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[发明专利]半导体参数测试仪器的测试探针的电阻测试方法-CN201210052007.9有效
发明人：范象泉 -专利权人：上海宏力半导体制造有限公司
申请日： 2012-03-01 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G01R27/14 文献下载
摘要：一种半导体参数测试仪器的测试探针的电阻测试方法，参数测试仪器至少包括第一测试探针、第二测试探针、第三测试探针和第四测试探针，测试仪器可以通过测试探针提供设定值大小的电流、电压或测量测试点的电压、电流，所述方法为把四个测试探针共同放在同一测试金属块上，然后进行以下两个步骤：设置第一测试探针提供第一电流、第一电压，第二测试探针、第三测试探针和第四测试探针分别设定电压为零，同时测试电流；设置第一测试探针提供第二电流、第二电压，第二测试探针设定电流为零并测试电压，第三测试探针和第四测试探针提供设定电压为零，同时测试电流。通过该方法，能够较快且精准的测量出多个测试探针的电阻值。
半导体参数测试仪器探针电阻方法

[实用新型]一种带状线谐振器测试仪的测试探针分离装置-CN201621342818.2有效
发明人：董彦辉;刘兆枫;李强;张立欣;刘立娜;武聪 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十六研究所
申请日： 2016-12-08 - 公布日： 2017-06-09 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种带状线器测试仪的测试探针分离装置，一种带状线谐振器测试仪的测试探针分离装置，包括带状线谐振器测试仪自带两支测试探针、测试探针调节座、两块测试探针延长板、固定板，两个测试探针各固定于一块测试探针延长板上，两块测试探针延长板分别固定于测试探针调节座上端部，固定测试探针的两个测试探针调节座相对固定于固定板上，测试探针尾部的连线与测试仪相连，技术效果是实验结果满足使用要求，防止了测试探针的不能调节以及结霜、
一种带状线谐振器测试仪测试探针分离装置

[发明专利]各向异性磁阻结构磁场强度检测装置-CN201310041892.5有效
发明人：时廷 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2013-02-01 - 公布日： 2017-03-29 - 主分类号： G01R33/09 文献下载
摘要：本发明提供了一种各向异性磁阻结构磁场强度检测装置，其包括矩形片电阻区域、第一连线、第二连线、第三连线、第四连线、第一测试探针接口、第二测试探针接口、第三测试探针接口、第四测试探针接口；第一测试探针接口通过第一连线连接至矩形片电阻区域；第二测试探针接口通过第二连线连接至矩形片电阻区域；第三测试探针接口通过第三连线连接至矩形片电阻区域；第四测试探针接口通过第四连线连接至矩形片电阻区域；第一测试探针接口位于矩形片电阻区域的一端，第四测试探针接口位于矩形片电阻区域的另一端，第二测试探针接口和第三测试探针接口位于同一侧；第二测试探针接口更靠近第一测试探针接口，第三测试探针接口更靠近第四测试探针接口。
各向异性磁阻结构磁场强度检测装置

[实用新型]一种测试半导体母头连接器的测试探针-CN202022278667.1有效
发明人：王子庆 -专利权人：四川锐坤电子技术有限公司
申请日： 2020-10-13 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型提供一种测试半导体母头连接器的测试探针，涉及挂架技术领域。本实用新型包括测试探针管，上述测试探针管的一端连接有用于信号传输的测试导柱，上述测试导柱与上述测试探针管伸缩配合，上述测试探针管的另一端连接有插入上述半导体母头连接器内的测试探针头，上述测试探针头呈扁平状，上述测试探针头靠近上述测试探针管端的环侧与上述半导体母头连接器的内侧相接，上述测试探针头的远离上述测试探针管的侧边呈弧形。本实用新型解决了目前所使用的半导体连接器测试探针找点精度差的问题。
一种测试半导体连接器探针

[发明专利]测试探针和制造测试探针的方法-CN201510172275.8有效
发明人： K.K.具 -专利权人：英飞凌科技股份有限公司
申请日： 2015-04-13 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明涉及测试探针和制造测试探针的方法。提供了一种用于测试芯片封装的测试探针，其中测试探针包括包含传导材料的测试探针主体；以及布置在测试探针主体的末端上并且包括碳纳米管的探针端部。
测试探针制造方法

