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- [发明专利]一种硬逻辑延时触发器-CN201911280127.2在审
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陈澎祥;李森;肖萌璐;王健;周鑫
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天地伟业技术有限公司
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2019-12-12
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2020-04-07
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H03K17/28
- 本发明提供了一种硬逻辑延时触发器,包括电源控制模块、延时控制模块、逻辑控制模块;所述逻辑控制模块包括反馈模块,所述反馈模块入口连接逻辑控制模块,所述反馈模块出口连接电源控制模块;电源控制模块:用于给整个模块供电,平时处于休眠状态;延时控制模块:用于控制延时,并且延时可调,具体时间根据现场需求而定;逻辑控制模块:用比较器做逻辑比较功能,待延时模块电压上升到参考值,电平变化;反馈模块:用于控制电源模块,在逻辑没有实现之前保持电源供电本发明所述的电源控制模块、延时控制模块、逻辑控制模块、反馈模块实现了硬逻辑延时控制电路,不需要单片机控制,性能稳定,没有跑飞风险。
- 一种逻辑延时触发器
- [发明专利]一种访问控制系统、访问控制方法及存储介质-CN202110126487.8在审
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刘曌阳
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北京京东拓先科技有限公司
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2021-01-29
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2021-12-07
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G06F9/445
- 本发明公开了一种访问控制系统、访问控制方法及存储介质。其中访问控制系统包括控制模块、配置模块、业务逻辑模块群,其中:控制模块接收访问请求,并将所述访问请求发送至所述配置模块,其中,访问请求中包括访问对象信息;所述配置模块,用于存储各访问对象的业务逻辑顺序,接收所述控制模块发送的访问请求,确定所述访问请求中访问对象的业务逻辑顺序,并将所述业务逻辑顺序发送至所述控制模块;所述业务逻辑模块群包括多个业务逻辑模块,各所述业务逻辑模块配置有对应标识,用于执行对应的访问业务逻辑;所述控制模块根据所述业务逻辑顺序和各所述业务逻辑模块的标识,控制对应业务逻辑模块执行访问业务,实现了对多目标对象的可编排式访问。
- 一种访问控制系统控制方法存储介质
- [发明专利]集成电路测试电路及装置-CN202310615790.3在审
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刘家星
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深圳市恒锐无限科技有限公司
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2023-05-29
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2023-08-29
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G01R31/28
- 本申请公开了一种集成电路测试电路及装置,用于测试程控电源、功率器件之间是否正常,其包括第一逻辑门模块、分别与集成控制模块、开关模块连接,用于逻辑运算控制开关模块和集成控制模块给功率器件测试功率信号;第二逻辑门模块,分别与集成控制模块、上拉电路模块连接,用于逻辑运算控制集成控制模块给功率器件测试供电信号,集成控制模块,分别与程控电源、第一逻辑门模块、开关模块连接,用于控制程控电源给第一逻辑门模块、第二逻辑门模块输出预设控制电平;开关模块,分别与程控电源以及集成控制模块连接,用于在集成运算模块的控制下,连接或断开该程控电源与第一逻辑门模块之间的通路,具有快速高效和成本低廉的有益效果。
- 集成电路测试电路装置
- [发明专利]调光电路、调光芯片、调光系统及其调光方法-CN201510982454.8有效
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王明;王刚
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上海晶丰明源半导体股份有限公司
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2015-12-24
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2017-04-12
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H05B33/08
- 本发明披露一种调光电路,包括调光相位检测模块、调光角度补偿模块、外部电流控制回路、内部电流控制回路、逻辑控制模块和逻辑响应模块;调光相位检测模块用以检测输入电压,并提供至调光角度补偿模块;调光角度补偿模块与外部电流控制回路和内部电流控制回路连接,调光角度补偿模块用以根据输入电压的相位信息而输出调光补偿信号至内部电流控制回路;外部电流控制回路输出外部电流信号至内部电流控制回路;内部电流控制回路用以根据调光补偿信号和外部电流信号而输出回路控制信号至逻辑控制模块;逻辑控制模块用以根据回路控制信号发送逻辑控制信号至逻辑响应模块;逻辑响应模块用以根据逻辑控制信号而使输入电压与负载的连接导通或断开。
- 调光电路芯片系统及其方法
- [实用新型]调光电路、调光芯片及调光系统-CN201521089287.6有效
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王明;王刚
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上海晶丰明源半导体有限公司
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2015-12-24
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2016-08-10
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H05B33/08
- 本实用新型披露一种调光电路,包括:调光相位检测模块、调光角度补偿模块、外部电流控制回路、内部电流控制回路、逻辑控制模块和逻辑响应模块;调光相位检测模块用以检测输入电压,并提供至调光角度补偿模块;调光角度补偿模块与外部电流控制回路和内部电流控制回路连接,调光角度补偿模块用以根据输入电压的相位信息而输出调光补偿信号至内部电流控制回路;外部电流控制回路输出外部电流信号至内部电流控制回路;内部电流控制回路用以根据调光补偿信号和外部电流信号而输出回路控制信号至逻辑控制模块;逻辑控制模块用以根据回路控制信号发送逻辑控制信号至逻辑响应模块;逻辑响应模块用以根据逻辑控制信号而使输入电压与负载的连接导通或断开。
- 调光电路芯片系统
- [发明专利]射频测试芯片-CN201610481751.9有效
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王远;乔朋;吴昊;曹进;陈国华;谭宗英
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中兴通讯股份有限公司
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2016-06-27
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2021-03-30
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H04B17/15
- 本发明实施例提供一种射频测试芯片,包括:测试逻辑模块、通道选择模块、时钟合成模块和逻辑控制模块;其中,所述测试逻辑模块,用于根据所述逻辑控制模块的4路输入信号,选择信号测试通路;所述通道选择模块,用于根据所述逻辑控制模块的64路输入信号,选择待测设备端口与所述测试逻辑模块上的内部待测输入输出端口的导通,以及所述待测设备端口与所述时钟合成模块上的时钟提取端口的导通;所述时钟合成模块,用于根据外部输入端口的电平,选择恢复测量时钟的端口;所述逻辑控制模块,用于对逻辑控制外部端口的输入信号进行译码,并根据译码结果控制内部逻辑控制端口的输出电平。
- 射频测试芯片
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