存状态。
数据处理方法存储器控制器储存装置

[发明专利]一种文件系统维护和修复的方法和装置-CN201510662628.2有效
发明人：齐江 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2015-10-14 - 公布日： 2019-03-01 - 主分类号： G06F11/07 文献下载
摘要：本发明提供了一种文件系统维护和修复的方法和装置，当检测到所述文件系统中的元数据发生错误时，确定所述错误的元数据是否属于可隔离的元数据，所述可隔离的元数据为发生错误后，文件系统仍然可以继续提供部分服务的元数据；当确定所述发生错误的元数据属于可隔离的元数据时，将所述发生错误的元数据设置为只读或者不可访问。应用本发明技术方案，可以使文件系统中发生错误的元数据为可隔离的元数据时，将发生错误的元数据隔离，而文件系统继续运行，保证的文件系统工作的连续性，提高了系统的可容错能力，提升了整体业务的性能。
一种文件系统维护修复方法装置

[发明专利]动态调整存储设备的错误校正作用等级-CN201680063428.8有效
发明人：约翰·科尔格洛夫;伊桑·米勒 -专利权人：净睿存储股份有限公司
申请日： 2016-10-26 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：动态调整存储设备的错误校正作用等级，包括：从存储阵列控制器接收在尝试从存储设备读取数据时要执行的错误校正作用等级；识别读取数据的尝试导致了错误；以及确定尝试校正错误所需的错误校正作用等级的量是否超过在尝试从存储设备读取数据时要执行的错误校正作用等级
动态调整存储设备错误校正作用等级

[发明专利]光盘机读取方法-CN200910137727.3无效
发明人：陈世国;许锦发;朱修明 -专利权人：广明光电股份有限公司
申请日： 2009-04-29 - 公布日： 2010-11-03 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：一种光盘机读取方法，设定及读取数据，校正解码读取数据及计算校正解码的错误量。产生读取错误时设定重试读取该笔数据，且将重试累计次数增加一次。根据错误量，高错误量设定低的设定重试次数，低错误量则设定高的设定重试次数。在重试次数未到达设定重试次数，重试读取该笔错误数据。在重试次数到达设定重试次数，则确定为读取错误，以提高读取效率。
光盘读取方法

[发明专利]用于车辆的错误管理的方法、错误管理装置、计算机程序和计算机程序产品-CN202080038459.4在审
发明人： T·海达;J·瓦尔特豪森;P·拉多伊科维奇 -专利权人：宝马股份公司
申请日： 2020-05-29 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于车辆(10)的错误管理，所述车辆具有构造用于提供图像数据的至少一个摄像机单元(21)，如果检测到关于车辆(10)的相应的错误状态，根据相应检测到的错误状态创建相应的错误条目。相应的错误条目代表关于相应检测到的错误状态的信息。根据相应检测到的错误状态请求所述至少一个摄像机单元(21)的相应的图像数据。这样请求所述至少一个摄像机单元(21)的相应的图像数据，使得相应的图像数据与相应检测到的错误状态具有时间关联性。将相应请求的图像数据分配给相应的错误条目。
用于车辆错误管理方法装置计算机程序产品

[发明专利]半导体存储器以及半导体存储器的操作方法-CN03826473.0有效
发明人：江渡聪 -专利权人：富士通株式会社
申请日： 2003-08-18 - 公布日： 2006-05-10 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：数据添加电路将要从刷新块读取的多种类型期望数据分别添加到从其它块读取的数据，以产生多个读数据串。纠错电路检测每个读数据串的错误，并且将错误检测结果中最可靠的结果设置为真。纠错电路基于真错误检测结果对要从刷新块读取的数据进行解码。而且，纠错电路纠正对应于真错误检测结果的读数据串的错误。从而，在不延长读周期时间的条件下，可以隐藏刷新操作，并且同时可以纠正错误。通过纠正从时间保持特性很差的存储器单元读取的数据错误，可以延长刷新请求间隔，进而可以降低待机期间的功耗。
半导体存储器以及操作方法

