专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]芯片装置及其配置方法-CN201510888099.8有效
  • 蒋昊 - 上海兆芯集成电路有限公司
  • 2015-12-04 - 2020-09-01 - H01L21/56
  • 该芯片装置包括多个第一、多个第二和基板。所述第一用以供应第一电压至该芯片装置内的多个集成电路。所述第二用以供应第二电压至所述集成电路。该基板透过倒装芯片技术与所述第一和所述第二互相电性连接,其中所述第一和所述第二配置于该芯片装置的最高金属层;以及其中最相近的两个第一之间的距离大于两个最相近的第一和第二之间的距离
  • 芯片装置及其配置方法
  • [发明专利]倒装芯片封装的工艺-CN03142341.8有效
  • 何昆耀;宫振越 - 威盛电子股份有限公司
  • 2003-06-13 - 2004-03-03 - H01L21/28
  • 本发明公开了一种倒装芯片封装的工艺,适用于制作及底胶层于芯片的有源表面。首先,在芯片的有源表面的芯片垫上分别形成一黏着层,并散布多个球至芯片的有源表面,且震动这些球,使得每一黏着层均黏住单一球。然后,去除其余未黏住至黏着层的球,并形成一底胶层于芯片的有源表面,且环绕于这些球的侧缘,并暴露出这些球的顶缘。因此,此倒装芯片封装的工艺将可提高倒装芯片封装的可靠度,并降低倒装芯片封装的整体成本。
  • 倒装芯片封装工艺
  • [发明专利]底缓冲金属结构-CN02123300.4有效
  • 宫振越;何昆耀 - 威盛电子股份有限公司
  • 2002-06-17 - 2003-01-22 - H01L23/48
  • 一种底缓冲金属结构,适用于配置在芯片或基板的焊垫与焊料之间,其中焊料的主要成分为锡铅合金,此底缓冲金属结构至少具有一金属层及一缓冲金属结构,此缓冲金属结构能够减轻或减缓金属层与焊料结合时产生介金属化合物的电气其中,金属层配置于芯片的焊垫上,其组成成分例如为铜、铝、镍、银或金等可与锡发生化学反应的金属,而缓冲金属结构则配置于金属层及焊料之间,用以减少金属层及焊料之间生成介金属化合物的可能性。
  • 凸块底缓冲金属结构
  • [发明专利]结构与其制作方法-CN201610103905.0有效
  • 卢东宝;徐子涵 - 南茂科技股份有限公司
  • 2016-02-25 - 2019-03-19 - H01L23/488
  • 本发明提供一种结构与其制作方法。结构包括本体以及多个孔隙。孔隙分布于本体中,其中孔隙的直径介于0.05微米至1微米之间,且本体与孔隙间的孔隙度介于25%至75%之间。结构的制作方法,包括下列步骤:将多个气泡掺杂于电镀液中。藉由电镀液形成本体于镀件上,且气泡混入本体中,以构成分布于本体中的多个孔隙,其中孔隙的直径介于0.05微米至1微米之间,且本体与孔隙间的孔隙度介于25%至75%之间。本发明使结构具有高孔隙度与弹性,从而提高结构的接合效果,并同时降低生产成本。
  • 结构与其制作方法
  • [发明专利]半导体装置的结构-CN201510479932.3有效
  • 锺孙雯;张程皓 - 晶宏半导体股份有限公司
  • 2015-08-07 - 2020-07-24 - H01L23/485
  • 本发明公开了一种半导体装置的结构,焊垫与辅助垫设置于装置主体上。一绝缘层形成于装置主体上,并具有一辅助孔,以显露出辅助垫。下金属层形成于绝缘层上,并连接至焊垫与辅助垫。细长凸起状设置于下金属层上,细长具有一位于焊垫上的部以及一延伸部,延伸部连接部并位于绝缘层上,并且细长的延伸部的长度不小于部长度的百分之八十,且延伸部覆盖辅助垫并具有一根部,藉此,可达到加强细长结合在下金属层上的效果,使细长不会歪斜。
  • 半导体装置结构
  • [发明专利]焊锡的修正方法-CN201680081870.3有效
  • 中村秀树 - 千住金属工业株式会社
  • 2016-12-15 - 2022-04-29 - H01L21/60
  • 在硅晶片上形成的图案是微细的,所形成的焊锡也是微细的,因此,当问题产生时不能进行修正,连工件的硅晶片都被废弃。作为修正方法,在形成于硅晶片上的焊锡上,在将穿孔成与上述焊锡相同图案的掩模覆盖到焊锡上之后,从上述掩模上接触熔融焊锡,将熔融焊锡填充到上述掩模的穿孔部中。
  • 焊锡修正方法
  • [发明专利]结构及其制作方法-CN200810169241.3无效
  • 孙伟豪;汤宝云 - 瀚宇彩晶股份有限公司
  • 2008-10-10 - 2010-06-09 - H01L23/485
  • 一种结构及其制作方法,其包含有一表面上形成有数个连接垫的半导体基底;一覆盖于基底上的保护层,其对应于每一连接垫具有一开口,以露出部分连接垫,作为电性连接位置;一位于保护层上的弹性层;以及数个,其每一位于电性连接位置上,且延伸至弹性层上,以借由弹性层提供弹性与变形量的空间。本发明利用一较大尺度(≥20μm)的弹性层图案化制程,来形成适当图案的弹性层,以使结构能够适用于超细节距的IC元件。
  • 结构及其制作方法
  • [发明专利]基于的简易榨汁器-CN201210110634.3无效
  • 马连德 - 马连德
  • 2012-04-16 - 2013-10-30 - A47J19/00
  • 本发明公开了一种基于的简易榨汁器。所述基于的简易榨汁器主体(1)为圆形托盘结构,其中间设有向上的半椭圆形(2),所述(2)的表面设有起伏凹陷,环绕(2)设有凹槽(3),所述凹槽(3)底部至主体(1)的边缘开设导流槽(4)本发明的简易榨汁机,是一体式结构,通过中心的椭圆形,将水果汁压出来,结构简单,使用方便。
  • 基于简易榨汁
  • [发明专利]IC封装的制造工艺-CN201210293532.X无效
  • 余家良 - 江苏汇成光电有限公司
  • 2012-08-17 - 2013-01-02 - H01L21/60
  • 本发明公开了一种IC封装的制造工艺,包括如下步骤:提供一硅片,硅片上至少形成有一铝垫及一硅片护层,在硅片上至少形成一双层,双层覆盖铝垫及硅片护层;在硅片上还至少形成一保护层,在保护层上至少形成一导电层;在硅片表面上至少形成一层厚度均一的光阻层,光阻层全部覆盖保护层和导电层;在硅片上对需要形成双层的地方进行曝光和显影;在硅片表面沉积双层;移除硅片表面的光阻层;采用化学蚀刻将多余的金属区域去除。通过上述方式,本发明IC封装的制造工艺流程简单,能够制造出金加钯的双层,作用于结合晶片和面板,能够降低材料成本,产品寿命更长,可靠度更加,增强了市场竞争性。
  • ic封装制造工艺

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