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[发明专利]一种相控阵天线校准方法、系统、设备和存储介质-CN202111630345.1在审
发明人：季文涛;桂万如;邓庆勇;刘培帅;孙松林;王立 -专利权人：合肥若森智能科技有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： H04B17/12 文献下载
摘要：本发明提供了一种相控阵天线校准方法，包括，通过近场校准对天线幅相进行校准；基于远场环境校准天线左右旋的幅度；基于远场环境进行整机极化校准。本发明的优点在于：首先通过卫星信道提供的远场条件构建所述的远场校准环境，远场测试环境采用卫星作为发射端，测试环境大幅简化，有利于搭建测试环境。远场测试环境采用卫星作为发射端，测试环境大幅简化，利于搭建测试环境。针对卫星通信中高极化隔离度的要求，通过采用远场的幅度和相位粗校准，再加以远场的幅度和极化校准，提高校准精度，可以获得高的极化隔离度。
一种相控阵天线校准方法系统设备存储介质

[发明专利]一种测量激光通信载荷远、近场光斑模式的装置及方法-CN202210890909.3在审
发明人：吴少俊;王天洪;吕世猛 -专利权人：北京极光星通科技有限公司
申请日： 2022-07-27 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量激光通信载荷远、近场光斑模式的装置及方法，其装置包括分光片、近场测试装置和远场测试装置；所述近场测试装置设置在所述分光片的反射光路上，所述远场测试装置设置在所述分光片的透射光路上。本发明基于分光片的分光功能，将远场测试装置与近场测试装置合并来测同一装置，远场测试装置可以测量光斑远场模式、远场光轴同轴精度，近场测试模式来完成光斑近场的光斑模式、近场多光轴同轴情况；将远、近场光斑探测集成在一起，其结构简单、方便携带，可以跟随激光通信载荷进行外场测试实验以及参与整星力学前后实验，为激光通信载荷及时测量提供切实可行性方案。
一种测量激光通信载荷近场光斑模式装置方法

[发明专利]用于毫米波天线的远场测试系统及其测试方法-CN201910670112.0在审
发明人：经莹轩 -专利权人：成都华兴大地科技有限公司
申请日： 2019-07-24 - 公布日： 2019-11-26 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于毫米波天线的远场测试系统及其测试方法，包括：微波屏蔽暗室；设置于所述屏蔽暗室内的六轴机械臂子系统和远场信标子系统，其中，六轴机械臂子系统上用于安装待测试毫米波天线；设置于测试室内的测试工控机和矢量网络分析仪，测试工控机分别与矢量网络分析仪、远场信标子系统和六轴机械臂子系统通信连接，矢量网络分析仪的信号接口分别接入待测试毫米波天线和远场信标子系统。本发明通过测试工控机分别与所述矢量网络分析仪、待测试毫米波天线、远场信标子系统和六轴机械臂子系统通信连接，利用远场信标子系统和安装有待测试毫米波天线的六轴机械臂子系统，实现对天线远场特性的高效、高精度的测试
测试远场毫米波天线六轴机械臂矢量网络分析仪工控机通信连接矢量网络分析室内微波屏蔽信号接口远场测试暗室屏蔽天线

[发明专利]基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法-CN202110796464.8有效
发明人：栗曦;王可阳;杨林;郜静逸;杨钰 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2021-07-14 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法，解决了远场测量需求采样间隔小才能准确重构天线远场方向图的问题。根据天线的远场测量条件确定待测天线的远场距离；用本发明的待测天线的远场测量间隔准则确定采样间隔；抽测出天线某个表面上辐射远场的幅度和相位，依次计算和得到待测天线远场的Fourier展开系数、远场方向图函数和待测天线的幅度方向图和相位方向图，实现了远场方向图快速测量。本发明基于带限周期函数的Fourier插值法，快速准确的重构出角度间隔任意小的方向图，提高了测试效率。本发明适用于多通道、多波束、扫频测试中，可大大减少采样点数，显著提高测试效率。
基于 fourier 方向快速测量方法

[发明专利]一种多探头准远场电磁散射截面（RCS）外推测试系统-CN201911024436.3有效
发明人：周建华;李吉龙;毛小莲 -专利权人：上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司
申请日： 2019-10-25 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明公开了一种多探头准远场电磁散射截面(RCS)外推测试系统，该系统由准远场电磁散射测量系统和准远场电磁散射测量数据处理系统两部分组成。第一部分通过控制转台实现待测目标一维旋转，配合采用专用测试雷达多探头电路来获取待测目标准远场电磁散射测量所需的原始信号。第二部分实现对电磁散射数据进行采集，根据准远场‑远场变换外推算法计算被测目标的远场水平面RCS。本发明提供的测试系统克服了传统电磁散射测试手段对测试距离、可测目标尺寸的限制，降低了多探头之间的物理尺寸影响，具有测试效率高、成本低的优势。
一种探头准远场电磁散射截面 rcs 测试系统