[实用新型]一种用于静音开关导通测试的测试探针-CN202022378576.5有效
发明人：梁健明;许文龙;付红兵 -专利权人：苏州汇亿达光学科技有限公司
申请日： 2020-10-23 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于静音开关导通测试的测试探针，包括：测试探针为一细长的柱状结构，该柱状结构的一端设置测试探针头部，该柱状结构的中部设置测试探针针套，在测试探针针套的外部套有一测试探针卡环，在测试探针针套的内部设置有内部弹簧，内部弹簧的一端与测试探针头部接触。本实用新型解决了当前测试过程中，测试探针和下压探针的下压动作分别用两个执行机构控制，需要一适合设计要求的测试探针的问题。
一种用于静音开关测试探针

[实用新型]一种用于静音开关导通测试的针板装置-CN202022376639.3有效
发明人：梁健明;许文龙;付红兵 -专利权人：苏州汇亿达光学科技有限公司
申请日： 2020-10-23 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：一种用于静音开关导通测试的针板装置，包括：测试探针连接电路板、测试探针固定板和下压探针固定板，其中，下压探针固定板上设置多个穿过下压探针固定板的下压探针，测试探针固定板上设置多个穿过测试探针固定板的测试探针，每一个测试探针的一端与测试探针连接电路板进行焊接的固定连接，下压探针固定板设置于测试探针固定板上方，测试探针连接电路板通过铜柱固定安装在测试探针固定板的上方，即从上到下设置为：下压探针固定板、测试探针连接电路板和测试探针固定板本实用新型解决了当前测试过程中，测试探针和下压探针的下压动作分别用两个执行机构控制，需要一适合设计要求的针板装置的问题。
一种用于静音开关测试装置

[实用新型]一种用于静音开关测试的测试探针固定板-CN202022376594.X有效
发明人：梁健明;付红兵;梁栋 -专利权人：苏州汇亿达光学科技有限公司
申请日： 2020-10-23 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：一种用于静音开关测试的测试探针固定板，包括：试探针固定板为一基本矩形的板式结构，包括：下压探针过穿孔、测试探针固定孔和测试探针固定板导孔，板式结构中部设置多个下压探针过穿孔和多个测试探针固定孔，下压探针过穿孔的直径大于下压探针的直径；测试探针固定孔的直径与测试探针的直径相适应，使测试探针安装在测试探针固定板上；矩形板式结构的四个直角处向外设置四个端部，端部内设置四个测试探针固定板导孔，测试探针固定板导孔的直径与固定板导杆的直径相适应，使测试探针固定板沿固定板导杆上下运动。本实用新型解决了当前测试过程中，验证静音开关成品中弹片按压手感是否满足设计要求时，需要一适合设计要求的测试探针固定板的问题。
一种用于静音开关测试探针固定

[实用新型]测试产品正负极朝向正反的检测装置-CN201921918769.6有效
发明人：龙见学;孙源浩 -专利权人：昆山富士龙自动化有限公司
申请日： 2019-11-08 - 公布日： 2020-07-17 - 主分类号： G01R31/56 文献下载
摘要：该检测装置包括升降机构、连接板、正极测试探头、负极测试探头，所述连接板固定在升降机构的升降端，正极测试探头固定在连接板上，负极测试探头滑动连接在连接板上，连接板与正极测试探头之间连接有缓冲机构。本实用新型通过升降机构来控制正极测试探头和负极测试探头的升降。通过正极测试探头与负极测试探头贴合在产品上看是否导通来判断正负极。通过缓冲机构来避免正极测试探头与产品硬接触。
测试产品负极朝向正反检测装置

[发明专利]一种接入试探的控制处理方法-CN02131029.7有效
发明人：郑平方 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2002-09-24 - 公布日： 2004-03-31 - 主分类号： H04Q7/32 文献下载
摘要：本发明涉及计算机及通信领域中接入试探的控制处理方法。一种接入试探的控制处理方法，其特征在于设置一个阈值，并得到最大连续接入试探次数，通过比较连续接入试探计数器是否小于最大连续接入试探次数，来控制用户接入试探的次数。本发明利用概率估计方法，引入接入试探阻塞概率的概念，在保证一定连续接入试探机制控制效果的基础上，以合理的机制对相应的连续接入试探的次数加以限制，增加了系统设计的可靠性，使移动终端的资源合理有效得到利用。
一种接入试探控制处理方法