[发明专利]存储数据的方法、读取数据的方法和相关设备-CN202210381892.9在审
发明人：林宪正;孙翊宁;李步蟾;韩永祥;白铂 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2022-04-12 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种存储数据的方法、读取数据的方法和相关设备，该方法包括：获取来自于处理器的输出数据，该输出数据包括待写入内存的目标数据和与该目标数据对应的错误数据指示信息，该错误数据指示信息用于指示该目标数据是否是错误数据；根据该错误数据指示信息，将预设数据写入该内存，或者，将根据该目标数据确定的写入数据写入该内存。上述技术方案可以在不牺牲校验位的情况下，指示错误数据。因此，利用上述技术方案，既可以识别内存保存的错误数据，也避免了因牺牲校验位导致的纠错能力下降的问题。
存储数据方法读取相关设备

[发明专利]存储装置及数据读取方法-CN201910746677.2在审
发明人：岩井克彦;前田真司;池田宇晶 -专利权人：东芝存储器株式会社
申请日： 2019-08-13 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：本发明提供通过早期发现及识别自半导体存储元件读取的数据的输出异常而可削减解析成本的存储装置及数据读取方法。存储装置是自存储有数据的非易失性的半导体存储元件读取所述数据者，具备错误校正电路、保持电路、数据分配电路、及处理电路。错误校正电路对自非易失性的半导体存储元件按处理单位读取的数据进行错误检测，并根据需要进行错误校正。保持电路可将数据按每一处理单位暂时保持。数据分配电路将自非易失性的半导体存储元件读取的处理单位的数据传送至错误校正电路，且使数据退避在保持电路。处理电路在通过错误校正电路在数据中检测到无法进行错误校正的错误的情况下，读取退避在保持电路的数据，进行与数据解析相关的指定处理。
存储装置数据读取方法

[发明专利]串行传输芯片及SERDES电路测试方法-CN201810304171.1有效
发明人：张进;吕平;刘勤让;沈剑良;宋克;朱珂;王永胜;李沛杰;张波;王锐;何浩;李杨;肖峰;毛英杰;赵玉林;虎艳宾;张霞;杜延康 -专利权人：天津芯海创科技有限公司;天津市滨海新区信息技术创新中心
申请日： 2018-04-04 - 公布日： 2021-04-27 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种串行传输芯片及SERDES电路测试方法，所述串行传输芯片中，测试数据生成模块向SERDES电路发送第一测试数据；比较数据生成模块在接收到SERDES电路发送的指示信号时，向错误数据注入模块发送第二测试数据；错误数据注入模块根据错误注入控制信号向数据比较模块的第一输入端发送第二测试数据，或者，发送在对第二测试数据按照预设方式注入错误信息后得到的第三测试数据；数据比较模块用于接收SERDES电路的输出数据，将输出数据分别与第二测试数据和第三测试数据比较，得到测试结果，达到对测试过程注入可控的错误信息，分别在错误信息注入前和错误信息注入后校验并确定测试结果，提高故障芯片的检出率。
串行传输芯片 serdes 电路测试方法

[发明专利]纠错模型的训练数据确定方法、装置、介质及产品-CN202110950245.0在审
发明人：李罗政;宋佩佩;张丹 -专利权人：北京北大方正电子有限公司
申请日： 2021-08-18 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G06F40/232 文献下载
摘要：本发明提供一种纠错模型的训练数据确定方法、装置、介质及产品。该方法包括：从文稿审校记录中获取满足初始筛选要求的中间正确文本及对应的中间错误文本，所述中间错误文本中包括错误字词；根据预先构建的概率采样算法从中间错误文本中确定出满足真实字词错误分布的目标错误文本；将目标错误文本及对应的中间正确文本确定为第一训练数据基于此，可以得到包含满足真实字词错误分布的目标错误文本的训练数据，基于该训练数据能够有效的提高字词纠错模型的效果。
纠错模型训练数据确定方法装置介质产品

[发明专利]半导体存储器装置及其操作方法、存储器系统-CN201811300941.1有效
发明人：孙钟弼;孙教民 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2018-11-02 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G11C7/10 文献下载
摘要：半导体存储器装置包括存储器单元阵列、错误注入寄存器集、数据输入缓冲器、写数据产生器和控制逻辑。错误注入寄存器集基于第一命令存储包括至少一个错误比特的错误比特集。错误比特集与待写入存储器单元阵列中的数据集关联。数据输入缓冲器基于第二命令存储待写入存储器单元阵列中的数据集。写数据产生器基于数据集和错误比特集产生待写入存储器单元阵列中的写数据集。控制逻辑控制错误注入寄存器集和数据输入缓冲器。
半导体存储器装置及其操作方法系统

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