[发明专利]一种激光芯片的多功能测试装置-CN202110075655.5在审
发明人：潘华东;李青龙;王俊;赵长福 -专利权人：苏州长光华芯光电技术股份有限公司;苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2021-06-04 - 主分类号： H01S5/00 文献下载
摘要：本申请提供一种激光芯片的多功能测试装置，用于对激光芯片进行测试，包括桌面板，在桌面板上，设有：水平行走机构，用于控制激光芯片在水平方向上移动；透镜行走机构，用于固定透镜，并控制透镜的位置；偏振上下行走气缸，用于控制偏振的高度；校准热堆左右行走气缸，带动安装于其上的校准热堆左右移动，以测试激光芯片的校准热堆；远场水平行走机构，用于测试激光芯片在水平方向上的远场；远场垂直行走机构，用于测试激光芯片在垂直方向上的远场可以对激光芯片的功率、远场水平、远场垂直、偏振及近场等性能进行测试，可以实现对激光芯片的多功能测试。
一种激光芯片多功能测试装置

[发明专利]确定RFID器件的性能的方法-CN200680053190.7无效
发明人： I·J·福斯特;T·C·威克利 -专利权人：艾利丹尼森公司
申请日： 2006-11-02 - 公布日： 2009-03-11 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：一种用于确定诸如处于标牌、标签、包裹、薄膜、纸箱、包装或这些中的一部分的里面或上面的RFID器件的远场性能的方法，其包括执行RFID器件的近场测试或测量，以及基于近场测试或测量的结果确定或预测远场性能。确定或预测远场性能可以涉及基于近场结果或测量计算远场性能的测量。被预测的远场性能可以包括多种性能因素中的任何一个，包括范围、灵敏度、频率性能、读出灵敏度、写入灵敏度、峰值操作频率和/或给定频带上的平均灵敏度。使用近场测试结果来预测远场性能可以允许使用小型测试设备、RFID器件的现场测试、快速测试和/或较低成本测试。
确定 rfid 器件性能方法

[发明专利]一种电磁干扰扫描装置及方法-CN200810007267.8有效
发明人：马光明;严勇 -专利权人：中兴通讯股份有限公司
申请日： 2008-02-21 - 公布日： 2008-07-30 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种电磁干扰扫描装置及方法，其中所述方法包括：通过近场电磁干扰强度扫描和远场电磁干扰强度测试的自动切换，获取被测试对象的近场扫描结果和远场测试结果；根据进场扫描结果、远场测试结果以及预先存储的标准测试结果本发明通过在近场电磁干扰强度扫描和远场电磁干扰强度测试之间进行自动快速切换，提高了电磁干扰源的定位效率。
一种电磁干扰扫描装置方法

[发明专利]一种在辐射近场区重建天线阵远场方向图的近场测试方法-CN201810092664.3有效
发明人：刘培钦;张志军;李越 -专利权人：清华大学
申请日： 2018-01-31 - 公布日： 2020-06-09 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：一种在辐射近场区重建天线阵远场方向图的近场测试方法，属于天线测量技术领域，通过对待测天线阵中各天线单元进行相位修正，在辐射近场区中给定距离下重建天线阵远场方向图，相位修正是指由天线阵远场方向图波束指向(DDA0001564159300000011.TIF" imgContent="drawing" imgFormat="TIFF" orientation="portrait" inline="no" />)和近场测试距离本发明直接在辐射近场区中测试距离为R的位置上重建出大规模MIMO天线阵的远场方向图，而不需要进行近场‑远场转换。之后即可在近场测试距离R上直接测得远场方向图。因此，不仅缩短了大规模MIMO天线阵的测试距离，还降低了近场测量系统的复杂度。
一种辐射场区重建天线阵方向近场测试方法

[发明专利]一种应用太赫兹缩比测量的等效远场RCS测试方法-CN202111649618.7有效
发明人：胡伟东 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G01S13/34 文献下载
摘要：本公开实施例中提供了一种应用太赫兹缩比测量的等效远场RCS测试方法，该方法包括：根据测试频率以及目标尺寸，计算目标的经典远场条件；结合测试场所的测试距离，计算合适的目标缩比比例及所述目标缩比比例下对应的测试频率；根据所述目标缩比比例，加工目标缩比模型；利用太赫兹超宽带雷达对缩比模型进行测试，得到缩比目标远场条件下的RCS；以及根据缩比原理，修正结果得到实际测试频率下的等效远场目标RCS。
一种应用赫兹测量等效 rcs 测试方法