[发明专利]一种光伏汇流箱分流器测量板的测试装置-CN201510204241.2有效
发明人：王萌;胡明会;王献奎;杨晓光;李延青;张聪 -专利权人：许继集团有限公司;许昌许继风电科技有限公司;国家电网公司
申请日： 2015-04-27 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种光伏汇流箱分流器测量板的测试装置，包括底座、输入测试探针和输出测试探针，输入测试探针和输出测试探针竖直固定在底座上，输入测试探针的上端与待测量板输入端子底部接口配套插接，输出测试探针的上端与待测量板输出端子底部接口配套插接，输入测试探针和输出测试探针的下端连接测量导线，本发明的有益效果：本方案在底座上固定测试探针，测试探针连接测试导线，测试时将测量板插接在测试探针上，通电即可完成测试，提高了测试效率，同时该测试装置的结构简单
探针测量板输出测试输入测试测试探针测试装置插接底座光伏汇流箱底部接口分流器上端测试测试导线测试过程测试效率接触导线连接测量连接测试生产应用输出端子输入端子竖直固定双层底座下底座下端配套通电安置

[发明专利]阻抗测试探针组件-CN201610348108.9有效
发明人：黄韬 -专利权人：南京协辰电子科技有限公司
申请日： 2016-05-24 - 公布日： 2018-10-02 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明提供的阻抗测试探针组件，包括：至少两个由探针内导体和包覆在探针内导体外的屏蔽层构成的阻抗测试探针，及用于电连接两所述阻抗测试探针的导体结构；其中每两个阻抗测试探针组成一个阻抗测试探针对；每一阻抗测试探针的屏蔽层上均设有导电弹性元件，构成阻抗测试探针对的两个阻抗测试探针上的导电弹性元件在各自的弹力的作用下分别与同一所述导体结构紧密接触。本发明的阻抗测试探针组件，阻抗测试探针对的两个阻抗测试探针的屏蔽层之间通过导体结构实现良好的电连通，可有效避免高频信号失真，保证阻抗测试结果的准确性。
阻抗测试探针组件

[实用新型]阻抗测试探针组件-CN201620479498.9有效
发明人：黄韬 -专利权人：南京协辰电子科技有限公司
申请日： 2016-05-24 - 公布日： 2016-11-16 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本实用新型提供的阻抗测试探针组件，包括：至少两个由探针内导体和包覆在探针内导体外的屏蔽层构成的阻抗测试探针，及用于电连接两所述阻抗测试探针的导体结构；其中每两个阻抗测试探针组成一个阻抗测试探针对；每一阻抗测试探针的屏蔽层上均设有导电弹性元件，构成阻抗测试探针对的两个阻抗测试探针上的导电弹性元件在各自的弹力的作用下分别与同一所述导体结构紧密接触。本实用新型的阻抗测试探针组件，阻抗测试探针对的两个阻抗测试探针的屏蔽层之间通过导体结构实现良好的电连通，可有效避免高频信号失真，保证阻抗测试结果的准确性。
阻抗测试探针组件

[实用新型]一种Suns‑Voc测试装置-CN201620532885.4有效
发明人：李琰琪;张高洁;王栩生 -专利权人：苏州阿特斯阳光电力科技有限公司
申请日： 2016-06-03 - 公布日： 2016-10-26 - 主分类号： H02S50/10 文献下载
摘要：一种Suns‑Voc测试装置，包括测试平台，还包括至少一个测试探针排，每个测试探针排包括一导电基板，导电基板上设置有至少两根测试探针，各测试探针在同一直线上间隔布置；所述导电基板上测试探针分布方向的两端与所述测试平台之间设置有可拆卸连接结构本实用新型通过测试探针排测试每根栅线的电压，测试探针排上的多根测试探针同时对栅线上的多个点进行采样，测试结果更加可靠。
一种 suns voc 测试装置

[发明专利]一种用于充电接口接触电阻的标准检测量具-CN201910419095.3在审
发明人：徐平安;黄建芳;林国军 -专利权人：深圳巴斯巴科技发展有限公司
申请日： 2019-05-20 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于充电接口接触电阻的标准检测量具，包括第一测试探针以及设于第一测试探针内的第二测试探针，所述第一测试探针和第二测试探针之间设有绝缘套，所述第二测试探针的前端分别延伸出所述绝缘套和第一测试探针，所述第二测试探针的后端延伸出所述绝缘套，所述第二测试探针的前端外周设有弹性触指。
测试探针接触电阻绝缘套标准检测充电接口充电座量具工作效率内部端子直接测量延伸拆卸触指外周测试

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