[发明专利]一种偏离测试中心的天线测试方法-CN202210720795.8在审
发明人：夏鸿 -专利权人：深圳星航物连科学技术有限公司
申请日： 2022-06-23 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种偏离测试中心的天线测试方法，属于天线测试领域，通过将一组完备正交的标准天线近场方向图函数作为展开基，对偏离测试中心的被测天线进行线性展开，并求解得到展开系数，再利用展开系数和对应的标准天线的远场方向图函数进行线性合成，得到被测天线的远场方向图，进而完成偏离测试中心的天线测试，具体包含以下测试步骤：将标准天线安装到测试中心，对标准天线进行近场采样，得到标准天线的近场采样结果，同时通过近远场变换算法得到标准天线的远场方向图；将被测物安装到测试系统的静区内，得到被测物天线的近场采样结果，并利用标准天线的近场结果来展开被测天线的近场数据，得到展开系数矩阵；利用得到的展开系数矩阵和标准天线的远场方向图进行线性合成，得到被测物天线的远场方向图；本方案解决了中大型整机设备，天线中心无法对准测试中心的难题，可对静区内任意位置的天线进行测量。
一种偏离测试中心天线测试方法

[发明专利]一种运载火箭发射燃气流噪声监测系统-CN201210373030.8有效
发明人：陈劲松;贾延奎;曾玲芳;王明华;杭立杰 -专利权人：北京航天发射技术研究所;中国运载火箭技术研究院
申请日： 2012-09-29 - 公布日： 2014-04-09 - 主分类号： G01H17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种运载火箭发射燃气流噪声监测系统核心，该系统由近场噪声测试阵列装置和远场噪声测试阵列装置组成。近场、远场噪声测试阵列装置均均以运载火箭箭体为对称中，构建“匚”形噪声测试栅格网，依托“匚”形噪声测试栅格网安放系列、均布矩阵式噪声测试阵列。其中，近场“匚”形噪声测试栅格网以发射平台台面外边缘为轮廓，由竖直、均布安放于发射平台台面上的立杆组、水平、均布安放于台面立杆组上的横杆组构建而成。远场“匚”形噪声测试栅格网以包含发射平台、发射场导流槽进、出口为参考外轮廓尺寸，由竖直、均布安放于发射场坪上的立杆组、水平、均布安放于场坪立杆组上的横杆组构建而成。近场“匚”形噪声测试栅格网与远场“匚”形噪声测试栅格网相对安放，互为参照，互为补充。
一种运载火箭发射燃气噪声监测系统

[发明专利]双纤准直器的角度测试方法及测试系统-CN202111183510.3在审
发明人：刘志强;刘伟伟 -专利权人：昂纳信息技术（深圳）有限公司
申请日： 2021-10-11 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种双纤准直器的角度测试方法及测试系统，该方法包括：当测量面位于近场位置时，获取近场光斑坐标；当测量面位于远场位置时，获取远场光斑坐标；根据所述近场光斑坐标和所述远场光斑坐标判断所述双纤准直器与所述测量面是否垂直；若不垂直，根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述双纤准直器与所述测量面的偏移角度；根据所述偏移角度对所述双纤准直器进行角度补偿以使所述双纤准直器与所述测量面垂直；若垂直，根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述第一光纤和所述第二光纤投射的两束光束之间形成的双纤角度。通过本发明可以提高测试效率。
双纤准直器角度测试方法系统

[发明专利]一种毫米波频段天线谐波乱真辐射发射特征损耗修正方法-CN202211099073.1在审
发明人：孙美秋;刘喆;项道才;王酣;蔡利花 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2022-09-07 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种毫米波频段天线谐波乱真辐射发射特征损耗修正方法，该方法包括根据毫米波频段设备的远场测试环境参数和实际工作环境参数分别计算毫米波频段设备在干燥空气和水汽条件下，远场测试环境的特征损耗和实际工作环境的特征损耗；根据毫米波频段设备在远场测试环境的特征损耗和实际工作环境的特征损耗以及路径长度计算在远场测试环境和实际工作环境的大气特征损耗值；根据计算的远场测试环境和实际工作环境的大气特征损耗值，进一步计算毫米波频段设备天线谐波乱真辐射发射的大气特征损耗修正因数；根据修正因数及毫米波频段设备在远场测试环境测试得到的天线谐波乱真辐射发射结果计算得出毫米波频段设备的天线谐波乱真辐射发射修正结果。
一种毫米波频段天线谐波乱真辐射发射特征损耗修正方法

[发明专利]无线设备的射频性能测试方法及系统-CN202010075518.7有效
发明人：于伟;漆一宏;沈鹏辉 -专利权人：深圳市通用测试系统有限公司
申请日： 2020-01-22 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： H04B17/15 文献下载
摘要：本发明提出一种无线设备的射频性能测试方法及系统，无线设备包括至少一个被测天线，该方法通过获取被测天线的近场辐射方向图信息；根据被测天线的近场辐射方向图信息生成被测天线的远场辐射方向图信息；根据被测天线的远场辐射方向图信息以及无线信道模型生成吞吐率测试信号；以及将吞吐率测试信号馈入无线设备的接收机，以对无线设备进行测试。由此，即使天线测试距离无法满足远场条件，也能够实现根据在近场环境下获取的被测天线的近场辐射方向图信息，得到满足远场条件的被测天线的远场辐射方向图信息来进行无线设备的射频性能测试，提高无线设备的射频性能测试的准确性和可靠性
无线设备射频性能测试方法系统

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